Устройство для классификации полупроводниковых диодов

ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветсиииСоцмапмстмчесимиРеспублми и 960672(51).М. Кл, З 01 й 31/26 с присоединением заявкиРкударстеенный комитет СССР ао делам изебретеииЯ и отерцтиЯ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КЛАССИФИКАЦИИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ДИОДОВИзобретение относится к электроннойтехнике. По основному авт. св. % 443340 известно устройство, содержащее схему управления, схему ориентации, схему раз 5 грузки, измерительные схемы, дешифратор, триггеры и электромагниты блока сортировки, в котором схема ориентации с подключенным к ее входу резистором соединена через клеммы для подключения испытуемого диода на первой измерительной позиции с выходом генератора импульсов, вход которого подключен к схеме управления, другой вход схемы ориентации соединен с входом схемы разгрузки н со схемой управления, а выходы схемы ориентации через схемы переключения соединены с ключевыми элементамивы-, ход которых подключен к измерительным 2 о схемам, обеспечивает на первой позиции контроля определение положения диода относительно клемм, к которым он подключается. 2Информация о положении диода подается на схему ориентации, которая с помощью схемы переключения и ключевых элементов обеспечивает подключение испытуемого диода на последующих позициях измерения к измерительным схемам в нужной полярности, Каждая иэмерительная схема контролирует определенный параметр испытуемого диода н информация с нее через схему разгрузки, дешифратор и триггеры поступает на электромагниты блока сортировки, в результате чего производится классификация испытуемых диодов, перемешающихся с одной измерительной позиции на другую в непрерывном потоке, на грутг пы по каждому из параметров и нх сортировки 1.Недостатком известного устройства является низкая разбраковка надежности, так как не исключена возможность получения ложных результатов контроля за счет того, что схема ориентации одинаково работает как при неконтактнрованииМОИююлй Ва позиюя Оризнтацыи тюк и всиучае шлюченыя диода в обратном направлении, потому,что в обоих случаяхимпульс с генератора не цроходит насзсему ориентации. В результате этого. при неконтактыровании годного диода последний попадает в группу брака.Белью изобретения является повышение надежности разбраковки полупроводныковьпс диодов. 1 ОПоставленная цель достигается тем,что в устройство для классификации пролупроводниковых диодов, содержащеевхему управления, схему ориентации,схему разгрузки, измерительные схемы, 1 Вдешифратор, триггеры и электромагнитыблока сортировки, в котором схема орыентацыы с подключенным к ее входу резистором соединена через клеммы для подключения испытуемого диода на первой 29измерительной позиции с выходом генератора импульсов, вход:которого подключен в схеме управления, другой входсхемы ориентации соединен с входомсхемы разгрузки и со схемой управления, 2 Фа выходы схемы ориентации через схемыпереключения соединены с ключевымиэлементами, выход которых подключенк измерительным схемам,. введены дополнительные клеммы на первой измерительной позиции по одной на каждый вывод испытуемого диода и четырехвходовая логическая схема И, а генератор.импульсов снабжен дополнительным выхо,дом,. причем оба выхода генератора подключены к двум основным клеммам напервой измерительной позиции, с которыми соединены также два входа четырехвходовой схемы И, два других входа которой подключены к двум дополнительным клеммам, а ее выход соединен свходом схемы ориентации,На чертеже представлена блок-схемаустройства;. на которой изображены, генератор 1 импульсов,. схема 2 управления,четырехвходовая логическая схема И 3,схема 4 ориентации, схема 5 переключе.ния, схема разгрузки, состоящая из нескольких групп регистров сдвига 6-16-И, измерительные схемы 7, дешифра-тор 8 триггеры 9, электромагниты блока 10 сортировки, ключевые элементы11-14, испытуемые диоды 15-16, клеммы для подключения испытуемого диода(измерительные позиции) 17-22.Устройство работает следующим обЯрзм,Диоды, подлежащие контролю, последовательно проходят измерительные пой фзыцыи в непрерывном потоке с кратковременной остановкой, необходимой дляизмерения парамечрок. Количество измерительных позиций равно количествукощролируемых параметров диодов.Кроме того, устройство содержит дополнительно еше одну йервую) измерительную позицию, которая служит дляполучения информации о положении диодаС приходом диоца 15 на первую измерительную позицию (клеммы 17 - 20)по команде, идущей. от схем 2 управле-ния, с выхода генератора 1 импульсов нана клемму 17 поступает первый положительный импульс опроса, который приналичии контактирования диода 15 склеммами 17 - 20 проходит на все 4входа логической схемы И 3 и выделяется на ее входных сопротивлениях (непоказаны). Это вызывает появление навыходе логической схемы И 3 импульса,управляющего работой схемы 4 ориентации и схемы 5 переключения,В случае, когда диод оказываетсявключенным в обратном направлении(диод. 6), то при наличии контактырования диода 16, с клеммами 17 - 20 второй положительный импульс спроса с выхода генератора 1, начинающийся послеокончания первого импульса опроса, проходит на все 4 входа логической схемыИ 3. При этом на выходе схемы И,появляется соответствующий управляющий импульсВ случае неконтактирования диода 15(или 16) с любой ыз клемм 17 - 20сигнал с выхода логической схемы Иотсутствует.Информация о положении диода и наличии контактирования на первой группе измерительных контактов подается на входсхемы 4 орыентации,Количество, триггеров (не показано)в регистре сдвига схемы ориентации равно числу измерительных позиций плюстриггер, входы которого соединены свыходом схемы И 3 и который стоитпервым в регистре. В момент передвижения диода от.одной измерительной позиции к другой на другой вход схемы 4срыентации со схемы 2 управленыя поступает импульс сдвига, который переноситинформацию о йоложении диода от одноготрыггера регистра к другому.Каждый триггер регистра, кроме первого, управляет соответствующей схемой5 переключения, которая управляет ключевымы элементами 11-14, обеспечивающими ориентацию диода к моменту егоприхода на очередную, измерительную позицию, Ориентация осуществляется в момент движения диодов в непрерывном потоке,Информация о том, что диод не имеетконтакта с клвммами на первой измерительной позиции, также переходит отодной измерительной позиции к другой спомощью регистров сдвига, и выдается насхему управления, при этом измерительные схемы 7 не производят измерения,(клеммы 21 и 22) диод подлежит разгрузке. Схема 6 разгрузки состоит изнескольких групп регистров сдвига 6-1,. 6-2, их количество равно количеству измерительных схем 7, а количество регистров в каждой группе определяетсяколичеством подгрупп на которое раз-бивается диапазон каждо 1"о в отдельностиконтролируемого параметра. На входы регистров каждой группы поступает информация с одной из измерительных,схем 7.Первая группа регистров содержитстолько триггеров (не показано), сколько имеется измерителей, входы которых1соединены с соответствующими ключевыми элементами.Каждая последующая группа регистровсодержит на один триггер меньше предыдущей. Такое сочетание групп регистровсдвига необходимо для того чтобы вместе с движением диода от одной измерительной позиции к другой двигалесь информация о каждом контролируемом параметре диодов, и при поступлении диодана последнюю измерительную позициюна выходах последних триггеров будетинформация по всем контролируемымпараметрам диода. Эта информация подается на вход дешифратора 8, где производится классификация диодов по груп пам и запоминание с помощью триггеров 9, управляющих электромагнитами блока 10 сортировки. И случае отсутствия контакта междуклеммами 17-20 и диодом, последнийпроходит все измерительные позиции ипо команде со схемы управления выгру жается в отдельную группу неразбраковки.Таким образом, использование в устройстве для классификации полупроводниковых диодов новых элементов - двухдополнительных клемм и четырехвходовойлогической схемы И, а также снабжениегенератора импульсов дополнительнымвыходом, исключает возможность попарания годных диодов в брак при неконтакф тировании диода на позиции ориентации,что значительно повышает надежность(качество) разбраковки в условиях массового автоматизированного производства, когда наиболее реальны случаи не надежного контактирования.фор мула изобретения2 Устройство для классификации полупроводниковых диодов по авт. св.М 443340, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью повышения надежности разбраковки, в него введены допол нительные клеммы на первой измерительной позиции по одной на каждый вывод испытуемого диода и четырехвходовая логическая схема И, а генераторимпульсов снабжен дополнительным выл ходом, причем,оба выхода. генератораподключены к двум основным клеммамна первой измерительной позиции, скоторыми соединены также два входачетырехвходовой схемы И, два других 40 входа которой подключены к двум дополнительным клеммам, а ее выходсоединен с входом схемы ориентации.Источники информации,4% принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское свидетельство СССР М 443340, кл. 6 01 В 31/26, 1974.Коррек Н. П аз 7256/5 дписно нт", г, Ужгород, ул. Проектная Филиал ППП Тираж 717 По НИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 13035, Москва, Ж, Раушская наб., д.