Способ отверждения эпоксидного компаунда
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Изобретение относится к производству эпоксидных компаундов, применяемых для защиты и герметизации деталей, узлов и блоков радиоэлектронной аппаратуры.Цель изобретения - увеличение надежности изделий на основе эпоксидных компаундов.П р и м е р, Эпоксидный компаунд, 10 содержащий эпоксидиановую смолу ЭД, малеиновый ангидрид, наполнитель и ускоритель реакции, выдерживают равное время при охлаждении согласно указанным режимам. 15На фиг.1 показана зависимость процента выхода годных приборов, прошедших климатические испытания, от температуры выдержки компаунда при низкой температуре кривая 1 соответ ствует длительности выдержки 10 ч, кривая 2 - длительности выдержки16 ч, кривая 3 - длительности выдержки 24 ч, кривая.4 - длительности выдержки 48 ч; на фиг.2 - 25 зависимость процента выхода годных приборов,.прошедших климатические испытания, от длительности выдержки; кривая 1 соответствует температуре выдержки бО С, кривая 2 - темпера туре выдержки в С, кривая 3 -отемпературе выдержки -6 С.После указанной выдержки ком. паунд заливают в Формы корпуса прибора ГТ"905 и производят отверждение по ступенчатому режиму 80-165 чС .На опытных приборах проводят климатические испытания для оценки качества герметизации и механических характеристик. Климатические испыта ния состоят.из четырехкратной выдержки по 4 сут приборов в камере влаги (в парах воды) при 50 С, Послеиспытаний контролируются электрические параметры транзистора, характе ризующие влагоустойчивость и устойчивость к резкой смене температур. корпуса. Результаты испытаний показаны на фиг. 1 и 2, из которых видно,что оптимальный режим криолиза -температура не выше - 10 С в течениене менее 20 ч.Значение параметра ЭКМ ЭМ "з".2электрическихпотерь Диэлектрическаяпроницаемость на частоте 1 мГц, не более 4,8 Удельное объемное электричес"кое сопротивление, Ом см 10 - 15- 10 -101,195 0,2 Влагоемкостьпосле годовойвыдержки вводе, % Механическаяпрочность.,кг/см 234 218 Модуль Инга,кг/см 8,104 4 1, ОФ 60 10130 .1060 10130 1 ОТКЛР Результаты испытаний загерметизированных приборов приведены в табл. 2. Были проведены испытания на диодах 2 Д 212, 2 Д 106 и выпрямительных столбах 2 Ц 103, 2 Ц 111, 2 Ц 113 и получены положительные результаты. Тех" нологический выход годных приборов возрастает на 1-57., Параметры опытного компаунда, характеризующие его механические, химические и диэлектрйческие свойства в сравнении с известным компаундом ЭКМ гриведены в табл.1.Т а б л и ц а 11446657 Т а б ли ц а 2 Герметизирующийкомпаунд визделии Испытания на термоциклы, 7 брака Испытания по термаударам, Х брака ВыходгодныхХ П ступень60 87,5 ЭМ Формула изобретения П р и м е ч а н и е. ЭМ "э" - опытный компаунд с криолизом.ЭКМ " известный компаунд.ЭМ - идентичный по составу с опытнымкомпаундом, но не подвергнутыйкриоли зу .1Как следует из приведенных данных, отвердитель, при котором осуществляют приборы, загерметизированные эпок- ступенчатый нагрев и отверждение сидным компаундом, полученным по по эпоксидным группам и непредельным предлагаемому способу, более устой- связям, о т л и ч а ю щ и й с я чивы к внешним воздействиям, тем, что, с целью увеличения надежности изделий на основе эпоксидногоЗО компаунда, отверждение по непредельнымсвязям осуществляют, выдерживая комСпособ отверждения эпоксидного паунд перед ступенчатым нагревом прио компаунда, содержащего эпоксидиано- температуре ниже - 10 С в течение вревую смолу, наполнитель, пластификатор, мени, меньшего времени его жизни при инициатор и непредельный ангидридный 35 этой температуре.1446657 ос тавителль Б,Астапов авдо рект одписн оизводсгвенно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород Проек ктор В,Данко Техред М.Ходанич акаэ 6752/55 Тираж 746НК 1 ПИ Государственного комитета п113035, Москва, Жобретениям и открытиям приРаушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
4197625, 11.12.1986
ОРГАНИЗАЦИЯ ПЯ А-3350
КОПЫЛ НАДЕЖДА ВАСИЛЬЕВНА, ВОВЧУК ГАМШЕЙ БЕНЬЯМИНОВИЧ, ДЕНЕВИЧ ГРИГОРИЙ ЮДОВИЧ, ЕЖКОВА ИРИНА ВОЛЬФРАМОВНА, КРАМЕР РИТА ГРИГОРЬЕВНА, ЛИВШИЦ ДМИТРИЙ ЛЬВОВИЧ, РУЛЕВА ВАЛЕНТИНА ДМИТРИЕВНА, СВЕТАЧЕВА ВАЛЕНТИНА ДМИТРИЕВНА, СТОЛБОВ АНАТОЛИЙ МИХАЙЛОВИЧ, ЧЕРЕДНИЧЕНКО НАДЕЖДА АЛЕКСАНДРОВНА, ШИПОВНИКОВА НОННА ЛАЗАРЕВНА, ШИШОВ ЮРИЙ АРКАДЬЕВИЧ, ЗУЕВ СЕРГЕЙ ИГОРЕВИЧ, КОПЫЛ ВАСИЛИЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01B 19/00, H01B 3/40
Метки: компаунда, отверждения, эпоксидного
Опубликовано: 23.12.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1446657-sposob-otverzhdeniya-ehpoksidnogo-kompaunda.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ отверждения эпоксидного компаунда</a>
Устройство для испытаний скважинных приборов
Номер патента: 1002546
Опубликовано: 07.03.1983
Авторы: Бачманов, Козлов, Ломако, Рябинов, Сушинин, Цветков
МПК: E21B 47/00
Метки: испытаний, приборов, скважинных
...извес а являются сложность изкая надежность его Цель изобретения трукции и повышение овмещении климатичес еских испытаний.Указ анн ль что в устр е, камеру и агрегат соединенный с ком рой, в которой ус поршень, последни ней части рабочей на поршне имеются кого крепления ис а в верхней торцо камеры установлены элементы креплени достигается тем, содержащем рабочую ысокого давления, енсационной камеановлен плавающий установлен в нижкамеры, причем элементы для жест ытуемого прибора, ой части рабочей подпружиненныеиспытуемого при1002546 ИПИ Заказ 1486/5аж 601 Подписное ал ППП "Пате город, ул.Пр ная,водами нагрева и охлаждения рабочей среды камеры не показаны,Устройство работает следующим об;разом.В-камеру высокого давления 1 поме....
Прибор для определения пластичности и скорости отверждения пластических масс
Номер патента: 231883
Опубликовано: 15.05.1979
Авторы: Данилкин, Екатериничев, Канавец, Клименко, Миронов, Фетисов, Хольнев
МПК: G01N 11/00
Метки: масс, отверждения, пластических, пластичности, прибор, скорости
...в подшипниках8 и 9 посредством червячной передачи10 и электродвигателя 11. Устройстводля васпринимания осевого усилияпрессования выполнено в ниде упругого стержня 12, связанного шлицами13 и 14 и шарнирно опертого черезшаровые опоры 15 и 16 одним концомна штырь 4,а другим - на нижний стакан 7. Индукционный датчик содержитзакрепленную на нижнем стакане 7 катушку 17 и входящий в нее жестко связанный с верхним стаканом 5 сердечник18. На нижнем стакане 7 закреплено.токосъемное устройство 19, передающее сигнал на самописец 20,Работает прибор следующим образом.Испытываемая масса (образец 3)закладывается в пресс-форму 1 и эапрессовывается плунжером 2 в рабочийзазор, образованный стенками прессформы 1 и штырем 4,Не снимая давления...
Проходная камера для климатических испытаний полупроводниковых приборов
Номер патента: 565339
Опубликовано: 15.07.1977
МПК: H01L 21/66
Метки: испытаний, камера, климатических, полупроводниковых, приборов, проходная
...камера работает следующим образом,Транзисторы, уложенные в технологическую тару-спутники или без нее, поступают в течку питателя 1, затем в направляющую 3 механизма загрузки 2, проходят сквозь паз 7 неподвижной направляющей 6 и загружаются в паз 11 транопортирующего барабана накапителя 10. Приборы снизу удерживаются дисками (на чертеже не показаны).При заполнении паза 11 число запружаемых приборов контролируется фотоэлементами (на чертеже не показаны), механизм 2 перемещается на шаг, совмещая направляющие 3 и 4 с пазом 8 промежуточной направляющей б и пазом 12 барабана-накопителя 10.По заполнении паза 12 механизм 2,перемещается еще,на шаг, совмещая направляющие 4 и 5 с пазами 9 и 13. После заполнения трех радиально расположенных...
Устройство для климатических испытаний полупроводниковых приборов
Номер патента: 1018550
Опубликовано: 15.02.1991
МПК: H01L 21/66
Метки: испытаний, климатических, полупроводниковых, приборов
...в спутниках малых размеровпопадают из паза 40 магазипа загрузки 17 в паз 3 барабана 2, ИС в спутниках средних размеров иэ паза 41 магазина загрузки 1 в паэ 4 барабана2; ИС в спутниках больших размеровпопадают иэ и;.за 42 магазина загрузки 17 в паз 5 барабана:2,После заполнения на позиции за.грузки одного из пазов 3-5 барабана 2 приборами определенного типоразмера происходит поворот барабанана один шаг при помощи привода шагового вращения 54, и на позицию загрузки приходят следующие свободныепазы. Таким образом, по мере поворота, барабана 2 загруженные в его пазы 3-5 приборы перемещаются в зонуконтактирования, Время с момента загрузки прибора до подачи его на пози"цию контактирования равно времени выдержки приборов в устройстве для...
Устройство для климатических испытаний радиоэлектронных приборов
Номер патента: 885749
Опубликовано: 30.11.1981
Авторы: Домашев, Минахин, Мураткин, Фатеев, Якшин
МПК: F25D 3/10
Метки: испытаний, климатических, приборов, радиоэлектронных
...размещенной в обечайке 7, в нижней части которой установлена разъемная камера 8, Разъемная камера 8 с испытываемым изделием 9 защищена теплоизоляционным слоем 1 О, Причем полость разъемной камеры 8 выполнена по форме и размерам10 испытываемого изделия 9. Клемная панель 11 и каналы 12 служат для подключения испытываемого элемента к датчику температуры.Устройство работает следующим образом.Г 1 о результатам проведенных первичных климатических испытаний я сравнительному анализу предполагаемых причин отказа выявляется иэделие.или группа изделий, по вине которых аппаратура не вышла на ра бочий режим. После этого испытываемое изделие 9 помещают в разъемную камеру 8. Через клеммную панель 11 подключают термопару для контроля теМпературы на...
Предыдущий патент: Запоминающее устройство с коррекцией ошибок
Следующий патент: Устройство для компенсации погрешности измерительного трансформатора тока
Случайный патент: Ассоциативное запоминающее устройство