Способ геометрического нивелирования
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1439403
Автор: Лисицкий
Текст
19) (11) СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 51) СУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(46) 23.11.88. Бюл.У 43 . (71) Научно-исследовательский институт прикладной геодезии(56) Вшивков В.Ф. й др. Безреечный способ быстрого нивелирования.- Гео дезия и картография, 1980, У 1, с.27-28.Деймлих Ф. Геодезическое инструментоведение. М.: Недра, 1970, с.363Багротуни Г.В. и др. Справочник геодезиста. М.: Недра, 1966, с.617- 618, 629-630.(54) СПОСОБ ГЕОМЕТРИЧЕСКОГО НИВЕЛИРО ВАНИЯ(57) Изобретение относится к геодезическим измерениям и позволяет повысить производительность труда за счет ускорения процесса регистрации измеряемых величин. Визирную ось нивелира 4 перемещают по вертикали до совмещения сближайшим штрихом первой шкалы, фиксируемого регистратором 12. Затем наводят вертикальную ось на ближайший штрих второй шкалы, фиксируя новое положение оси. По величине вертикаль ного смещения оси декодируют отметки наблюдаемых штрихов. На нивелирной рейке штрихи второй шкалы смещены относительно смежных штрихов первой шкалы на отрезки, величина которых И соответствует коду смежных штрихов.С:- диапазон вертикального перемещения визирной оси нивели .ра;- расстояние между соседнимиштрихами первой шкалы;расстояние между соседнимиштрихами второй шкалы; - коэффициент, выбираемый взависимости от величины Йи длины рейки (числа штрихов) - вертикальное расстояние междудвумя смежными штрихами первой и второй шкал;номер пары смежных штриховпервой и второй шкал;вертикальное расстояние отпятки рейки до и -го штриха1первой шкалы;вертикальное расстояние отпятки рейки до и-го штрихавторой шкалы.пример, при 1 = 30 см отметки его, четвертого и пятого штрихов На треть Изобретение относится к геодезичесКим измерениям, в частности к определению превышений между точками.Цель изобретения - повышение произ5 фодительности труда за счет ускорения роцесса регистрации измеряемых величин.Предложенный способ осуществляется С помощью комплекта устройств.На фиг.1 изображена нивелирная рейа; на фиг.2 - измерительная часть омплекта, общий вид; на фиг.3 и 4- ринципиальные схемы нивелирования редложенным способом. 15Нивелирная рейка состоит из корпу " а 1, в котором закреплены первая кала 2 с постоянным расстоянием ежду штрихами и вторая шкала 3 с по " стоянным расстоянием между штрихами, Отличающимся от расстояния между дитрихами первой шкалы.Значения расстояний между штрихамн олжны соответствовать зависимостям25Д Ъ ш 77 1 9т = 1 с 1У первой шкалы 90; 120 и 150 см и при ш = 33 см отметки третьего, четвертого и пятого штрихов второй шкалыравны соответственно 99, 32 и165 см. Третий, четвертый и пятыйштрихи имеют смещение, равное соответственно 9 12 и 15 см, что и является кодом их отметок.Измерительная часть комплекта (Фиг.2 а) содержит нивелир 4, установленный на площадке 5, закрепленной наштанге 6 постоянной длины, перемещаемой по высоте в штативе 7 и закрепляемой зажимным винтом 8. На нивелиреустановлена насадка 9, на которойимеется винт 10 служащий для перемещения подвижных оптических элементовнасадки 9, вследствие чего осуществляется перемещение по высоте визирнойоси нивелира, проходящей через подвижное окно 11. Измеренные величиныперемещения визирной оси регистрируются на магнитном носителе с помощьюполевого регистратора 12 (например,известного).Возможно и другое, более простоерешение измерительной части комплекта(фиг.2 б), когда нивелир 4 устанавливают на площадке 5, закрепленной наштанге 6, перемещаемой по высоте вштативе 7, Штанга 6 снабжена шкалой13 и зубчатой рейкой 14, с помощьюкоторой вращением винта кремальеры 15осуществляется плавное перемещениенивелира по вертикали. Перемещениенивелира измеряется по шкале 13 с помощью фотоэлектрического преобразователя 16 и регистрируется регистратором 12.При нивелировании из середины штанга 6 с площадкой 5 не нужны и нивелир4 с насадкой 9 устанавливают на штативе 7 как обычно.Нивелирование осуществляют следую.щим образом,На одной из точек устанавливают,нивелирную рейку 1, а на другойнивелир 4 с насадкой 9 и регистратором 12 (фиг.3), После наведения нарейку визирную ось нивелира перемещаютпо вертикали до совмещения с ближайшимштрихом первой шкалы, Это положение ви-зирной оси автоматически фиксируетсяотсчетом Фотоэлектрического преобразователя и заносится регистратором натехнический носитель. Затем вертикальным перемещением визирной оси осуществляется наведение на ближайший(3) (4) (5) (б) 30 где г 314394 штрих второй шкалы и новое положение также автоматически фиксируется и регистрируется.В результате регистрируются два отсчета, соответствующие двум .положе 5 ниям визирной оси нивелира.Аналогичным образом можно выполнить наведение на смежные штрихи обеих шкал дальномерными нитями сетки нитей. По полученным отсчетам производится автоматическое вычисление (например, на микроЭВМ) расстояния от нивелира до рейки и превышения между нивелируемыми точками. 15Вычисления производятся в следующей последовательности: 1 иР - Ч+г,срЭЧ - Ч +г - гРсрс1 2 2 9 отсчет при наведении наштрих первой шкалы;отсчет при наведении наштрих второй шкалы; 034Ч - высота визирования на штрихпервой шкалы рейки;Р - высота инструмента.Превышение й вычисляют по формуле(5) при нивелировании из середины ипо формуле (6) при нивелированиивперед.1 Формула изобретения Способ геометрического нивелирования, при котором визирную ось нивелира перемещают по вертикали до ее совмещения со штрихами шкал нивелирной рейки и регистрируют высоту визирной оси, о т л и ч а ю щ и й с я тем что, с целью повышения производительности труда за счет ускорения процес са регистрации измеряемых величин, определяют величину вертикального смещения визирной оси нивелира при ее последовательном наведении на ближайший штрих первой шкалы и смежный с ним штрих второй шкалы нивелирной рейки, выполненной со смещенными штрихами второй шкалы относительно смежных штрихов первой шкалы на отрезки, длина которых соответствует коду отметок этих смежных штрихов, и по величине вертикального смещения визирной оси декодируют отметки наблюдаемых штрихов.1439403 атвее оставител екред 11,орректор В.Гирняк едактор ориз Тираж 68 Заказ 6066/ Подпис ВНИИПИ Государственного комитета СССР. по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/
СмотретьЗаявка
3833326, 28.12.1984
НАУЧНО-ИССЛЕДОВАТЕЛЬСКИЙ ИНСТИТУТ ПРИКЛАДНОЙ ГЕОДЕЗИИ
ЛИСИЦКИЙ ДМИТРИЙ ВИТАЛЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01C 5/00
Метки: геометрического, нивелирования
Опубликовано: 23.11.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1439403-sposob-geometricheskogo-nivelirovaniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ геометрического нивелирования</a>
Предыдущий патент: Устройство для бесконтактного измерения диаметров и перемещений изделий
Следующий патент: Устройство для определения угла наклона объекта
Случайный патент: Реактор для проведения процессов поликонденсации