Сканирующее устройство
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСГ 1 УБЛИН аю сггг Н 01 3 31/48, С 01 д 3/34 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ рг в ця ВгяОПИСАНИЕ ИЭОБРЕТЕНИ,.Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУг(71) Киевский ордена Ленина государственный университетим. Т. Г, Шевченко(56) 1. Авторское свидетельство СССРР 356482, кл. С 01 Л 3/34, 1970,2. Андреева Л,И. и др. Приставка кспектрографу ДФСдля осциллографической регистрации контуров спектральных линий с высоким временным разрешением. Приборы и техника эксперимента", У 5,1979, с. 267 (прототип).(54 )(57) СКАНИРУЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО,содержащее отклоняющую систему, апертурную пластину с вырезывающим отверстием и регистрирующий блок, вывод которого соединен с измерительнымблоком, отличающее сятем,что, с целью повышения точности измерений в широком диапазоне длительностей процесса, в него введены дополнительный регистрирующий блок,пиковый вольтметр, делитель напряжения и пороговый элемент, при этомапертурная пластина выполнена сдвумя одинаковыми вырезывающимиотверстиями при отношении расстояниямежду ними к размеру отверстий, равном 2-6, и за первым по направлениюсканирования отверстием установлендополнительный регистрирующий блок,вывод которого через последовательновключенные пиковый вольтметр и делитель напряжения соединен с первымвходом порогового элемента, второйвход которого соединен с выводомосновного регистрирующего блока, авыход порогового элемента соецинен сизмерительным блоком.Изобретение относится к электронной технике, в частности к устройствам для фотоэлектрического считывания пространственного распределения интенсивности излучения на выходе 5 спектральных приборов и преобразования его в анализируемый электричес- . кий сигнал.Известно сканирующее устройство, например, для измерения ширины контура спектральной линии, основанное на .фиксации с помощью двойного дифференцирования моментов времени, соответствующих .максимальной скорости изменения электрического сигналааналога распределения интенсивностиизлучения по профилю спектральнойлинииДанные устройства не обеспечиваютаприорной информации о параметрах 20контура и не могут быть использованыдля измерений в моноимпульсных процессах,Наиболее близким к предлагаемомуявляется сканирующее устройство, 5содержащее отклоняющую систему, апертурную пластину с вырезывающим отверстием и регистрирующий блок, выводкоторого соединен с измерительнымблокол, например, с осциллографом 1 2.1.30ЪНедо статком изве стно го устройстваявляется низкая точность измерений,характерная дпя осциллографическихметодов, а также трудность его использования для исследования моноимпупьсных процессов, когда параметрыконтура заранее неизвестны,Цель изобретения - повышение точности измерений в широком диапазонедлительностей процесса,40Указанная цель достигается тем,что в сканиру 1 ощее устройство, содержащее отклоняющую систему, апертурную пластину с вырезывающим отверстием и регистрирующий блок, вывод которого соединен с измерительнымблоком, введены дополнительный регистрирующий блок, пиковый вольтметр,делитель напряжения и пороговый элемент, при этом апертурная пластинафвыполнена с двумя одинаковыми вырезывающими отверстиями при отношениирасстояния между ними к размеруотверстий, равном 2"6, и за первымпо направлению сканирования отверстием установлен дополнительныйрегистрирующий блок, вывод которогочерез последовательно включенныепиковый вольтметр и делитель иапряжения соединен с первым входом порогового элемента, второй вход которого соединен с выводом основногорегистрирующего блока, а выход порогового элемента соединен с измерительным блоком.На чертеже показана схема сканирующего устройства, построенного наоснове диссектора.Диссектор устройства включаетфотокатод 1, систему 2 фокусировкии ускорения электронов, отклоняющуюсистему 3, апертурную пластину 4 спервым по направлению сканированияотверстием 5 и основным отверстием 6 соответственно, дополнительный 7 и основной 8 регистрирующиеблоки, в случае диссектора - электронные умножители, размещенныевнутри оболочки 9 диссектора.Выводы 10 и 11 дополнительногои основного электронных умножителейсоединены со схемой измерений, пред- .ставленной в варианте для трех парал. дельно работающих каналовВыход 10 дополнительного электронного уьа.ожителя 7 соединен черезпиковый вольтметр 12 и параллельновключенные делители 13 напряжения спороговыми элементами 14, которые,в свою очередь, включены между основным электронным умиожителем 8 и измерительными блоками 15. Параллельныеканалы отличаются лишь настройкой делителей 13 напряжения от пикового вольтметра 12, Схема может включать также второй пиковый вольтметр 16 и электронно-вычислительное устройство 17.Устройство работает следующим образом.В диссекторе воспринимаемый фотокатодом 1 сигнал от спектрального прибора преобразуется с помощьюсистемы 2 фокусировки и ускорения электронов в электронный пучок, сканируемый отклоняющей системой 3 по апертурной пластине 4 в направлении от ее первого отверстия 5 к основному отверстию 6. Размер этихотверстий и расстояние между ними выбирается иэ условия, чтобы к началу считывания отверстием 6 наиболее интенсивной части контура линии на первом отверстии 5 уже было зафиксировано максимальное значение амплитуды контура,. Таким образом, временное опережение д 1 считывания контура на отверстии 5 должно бытьдС Ъ о сп/2, где дс - максимальная ширина контура на йзмеряемых уровнях амплитуды, Выполнение этого условия необходимо для обеспечения адаптиэации уровня срабатывания пороговых элементов 14. С другой стороны необходимо, чтобы амплитудные значения контуров на выходах 1 О и 11 электронных умножителей 7 и 8 заметно не отличались друг от друга при измене 10 ниях процесса.Это соответствует условию, накладываемому на временное опережение, Ь Т 4 Т/4, где Т -период колебаний, соответствующий верхней частоте изменения амплитудного значения контура в исследуемом процессе. Из условий на временное опережение й В считывания сигнала и вытекает необходимое соотношение между размером а 20 отверстий апертурной пластины 4 в направлении сканирования и расстоянием Й между ними, а именно 2 4 й/а 4 6, Здесь нижний предел опредьляется предельной измеряемой 25 шириной контура (минимальное опереже. ние), а верхний предел - необходимой полосой пропускания при достаточно малом времени, за которое параметры процесса не успевают сильно изменить- ЗО ся.Таким образом, на выходах электронных умножителей формируются два близких по характеристикам сиг. - нала, В линии дополнительного умно- жителя 7 на выходе пикового вольтмет ра 12 устанавливается максимальное значение интенсивности в контуре линии (в преобразованном аналоговом виде). Делителем напряжения с помощью делителей 13 в заданном соотношении (например,З:5,1:2,2:5).на управляющих входах пороговых элементов 14 устанавливаются адаптизированные к амплитуде импульсов (контуров) уровни, на которых определяется его длительность, При этом адаптизация производится до прихода основной части импульса с выхода 11основного электронного умножителя 8.Далее с выходов каждого из пороговыхэлементов 4 снимается сигнал, длительность которого, измеряемая визмерительных блоках 15, соответствует ширине контура спектральнойлинии на заданном относительном уровне. Второй пиковой вольтметр 16 иэлектронно-вычислительное устройство17 могут быть использованы для последующей математической обработкирезультатов измерений,В диссекторе устройства реализован метод измерения однократных электрических импульсов на адаптизируемых пороговых элементах, причем необходимая для этого линия задержки выполнена непосредственно в диссекторе на электронном уровне. Это позволяет в большой степени устранить искажения импульсов и расширить диапазон измеряемых длительностей в одном устройстве. В целом устройство позволяет проводить измерения в моно- импульсных процессах при отсутствии априорной информации о параметрах контура высокой точностью в широком диапазоне верхних частот исследуемых процессов. Принцип работы устройства позволяет осуществлять измерения не только контуров спектральных линий, но и радиальных профилей интенсивностей излучения в трубке при развертывании изображения диссектором по пространственной координате, масс-спектров при развертывании анализатором масс-слектрометра по масфсам и другие подобные измерения.
СмотретьЗаявка
3261402, 17.03.1981
КИЕВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. Т. Г. ШЕВЧЕНКО
АНДРЕЕВА ЛИДИЯ ИВАНОВНА, БЕРКО ВЛАДИМИР ИОСИФОВИЧ, ГУЛЫЙ АЛЕКСАНДР ПАВЛОВИЧ, ЖОВТЯНСКИЙ ВИКТОР АНДРЕЕВИЧ, КАЙДАЛОВ СЕРГЕЙ АЛЕКСАНДРОВИЧ, ПЧЕЛОВ ЕВГЕНИЙ МИХАЙЛОВИЧ, СТЕПАНОВ БОРИС МИХАЙЛОВИЧ, ЧУТОВ ЮРИЙ ИВАНОВИЧ
МПК / Метки
МПК: H01J 31/48
Метки: сканирующее
Опубликовано: 07.05.1984
Код ссылки
<a href="https://patents.su/4-1091250-skaniruyushhee-ustrojjstvo.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Сканирующее устройство</a>
Предыдущий патент: Электронно-лучевая трубка
Следующий патент: Способ микроанализа гетерофазных объектов
Случайный патент: Полузамкнутая газотурбинная установка