Способ определения однородности изгиба по высоте монокристаллических пластин

Номер патента: 724999

Опубликовано: 30.03.1980

Авторы: Айзенберг, Румянцев, Ситников, Тунев

МПК: G01N 21/46

Метки: образца, однородности, оптической

...дополнительную децентрированную телескопическую си- стему, при этом отношение их диаметров соответствует коэффициенту увеличения этой системы, Вогнутое полупрозрачное зеркало 7 наносится на поверхность мениска 8. На выходе устройства имеется телескопическая система 9.Устройство работает следующим образом: истоЧнйк света 1 "освещает "Фочечйую диафрагму 2, от которй свет проходит в724999 4 Составитель К. Рогожинехред, А. Камышникова Корректор Е, Хмелева Редакт Заказ 357/2 Изд.220, Тираж 10,13 ПодписноеНГЩ Поиск Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 графия, пр. Сапунова, 2 3объектив коллиматора 3 и затем днфрагирует на кольцевом отверстии, образованном оправой зеркала 5 и...

Номер патента: 1490578

Опубликовано: 30.06.1989

Авторы: Вольчев, Лапин, Медведев, Олейник

МПК: G01N 3/32

Метки: вращающихся, изгибе, испытания, круговом, образцов, усталость

...что соответствует провороту 1-го отсчетного барабана 15 1 = 1 - и), нажимной элемент 16 через соответствующий двуплечий рычаг 18 замыкает контакты соответствующего микропереключателя 17, сигналы с которого поступают на блок 8 автотрансформаторов и электромагнит 19. Сигнал, поступающий на блок 8 автотрансформаторов, вызывает изменение величины напряжения, питающего электродвигатель 7 постоянного тока, что приводит к изменению частоты вращения образца 3, а следовательно и к изменению частоты приложения нагрузки, Сигнал, поступающий ца электромагнит 19, вызывает поворот диска 1 О на центральый угол между соседними упорами 11, что приводит к изменению натяжения динал 1 ометрической пружины 9 в соответствии с высотой очередыого упора 11, а...

Номер патента: 464815

Опубликовано: 25.03.1975

Авторы: Королюк, Рой

МПК: G01N 29/04

Метки: образцов, однородности, ультразвукового

...образца. По характеру, полученного распределения судят об однородности материала. Расстояние между контактами определяется требуемой,в каждом конкретном случае разрешающей способностью измерения.Современные методы напыления позволяют получать такие решетки с дискретностью до долей микрона. 20 Для расширения технологических возможностей контроля в казачестве раопределенного параметра используют акустоэлектрическую эд.с 1 возникающую в образце при прохождении через него ультразвуковой волны (явле,н ие а кустоэл ектр ич вского эффекта) . редмет пзоб ни инципиальная схема мето,да; на фиг. 2 - спределения акустолине образца, где а -На фиг. 1 дана,пконтроля, предлагаемогохарактерные кривые рэлектрической эд.с. по д Способ ультразвукового...

Номер патента: 665252

Опубликовано: 30.05.1979

Автор: Ахлынин

МПК: G01N 11/16

Метки: двумя, колебаний, крутильных, образцов, свободы, степенями

...которой помещены фильтры 10 и 11, предназначенные для выделения крутильных колебаний и поперечных, Колебания создают с помощью катушек 12 возбуждения.Устройство работает следующим образом, Испытываемому подвесу с тиглем катушками возбуждения 12 сообщаются крутильные колебания. Вращение тигля сопровождается изгибными и поперечными колебаниями, которые воздействуют на подвес, В последнем возникают деформации от крутильных и поперечных колебаний. Изгибные колебания при этом существенны лишь в точке подвеса и на используемый участок подвеса их влияние невелико, Отмеченные деформации подвеса 1 приводят к изменению сопротивления участка, входящего, например, в виде плеча в тензометрическую мостовую схему 9.Поскольку период следования...

Номер патента: 1216704

Опубликовано: 07.03.1986

Авторы: Звороно, Самодуров, Хандурина

МПК: G01N 3/20

Метки: изгиб, испытания, образцов, плоских

...ОУстройство для испытания на изгиб плоских образцов содержит корпус, выполненный в виде скобы 1, с крыш - кой 2, В корпусе 1 при помощи подшипников 3 и 4 установлены опоры, выпол пенные в виде соосных валов 5 и 6, оси вращения которых совпадают с осями соответствующих подшипников 3 и 4, На обращенных друг к другу торцах валов 5 и 6 выполнены соответст венно опорные площадки 7 и 8, предназначенные для размещения концсв испытуемого образца 9. При этом плоскости опорных площадок 7 и 8 проходят через оси вращения соответствуюсч щих валов 5 и 6. В крышке 2 выполнено направляющее отверстие 10, в котором пазмещено нагружающее приспособле;не выпол енное в виц упора предназначенного для взаимодаиствияиспытательной машиной (н покпза-...