Способ измерения деформаций

ZIP архив

Текст

ОП ИСАНИЕИЗОВРЕТЕН ИЯК АВТОР СКЬМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскикСоциалистическихРеспублик и 887922(53)М. Кл.01 В 11/16 с присоединением заявки М Ьеударетеапа 6 квинтет СССР ио двен кзебретеник и етерытнй1) Заявнтел ститут проблем механики АН ССС РМАЦИЙ 54) СПОСОБ ИЗМЕР чески деформиего излучениемфиксируют экстреы Допплера дляют поле кваэистаформулам: Сэтой целью периоди объект, зондируют рактерным точкам,ные значения частот й точки и определя ких деформаций по 32х -кЬЯ ф. ения являерений. Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к измере,нию деформаций оптическими методами.Известен способ измерения деформаций, заключающийся в том, что объект освеща-. кажд ют когерентным монохроматическим иэлу- ф тиче чением, регистрируют излучение фотопри емником и определяют деформации ЬОднако, этот способ обладает низкой точностью измерений, так как измеряется только одна компонента перемещений.1 ОНаиболее близким по технической суп- , ности является способ измерения деформаций, заключающийся в том, что.направляют на объект пучок когерентного излученииИ и регистрируют излучение:,оптическим гетеродином 123Основным недостатком этого способаявляется измерение деформаций в фикси,рованных точках, что не позволяет определять поле деформаций.Цепью данного иэобрететсяповышение точности измЮ

Смотреть

Заявка

2903130, 31.03.1980

ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ МЕХАНИКИ АН СССР

САЛГАНИК РАФАИЛ ЛЬВОВИЧ, РИНКЕВИЧЮС БРОНЮС СИМОВИЧ, ЧЕРСТВОВ ЕВГЕНИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ, МОХЕЛЬ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ, ТОЛКАЧЕВ АЛЕКСАНДР ВЛАДИМИРОВИЧ, СИДОРИН ЮРИЙ ВАСИЛЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

Опубликовано: 07.12.1981

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-887922-sposob-izmereniya-deformacijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения деформаций</a>

Похожие патенты