Способ измерения деформации объекта

(50 4 б 01 В 7 16 ВЕННЫИ КОМИТЕТ СССР ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТ ГОСУД А ПО ДЕЛ хЯРт;г 0 БРЕТЕН И ЛЬСТВ ОРСКОМЪ( СВ 97013/25-28.03.88. Бюл.12Институт прикладныхи математики АН УССФ. Чекурин1.781.2 (088.8)(21) 3 (22) 2 (46) 3 (71) ханики (72) В (53) 5 оснои деформ концентратор тения являет измерении не измерения е чувствительнь ствительного объект и ос перемещаюше измеряя изм вительного эл нагруженном дого положен распределени длины чувств блем медетельство СССР01 В 7/16, 1980,МЕРЕНИЯ ДЕФОРМА относится к измерительет быть использовано для градиентных полей одно(56) Авторское с1146543, кл. 6 (54) СПОСОБ И ЦИИ ОБЪЕКТА (57) Изобретение ной технике и мож измерения высок ации, например в окрестности ов напряжений. Целью изобреся повышение точности при однородной деформации путемраспределения. Для этого й элемент из тензо- и фоточувматериала устанавливают на вешают его последовательно йся полоской света. При этом, енение сопротивления чувстемента в нагруженном и не- состоянии объекта, для кажия полоски света определяют е деформации объекта вдоль ительного элемента. 1 ил.Изобретение относится к измерительнойтехнике и может быть использовано для измерения высокоградиентных полей однооснойдеформации, например, в окрестности концентраторов напряжений.Целью изобретения является повышениеточности при измерении неоднородной деформации путем измерения ее распределения.На чертеже изображена схема осуществления способа при помощи помещенного 10на об ьект чувствительного элемента 1 сэлектродами, освещаемого полоской света 3,Способ осуществляется следующим образом,На поверхность обьекта устанавливаютчувствительный элемент 1, изготовленный изполупроводникового тензо- и фоточувствительного материала в виде прямоугольнойпластины, направление максимальной тензочувствительности материала пластины совпадает с продольной осью пластины, еслинаправление деформации совпадает с направлением градиента деформации, или с поперечной осью, если направление деформации иее градиента взаимно перпендикулярны.Электроды 2 наносят на продольные боковые грани пластины, а пластину устанавливают на объект так, что направление максимальной тензочувствительности совпадает с направлением деформации, Измерения производят в два этапа, На первомэтапе, не нагружая объекта, освещаютпластину чувствительного элемента 1 у одного ее края полоской света 3 и измеряютсопротивление чувствительного элементамежду электродами 2. Параметры световогопотока подбирают так, чтобы сопротивление освещенной части чувствительного элемента было намного меньше, чем у неосвещенной части. цля этого используют источник света, максимум спектральной характеристики которого лежит в области поглощения используемого полупроводникового 40материала и увеличивают интенсивностьзадающего света до тех пор, пока сопротивление чувствительного элемента при освещении не станет значительно меньшим неосвещенной части чувствительного элемента. При этом полное сопротивление освещенного чувствительного элемента, котороескладывается из параллельно включенныхсопротивлений освещенной в неосвещеннойчастей, определяется в основном сопротивлением освещенной части пластины чувствительного элемента 1. Затем, не изменяясветового потока, перемещают световую полоску вдоль оси пластины чувствительногоэлемента 1 и измеряют зависимость сопротивления чувствительного элемента 1 Ко(х) от положения полоски света. На втором этапе нагружают объект и производят измерение зависимости К (х) сопротивления чувствительного элемента 1 от положения полоски света. Определяют относительное приращение сопротивления чувствительного элемента 1 для каждого поЙо(х) ложения полоски определяется деформацией Е(х) пластины чувствительного элемента 1 в месте освещения= К Е(х), где К - коэффициент тензочувствительности материала чувствительного элемента в направлении деформации (определенной по известной методике), С учетом полученных данных определяют распределение деформации объекта вдоль длины чувствительного элемента 1.формула изобретенияСпособ измерения деформации объекта, заключающийся в том, что на поверхности объекта устанавливают чувствительный элемент, изготовленный из полупроводникового тензо- и фоточувствительного материала, определяют его начальное сопротивление, одновременно с нагружением объекта производят засветку чувствительного элемента, вновь измеряют сопротивление и по изменению сопротивления определяют деформацию объекта, отличающийся тем, что, с целью повышения точности при измерении неоднородной деформации путем измерения ее распределения, чувствительный элемент изготавливают в виде прямоугольной пластины так, что направление максимальной тензочувствительности материала совпадает с продольной осью пластины, если направление деформации совпадает с направлением градиента деформации, или.с поперечной осью, если направление деформации и ее -градиента взаимно перпендикулярны, электроды наносят на продольных боковых гранях пластины, которую устанавливают на объект так, что направление максимальной тензочувствительности совпадает с направлением деформации, засветку проводят полоской света, ориентированной перпендикулярно электродам и после каждого этапа нагружения и замера сопротивления перемещают полоску света параллельно самой себе.Составитель Е. ЩелинаРедактор О. Спесивых Техред И. Верес Корректор М. Максимишинс иЗаказ 1119/36 Тираж 680 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4