Мохель

Номер патента: 887922

Опубликовано: 07.12.1981

Авторы: Мохель, Ринкевичюс, Салганик, Сидорин, Толкачев, Черствов

МПК: G01B 11/16

Метки: деформаций

...излучениемфиксируют экстреы Допплера дляют поле кваэистаформулам: Сэтой целью периоди объект, зондируют рактерным точкам,ные значения частот й точки и определя ких деформаций по 32х -кЬЯ ф. ения являерений. Изобретение относится к измерительной технике, а более конкретно к измере,нию деформаций оптическими методами.Известен способ измерения деформаций, заключающийся в том, что объект освеща-. кажд ют когерентным монохроматическим иэлу- ф тиче чением, регистрируют излучение фотопри емником и определяют деформации ЬОднако, этот способ обладает низкой точностью измерений, так как измеряется только одна компонента перемещений.1 ОНаиболее близким по технической суп- , ности является способ измерения деформаций, заключающийся в том,...