Способ определения показателя преломления металлов

Номер патента: 545857

Опубликовано: 05.02.1977

Автор: Зайнуллин

МПК: G01B 11/16, G01L 1/24

Метки: оптически, оптической, постоянной, чувствительного

...полос и определяют по ним оптическую постоянную материала 21,Однако эти способы не позволяют определять оптическую постоянную оптическичувствительного материала, который при пориал эбразца при полимеризации пережидкого состояния в твердое и одновререпляется с внутренней поверхностьюз затвердевшего оптически чувствительериала. В результате усадки полимегося материала на стыке колец вознитактное давление, от которого появапряжения и сэответствующая имполос интерференции в соединенных548857 радиус контакта образца с кольцом;наружный радиус кольца;контактное давление;коэффициент ПУассона образца;коэффициент Пуассона кольца.(1 Ю 2) 1 2 р 2н к рн-рн где ЭО Составитель В. ЕвстратовРедактор И. Бродская Техред Н. Андрейчук Корректор В....

Номер патента: 1582027

Опубликовано: 30.07.1990

Авторы: Правилов, Сидоров, Федоров, Шестаков, Шульпяков

МПК: G01J 1/50

Метки: вакуумной, излучения, интенсивности, источника, области, распределения, света, спектра, спектрального, ультрафиолетовой

..., (Ьотон/вспьппка) (3)п,опт(2 О ру Величины Яд(210 -предварительно определяют в специальных экспери" ментах.Операция 14. Производят операции6 и 8, облучают актинометр в течение вопт с или пп вспьппками, производят операции, аналогичные операции 4 по Формуле- М (210 - Дф) (4) 40 где Мя ( Я- Я;,) получается делением 1 А( Я; - Я;,) на время облучения или число вспьппек, определяют выход невымораживающихся продуктов фотолиза в области спектра45 Интенсивность излучения в спектральной области определяется по Формуле1,( А) 50) (5)Операция 15. Повторяют операции12-14 вплоть до границы прозрачностиокон кюветы.П р и м е р. Элеменгы устройствадля определения спектрального распределения интенсивности излучения в ВУФобласти спектра изображены на...

Номер патента: 1539608

Опубликовано: 30.01.1990

Авторы: Аверкин, Кармадонов, Скрышевский, Стриха, Толстой

МПК: G01N 21/25

Метки: двухлучевых, дифференциальных, приборах, пропускания, спектральных, спектров

...а вышедшийиз образца опорный пучок - по оптическому пути рабочего канала, регистрируют и сравнивают интенсивностиобоих прошедших через образец пучковв р-поляризованном свете на длиневолны поглощения продольных колебаний в слое при перемещении пластины.Перемещение осуществляют таким образом, чтобы углы направления пучков напластину оставались неизменными.Кроме того, можно измерять спектральную зависимость разности интенсивностей обоих прошедших через пластину пучков в р-поляризованном светепри неподвижной пластине. При этомрабочий пучок направляют на участокпластины без слоя, а опорный - научасток пластины со слоем. Угол направления пучков излучения при измерении тонких слабопоглощающих слоеввыбирают равным 45 100 А. С помощью двух...

Номер патента: 1213399

Опубликовано: 23.02.1986

Авторы: Алчагиров, Тешев

МПК: G01N 21/49

Метки: жидких, металлов, оптических, постоянных, сплавов

...для оптических измерений, так как этим обеспечивается постоянство уровня отражающей поверхности от образца к образцу, и оптическая ось установки не меняется.Уровень отражающей поверхности образца, т.е, расстояние 1, от днарабочей кюветы, задается объемом25мерного баллона.При собственно измерениях светот источника 1 излучения попадаетна входную щель монохроматора 2,проходит его, и на выходе становится монохроматическим, После модулятора 3, модулирующего луч с частотой, пройдя поляризаторлинейно поляризованный свет черезвходные окна термостата и рабочей 35 кюветы, расположенные нормальносветовому лучу, попадает на поверхность исследуемого металла под углом ц, Отраженный под тем же угломэллиптически поляризованный свет 40 после выходных...

Номер патента: 1317289

Опубликовано: 15.06.1987

Авторы: Аполицкий, Слесарев

МПК: G01J 1/52, G01J 3/40

Метки: анализе, визуальном, расшифровки, спектральном, спектров, эмиссионном

...16, вшсота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17, Между реб - ром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.Устройство работает следующимобразом, 5 фотопластинки 6. При этом спектры 50 55 5 10 15 20 25 30 35 40 Для проведения анализа спектрыисследуемых проб и эталонов фотографируются на Фотопластинках на расстоянии друг от друга несколькобольшим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительноменьше исследуемой фотопластинки 6и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых прирасшифровке спектров. На предметныйстолик 4 закрепляется исследуемаяфотопластинка р вверх эмульсионнымслоем, а...