Способ контроля качества изготовления оптического узла электронно-лучевого прибора

646382 Союз Советских Соцмалмстмчвских таеспублин(23) Приоритет 335/18 0 Х 9 всуМарстввнный квмвтвт сссР аю делам вэабрвтвнв и вткрыткй(53) У,Д,К 621 385 .832(088,8) л Дат бликования спи ния 05.О 2.7. Гуляев и А. М. Мешков / 1) Заявител 4) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КА ОПТИЧЕСКОГО УЗЛА ПРЦБОРАптическим меыть использосочленяемых ости входного й трубки, ачества оптиа визуальной альный экран й поверхносНедостатком такого способа является не- воэможность определения дефектов, локализованных в объеме контролируемой детали. При этом способе контроля дефекты, присущие системе подсветки, не отделяются от дефектов, имеющихся на поверхности контролируемой оптической детали.Известен также способ. контроля качества изготовления оптического узла электроннолучевого прибора, включающий вызуальный контроль дефектов, создающих паразитные сигналы на изображении в виде темных и светлых пятен 2.Способ основан на опенке дефектов косвенным путем на экране видеоконтрольного устройства (ВКУ) при освещении мищены 1 Изобретение относится к о тодам наблюдения и может б вано при контроле качества оптичеСких деталей, в частн узла передающей телевизионно Известен способ контроля к ческих деталей, основанный й оценке направляемого на специ отраженного от контролируемо ти пучка света), ЕСТВА ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОГО исследуемого электроннолучевого прибораравномерным светом,Недостатками этого способа являютсяневозможность предварительного контролядефектов оптического узла до его монтажав прибор и относительно низкая чувгтвител ьн ость.Цель изобретения - обеспечение предварительного контроля дефектов оптическогоузла до его монтажа в прибор и увеличениечувствительности,Указанная цель достигается тем, что визуальный контроль проводят с помощьюмикроскопа и системы подсветки, расположенных под углами О - 5 к осн входногоокна, но не равными между собой, путемфокусировки микроскопа в плоскость изображения передаваемого объекта с одновременной ее подсветкой и наблюдают дефект потени, отбрасываемой им на плоскость изображения.На фиг.показана схема расположенияэлементов при контроле деталей приборовпредлагаемым способом.Предположим, что контролируется оптический узел плюмбнкона. В этом случаеприменяют микроскопи систему подсветкииз источника света 2 и линзы 3. Луч света "проходит через противоореольный диск 4,имеющий непрозрачную ма новую цилиндрическую поверхность, клеевой слой 5, входное окно 6 плюмбикона, фотослой (мишень) 7. Детали 4 - 6 могут иметь дефекты 8, например йузыри.На фиг. 2 показан ход лучей, поясняющий появление теневых пятен различной формы.Предположим, что в клеевом слое 5 имеются дефекты: шаровой 9 и плоский 1 О пузыри.Микроскоп и система подсветки располагаются по отношению к плоскости входного окна таким образом, чтобы угол падения света и угол наблюдения были близкими, но не равными по величине для устра" " йейия "попадания в поле зрения визирногоприбора зеркальной составляющей (блика) при отражении света от наружной поверхности противоореольного диска, В данном случае угол наблюдения а, и угол подсветки а выбраны экспериментально с учетом величины переднего отрезка микроскопа, обеспечивающего резкое. изображение всей контролируемой поверхности при наблюдении ее под данным углом, и толщины противоореольного диска; нрн которой его боко.вая цилиндрическая поверхность минимально виньетирует наблюдаемую площадь,При подсветке возможные дефекты (пу зыри, посторонние предметы в клеевом слое)дают тени на мишени плюмбикона, которые хорошо просматриваются как темные пятна на освещенном фоне. Если технология изготовления электроннолучевого прибора такова, что фотослой (мишень) наносится в последною очередь, то в плоскость фокусировки можно временно ввести экран, на котором дефекты подсветки такие же, как и на мишени.Теневое"пятно в зависимости от размеров пузыря будет иметь форму либо темного кольца, либо темной точки, Если пузырь имеет форму шара, т. е. если его диаметр мень" "це или равен толщине клеевого слоя, тотень отнего на мишени будет видна в виде темной точки. Если пузырь имеет форму сплющенного шара, то теневое кольцо прое.цируется в виде темного кольца (фиг, 2),Предлагаемый способ контроля посравнению.с существующими обеспечивает:а) проведение предварительной отбраковки оптических узлов прибора до его сборки,что позволяет. получать готовые приборы без дефектов;б) более качественный контроль при низ"ких уровнях подсветки, не влияющих насветотехнические параметры прибора. На.пример, при контроле входного оптическогоузла плюмбикона при безопасных уровняхподсветки для материала его мишени ( " 400 лк) обеспечивается практичес 15 ки 00%-ная отбраковка.в) отбраковку оптических узлов по де.фектам независимо от того, где локализован этот дефект, поскольку дефекты создают структурную помеху в виде тени на изображении, проецируемой объективом телевизионной камеры,Формула изобретенияСпособ контроля качества изготовленияоптического узла электроннолучевого прибора, включающий визуальный контроль дефектов, создающих паразитные сигналы наизображении в виде темных и светлых пятен, отличающийся тем, что, с целью обеспезо чения предварительного контроля дефектовоптического узла до его монтажа в прибори увеличения чувствительности, . визуальный контроль проводят с помощью микроскопа и системы подсветки, расположенных35под угламн 10 - 15 к оси входного окна,не равными между собойпугем фокусировки мйкроскопа в плоскость изображений передаваемого объекта с одновременной ееподсветкой и наблюдают дефект по тени,отбрасываемой им на плоскостЬ изображе 40 нияИсточники информациипринятые во внимание при экспертизе1. Авторское свидетельство СССР257035, кл. Н 01 Х 9/20, 1967,2. Кривошевв М. И. Основы измеритель 45 ной техники. М., Связь, 1976, с. 96 - 97.Составител Техред О. Лу Тираж 922 Государственного делам изобретени осква, Ж, Ра Патентз, г. Уж