Способ моделирования структуры поликристаллов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
(яи 6 09 В 23,у 2 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯПРИ ГКНТ СССР,О Ьь,ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТО У СВИДЕТЕЛЬСТВУ ивер-,Изобретение относится к физике.твер- ление интенсивности прошедщего пучка дого.тела и может быть использовано при света.изучении структуры поликригталлов. Недостатком известного способа является невозможность определения степени 4Наиболее близким к предлагаемому по совпадения решеток зерен в границе, выяв- Я технической сути и достигаемому реэульта- ления наиболее реальных структур границ с 4 ту является способ моделирования структу- зерен и точного определения соответствуюры границ зерен, заключающийся в том щих им углов дезориентации, а также пол- ц что носители информации выполняют ввиде учения четкого иэображения всех дисков, а иэображение схемы решетки ато- возможных структур границ. мов вещества на них- в виде системы отвер- Цель изобретения - расширение функстнй, соответствующей определенной цнонлльныллолможностейпутемопределе- )ь кристаллографической плоскости, диски со- ния степени совпадения решеток зерен в р: вмещают до полного совпадения всех от- границе и соответствующих им углов дезверстий, механически непрерывно ориентации.поворачиваютодиндискотносительнодру- На фиг. 1 представлено схематически гого вокруг оси, перпендикулярной плоско- устройство для осуществления предлагае- сти диска; одновременно с вращением мого способа; на фиг. 2 - диаграмма, иллюпропускают через диски параллельный пу- стрирующая предлагаемый способ. чок света, направленный перпендикулярно В выточке обоймы 1 коаксиально распок плоскости дисков, и фиксируют распреде- ложены неподвижный 2 и подвижный 3 ди(61) 1651313(71) Харьковский государственный ун ситет им. А,М.Горького(56) Авторское свидетельство СССР М 1651313, кл. 6 09 В 23/26, 1987. (54) СПОСОБ МОДЕЛИРОВАНИЯ СТРУКТУРЫ ПОЛИКРИСТАЛЛОВ.(57) Изобретение относится к физике твердого тела и может быть использовано при . изучении структуры поликристаллов. Целью изобретения.является расширение функциональных возможностей путем определе. ния степени совпадения решеток и углов дезориентации. Пропускают пучок света через дисковые носители информации с отверстиями, моделирующими кристаллическую структуру материала, при равномерном вращении одного диска относительно другого и регистрируют интенсивность прошедшего света. Новым является фокусирование поверхности соприкасания дисков на поверхности регистратора и определение углов разориентации по зависимости интенсивности прошедщего пучка. света от угла поворота подвижного диска, 1 з,п,ф-лы.2 ил, 1727153ски со сквозными отверстиями, одно из которых находится в центре дисков, расположенными по схеме, совпадающей с расположением атомов в определенной кристаллической плоскости и имеющими равные диаметры, Подвижный диск 3 с помощью шестерни 4, укрепленной на нем, связан с двигателем 5, обеспечивающим постоянную скорость вращения подвижного диска,3 10 Над обоймой 1 с дисками 2 и 3 расположен источник 6 параллельного пучка света, Обойма 1 и источник 6 света расположены таким образом, что паралельный пучоксвета всегда направлен перпендикулярно ПЛОСКОСТИ ДИСКОВ.Между обоймой 1 и регистрирующим блоком 8 размещен фокусирующий элемент 7, позволяющий на экране регистрирующе 20 го устройства фиксировать четкую картину распределения интенсивности прошедшегопучка света без искажения, что осуществляется фокусировкой. на экран поверхностикасания дисков,Под обоймой 1 с дисками 2 и 3 разме-. 25 щен блок 8, регистрирующий распределение интенсивности прошедшего через диски пучка света и его интегральную интенсивность с помощью плоского фотоэле 30 35 диаграммную ленту Устройство работает следующим образом.В обойме 1 с выточкой закрепляют неподвижно диск 2.со сквозными отверстиями, одно из которых расположено в центре диска. Сверху на закрепленный в обойме неподвижный диск 2 устанавливают другой подвижный диск 3, предварительно закреп 40 ленный на шестерне 4 Диски 2 и 3 устанавливают таким образом, чтобы имело место полное совпадение всех отверстий, О чем свидетельствует максимальное значение интегральной интенсивности. 50 Направляют От источника 6 параллельньчй пучок света перпендикулярно плоскости дисков 2 и 3 и фиксируют картину распределения интенсивности прошедшего пучка света, обеспечивая перемещением фокусирующего устройства 7 относительно обоймы наиболее четкое изображение,Подвижный диск 3 вводят в зацепление с двигателем 5, одновременно включают лентопротяжное устройство самописца 55 мента.Величина интегральной интенсивностис помощью блока записи, состоящего изусилителя 9 постоянного тока и лентопротяжного самописца 10, записывается на и двигатель 5, вращающий подвижный диск 3.Фиксируют значение интегральной интенсивности прошедшего пучка света 1 на диаграммной ленте в зависимости от времени 1,Фотографируют картину распределения интенсивности прошедшего пучка света, соответствующую максимумам на кривой= 1(т), и определяют угол дезориентации.Угол дезориентации зеренв границе р (град,), соответствующий максимумам на зависимости = ф), определяют по формулер - " 360,где 1 - расстояние на диаграммной ленте от максимума, соответствующего полному совпадению отверстий (наибольшее значение 1) до максимума, соответствующего определенной структуре, мм;и - скорость вращения подвижного диска, об/мин;Ч - скорость перемещения диаграммной ленты, мм/мин.При измерении 1 с точностью + 1 мм, перемещении диаграммной ленты со скоростью М = 900 мм/мин и вращении подвижного диска со скоростью и = 1/300 об/мин угол р может быть определен с точностью + 0,5 с.На фиг. 2 приведена зависимость= 1(т). полученная при вращении подвижного диска со скоростью 1/300 об/мин; скорость . движения дйаграммной ленты 4 мм/мин. Схема размещения отверстий на диске соответствует схеме расположения атомов в плоскости.Для вращения подвижного диска использовали двигатель ДСМ 2 У, для записи кривой 1 = 1 с) - потенциометр КСП.В качестве фокусирующего устройства использован Фотообъектив "Индустар 55 у", для измерения интегральной интенсивности - фотоэлемент ФЗСС-У 10.По сравнению с известным предлагаемый способ позволяет по измерению интегральной интенсивности прошедшего пучка света 1 в зависимости от угла разворота дисков р определить степень совпадения решеток в границе в зависимости от угла дезориентации, выявить наиболее реальные структуры границ как соответствующие максимумам на кривой= ф), получив при этом четкое изображение этой структуры.1727153 0 Ю Ю Составитель Е. БадиянТехред ММоргентал Коррект Редакто нчако га Заказ 1280 ВНИИП Тираж Подписноесударственного комитета по.изобретениям и открытиям при 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5 Т ССС"Патент", г, Ужгород гарина, 10 Ф о р мул а и зоб рете н и я1. Способ моделирования структуры поликристаллов по авт,св. Ь 1651313, о т л ич а ю щ и й с я тем, что, с целью расширения функциональных воэможностей путем оп ределения степени совпадения решеток зерен в границе и соответствующих им углов дезориентации, определяют значения углов Производственно-иэдател ьский комб дезориентации по зависимости интегральной интенсивности прошедшего пучка света от угла поворота подвижного диска,2. Способ поп.1, отл и ча ю щи йс я тем, что, с целью повышения точности определения углов дезориентации, предварительно фокусируют плоскость соприкасания дисков на поверхности регистратора.
СмотретьЗаявка
4632394, 04.01.1989
ХАРЬКОВСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. А. М. ГОРЬКОГО
БАДИЯН ЕВГЕНИЙ ЕФИМОВИЧ, ТОНКОПРЯД АЛЛА ГРИГОРЬЕВНА
МПК / Метки
МПК: G09B 23/26
Метки: моделирования, поликристаллов, структуры
Опубликовано: 15.04.1992
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1727153-sposob-modelirovaniya-struktury-polikristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ моделирования структуры поликристаллов</a>
Предыдущий патент: Тренажер для обучения методами измерения характеристик кабельных линий связи
Следующий патент: Способ моделирования синдрома гипокоагуляции крови
Случайный патент: Прибор для измерения степени натяжения кож, растянутых на рамах