Фотографический способ определения относительной интенсивности электронных пучков

и 1 6715 7 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик) .ц. Кл.з Т 10 Государстееннын комите СССР по делам изобретенийА. ф. ФедотовИнститут геологии рудных месторождений, петрографии,логии и геохимии АН СССР ера(54) ФОТОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ ЭЛЕКТРОННЬ ПУЧКОВ2 способа состоит в том, ыть использован при электронных пучков,сширени ой интен вля етсятносителпучков.остигаеизводятрнение п обретения я змерения о ектронныхная цель д ование про торой поче Целью из диапазона и сивности эл Поставлен фотографир цией, при котся тем, что с экспози. ятна на фо,фф - г 1 сд Изобретение относится к области измерения относительной интенсивности электронного излучения и может быть использовано в электронографическом структурном анализе монокристаллов, 5В электронографическом структурном анализе для определения относительной интенсивности дифрагированных пучков используют метод марок почернений, полученных в кратных экспозициях (1. Точ ность этого метода находится в зависимости от коэффициента кратности проведенных экспозиций.Ближайшим техническим решением является фотографический способ определения относительной интенсивности электронных пучков, основанный на регистрации следа пучка электронов в виде пятен почернений фотоэмульсий с последующим фотометрированием 21,Недостаток этогочто он не может ббольших плотностях тоэмульсии достигает величины более 2, а относительную интенсивность электронных пучков определяют по изменению площадей пятен почернения.Определение площади пятна почернения,имеющего центральную симметрию, проводится по диаметру, который измеряют с помощью микрофотометра с постоянными размерами щели. Причем размеры микрофотометра выбираются с таким расчетом, чтобы длина (высота) щели были больше максимального диаметра пятна почернения, а ширина щели - меньше меньшего диаметра пятна почернения. В известном же способе измеряется плотность пятна по- чернения.На фиг. 1 приведена серия фотографийучастка электронограммы монокристалла минерала талька с кратными экспозициями, где 1 - неизменная интенсивность, 1 д - время экспозиции. По горизонтали внизу приведены индексы рефлексов;На фиг, 2 приведены графики изменениядиаметра различных рефлексов в зависимости от экспозиций (по оси Х - логарифмический масштаб);На фиг. 3 представлен обобщенныйграфик изменения диаметра от экспозиции25 30 35 Относительная интенсивность Экспозиции 181 1 21 7 161 Индексы рефлексов У/106 100 1 оиэй 0,41 0,62 0,51 0,84 0,34 0,50 0,31 0,57 1,75 1,12 1,47 0,48 1,98 1,50 2,07 1,27 50 19 42 3,1 73 37 100 27 02 04 06 08 02 04 06 08 0,88 0,94 0,87 0,98 0,83 0,90 0,77 0,91 0,69 0,82 0,70 0,94 0,62 0,72 0,57 0,77 0,93 0,54 0,89 0,16 1,14 0,82 1,30 0,69 0,57 0,730,61 0,90 0,50 0,63 0,45 0,68 0,56 0,30 0,55 0,07 0,75 0,50 0,93 0,41 0,82 0,90 0,81 0,97 0,75 0,83 0,69 0,86 1,29 0,80 1,15 0,30 1,50 1,11 1,65 0,96 5,84,45,551,86,355,356,84,9 0,36 0,18 0,39 0,06 0,50 0,31 0,68 0,27 К - коэффициент;сК - эффективный рефлекс. 3На фиг, 4 изображена схематически щель микрофотометра и положение пятна почернения для определения его диаметра, где д - диаметр пятна почернения, длина щели, Ь - ширина щели микрофотометра.На серии электронограмм (фиг, 1) наглядно представлено увеличение площади пятна с ростом экспозиции. Основным существенным признаком известных способов измерения относительной интенсивности электронных пучков является измерение плотности почернения под действием излучения. В предлагаемом способе определение относительной интенсивности электронных пучков ведут по изменению площади почернения фотоматериала под дей. ствием излучения. В случае рефлексов,имеющих центральную симметрию, площадь пятна почернения пропорциональна квадрату его диаметра. Поэтому практически возникает задача измерения диаметра пятна почернения. Для этого используется микрофотометр с постоянной длиной и шириной щели. Если щель длиной 1 перекрывается полностью непрозрачным участком с резкими границами диаметром д, то коэффициент пропускания К=(1 - с)/1 или, измерив величину пропускания на микрофотометре со стандартной щелью, можно определить эффективный диаметр рефлекса, имеющего нечеткие границы пропускания по минимальному коэффициенту дэфф= (1 - Й)1 (см. фиг. 4),По данным измерений построены графические зависимости с 8=(й) (фиг, 2) для восьми рефлексов различной интенсивности, по которым построен обобщенный график зависимости диаметра пятна почернения от экспозиции (фиг. 3). Относительная интенсивность определяется для каждого По измеренным таким способом диаметрам строят графики изменения диаметра в зависимости от экспозиции для различных рефлексов (фиг. 2). Построение обобщенного графика (фиг. 3) производят путем смещения по оси Х до совпадения общих участков кривых, показанных на фпг. 2, Относительную интенсивность рефлексов определяют по значениям диаметров пятен почернений и соответствующих им значенийу р Гок а Щ а, - 1 окУ;Щгде а - основание логарифмов соответствующее выбранной кратности экспозиций (в данном примере а=2),Пример. Определение относительной интенсивности рефлексов по электронограммам монокристалла талька,На фиг. 1 приведена серия фотографий участка электронограммы талька, снятая с экспозициями, обеспечивающими почернение фотоэмульсии больше 2, и с коэффициентом кратности экспозиций равным 2, Фотометрирование с целью определения эффективных диаметров пятен почернений проводится со щелью, имеющей размеры: длина щели 1 18 мм, ширина щели В 0,1 мм, при оптическом увеличении негатива микрофотометром в 6 раз. Размеры Жели, приведенные к плоскости негатива, при этом составляют 1 3 мм, В 0,015 мм, Длина щели определяется минимальным расстоянием между рефлексами 3,3 мм,Данные измерений и результатов сведены в таблицу,рефлекса относительно самого сильного по разности значений 1 од(Й) для соответствующих диаметров.40 П р и м ер. На электронограмме 48(фиг. 1) сэффоэ 0,93 мм и с 8 эффо 4 054 мм, По кривой (фиг. 3) этим диаметрам соответствуют значения логарифмов 1 од(Й)алоэ.671517аф е еггеФ ф ФгФ ЕЕъфеф О. ок о ог оо ог о юв ог 55,8, 1 од(Й)до 4 4,4, по разности логарифмов определяется отношение интенсивности рефлексов 1 ог/104=2" 8-й=2=2,64,Использование предлагаемого способа фотографического определения относительной интенсивности электронных пучков позволяет производить измерение относительной интенсивности электронных пучков повышенной энергии в дифракционных картинах, используемых в структурной кристаллохимии; упрощается процесс определения относительной интенсивности,Формула изобретения Фотографический способ определения относительной интенсивности электронных пучков, основанный на регистрации следа пучка электронов в виде пятен почернений фотоэмульсий с последующим фотометрированием, отличающийся тем, что, с целью расширения диапазона, фотографирование производят с экспозицией, при которой почернение пятна на фотоэмульсии достигает величины более 2, а относительную интенсивность электронных пучков определяют по изменению площадей пятен 1 О почернения,Ч Источники информации,принятые во внимание при экспертизе671517 га актор П. Горькова Техред А. Камышникова Корректор Н, федорова Типография, пр. Сапунова,аказ 1181/18 Изд,207ПО Поиск Государственного комитета113035, Москва, ЖТираж 719 ПодписноеСР по делам изобретений и открытий ушская наб., д. 4/5