Способ измерения температурного коэффициента линейного расширения материала

ЮЗ СОВГ ГСКИХЦИАЛИСТИЧЕСКИХСПУБЛИК Э . (Э 5)5 0 01 И 25/ ВТОРСКОМУ С ТЕЛ Ь СГВ У времен- Новосиприборы дл коэффициен атериалов.(54) СПОСОНОГО КОЭРАСШИРЕ ЕМПЕРАТ ИНЕЙ НО хней пластиной. 1 ил,ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМПРИ ГКНТ СССР(71) Московский авиационный инстСерго Орджоникидзе(56) Коронкевич В,П., Ханов Б,А. Соные лазерные интерферометры, -бирск: Наука, 1985, с. 182.Аматуни А.Н. Методы иопределения температурныхтов линейного расщирения мМ.: Стандарты, 1972, с. 58.Б. ИЗМЕРЕНИЯ ТФФИЦИЕНТА ЛНИЯ МАТЕРИАЛА Изобретение относится к линейным измерениям и может быть использовано для дилатометрических исследований материалов.Известен способ измарания тампаратурного коэффициента линейного расш 1 эе. ния (ТКЛР) материалов на прецизионном лазерном дилатометре, содержацем лазер. ный интерферэмер,.1 айкел.сана, орГ из отражателей которого чаэаз толкпель э ланавливается 14 э иссн,;уа 1 ый огзрозГ,р, подвергаемый зсраман,ау награву, Недо такам аоГэбэ я 1 вяеэа. аГ ад- мгэсть введа 11 иээраэи н ан ар: Гуров удлинениа тоги,вэГл.1, ча ,.аГ1111",ат по Бепасть 1 з 11 эен 4Наигэалее близким по Гак 1,4 ааоэ ауц" нос и к рад/а аемаму ;оса; валяет л снааоб измГ;рени 11 ГКЛР н,. кэ,.:эц 1 ао; ин(57) Изобретение касается линейных измерений.и может быть использовано для дилатометрических исследований материалов, Цель изобретения - упрощение процедуры изготовления образца за счет отказа от операции прецизионной обработки оснований, выполняемой для получения интерференцйонных полос требуемой конфигурации. Цель достигается тем, что образец размещают между двумя пластинами, причем верхняя пластина опирается на образец и две регулируемые опоры, выполненные из одинакового материала. Отсчет смещения полос производится через диафрагму, расположенную над точкой касания образца и верхней пластины и параллельную линии, соединяющей точки касания двух опор с терферометрическом дилатометре, собираемом по схеме Физо и включающем в себя вакуумируемьй термастат, две прозрачные клинавидные пластины, расщепитель пучка и источник монохроматического излучения (образец устанавливается на одну из пластнн и накрывается сверху другой). Недостаткам сгособа является необходимость 1 зготавлэния образца с малым допуском на отклонение угла между основаниями от м. данной вали ины (ЗП), Преизианнэ, обраоотка оснований требует бэоьцих затрат рее 4 и и высокой квалификаци изгатавиГа я. Пр 1 массовых измерен 4 к зто привод ,. т к с н и ж а н и ю ,1 х и э 0 1 з Г о 1 :". Г а л ы 4 ос Г и,Це 11 ьюзобретения лэлаэая у 1 гащениа пра арурь изготовления образца за ацат атгаэа ОГ ОПЕРаЦИИ ПРЕЦИЗИОННОЙ Обрбагки аГэ оснований, в 4 носняачаг для5 10 15 20 25 30 35 40 50 получения интерференционных полос требуемой конфигурации,Цель Достигается тем, что вместе с образцом между стеклянными пластинами до- ГОлнительно помещаОт две регулируемые ПО ВЫСОТЕ ОГОРЫ ИЭГОТОВЛЕННЫЕ ИЗ ОДНОГО материала тэк, чтобь верхняя пластина опиоэлась нэ образец и опорь, регулировкой высоты опор добиваются появления интерферен ио 4 ых полос требуемой конфигурации, э осчет смещения полос производят Относительно любой точки в области интер- ферецлонОГО поля, Оппгически сопряжен" ной с прямой линией, проходящей через точку касания образца и верхней пластины Гэрэллельно прямой, соединяющей гочки касания верхней пластины и регулируемых опор,На чертеке изобрэкено устройство для реализации способа.Устройство содержит источник 1 моно- хроматического излучения, коллимэтор 2, рэсщепитепь 3 пучка, клиновидные стеклянные пластины 4 и 5, регулируемые по высоте опоры б и 7, образец 8, вэкуумируемый термостэт 9, щелевидную диафрагму 10, рэсполэгэемую нэд точкой касания образца и верхней пластины лучи идут вертикально) параллельно прямой, соединяющей точки касания верхней пластины и опор. Измерение температурного удлинения образца производится следующим образом.РОГулировкой вьсоты Опор 6 и 7 ДобивзОтся того, чтобы интерференционные полосы обрели требуемую ширину и нап,веление, перпендикулярное диафрагме 10. Затем г;роизвадится нагрев интерферометра, при этом полосы, наблюдаемые в пределах диафрагмы, смещаются. Отсчет числа прошедших полос мокет выполняться ири помоци следящей системы, контроль температуры образца - при помощи термопэры,Поскольку удлинения регулируемых опор одинаковы, то смещения всех точек отрезка АВ, проведенного мысленно нэ нижней поверхности верхней пластины через точку ее касания с образцом параллельно прямой, проходящел через точки ее кэсэния с опорами будут при нагреве интерферометра одинаковыми и равными удлиненио образца, т,е, не зависящими от теплового Оэсширения Опор, Удлинение обрэзцэ Ь рэссчитывэется по числу прошедших полос и обычным способом;Я.Л =П, где А - длина волны излучения.Наиболее пригодным для предлагаемого способа являются образцы, имеющие острую либо закругленную вершину, в частности конус, пирамида, полушэр. Образцы, используемые в известном способе и имеющие три выступы на основаниях, так же могут быть исследованы предлагаемым способом. При этом необходимо так сдвинуть верхнюю пластину, чтобы она опиралась только на один из выступов обрэзца.Таким образом, по сравнению с известным предлагаемый способ может быть использован для исследований более широкого класса образцов, а также готовых иэделий; подготовка образцов связана с меньшими затратами, производительность измерений возрастает. Формула изобретения Способ измерения температурного кбзффициентэ линейного расширения материала (ТКЛР), заключающийся в том, что помещают образец с определенными геометрическими характеристиками между двумя стеклянными пластинами, освещают монохроматическим излучением, нагреваютобразец, производя контрольеготемпе/ратуры и отсчет интерференционных полос, по смещенио полос определяют ТКЛР, о тл и ч а ю щ и й с я тем, что, с целью упрощения процедуры изготовления образца за счет отказа от операции прецизионной обработки его оснований, выполняемой для получения интерференционных полос требуемой конфигурации, между пластинами дополнительно помещают две регулируемые по высоте опоры, изготовленные из одного материала так, чтобы верхняя пластина опиралась на образец и опоры, регулировкой высоты опор добиваются появления интерференционных полос требуемой конфигурации, а отсчет смещения полос производят относительно любой точки, принэдлежэщей области интерференционного поля, оптически сопряженной с прямой линией, проходящей через точку касания образца и верхней пластины параллельно прямой, соединяющей точки касания верхней пластины и регулируемых опор.Составитель В. Озол Тех е М.Мо гентал Редактор О, Хрипта р д Р Корректор 3. Лончако Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 Заказ 875 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж, Раушская наб., 4/5