154423
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 154423
Текст
154423 Класс б 01 п; 421 с, 34 вз 1. ,. (.ЭЗд;1 1 РффлЬ ГТ "л Вч г" 1 Р,ГИСАЮЕ ИЯ АВ 7 ОРОЯОМУ ЗОЬ одписная группа Я 17. Г. Лозинский и Г, Е, Вишневский ОМЕРНОСТЕЙВРАЗ ЦОВ ТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗУЧЕНИЯ ЗАК ДЕФОРМАЦИИ И РАЗРУШЕНИЯ 9713126вете Министров СССРзнаков ЛЪ 9 за 1963 г Заявлено 27 февраля 1961 г. за Лз Гделам изобретений н открытий при С Б:оллетепе изобретений и товарных в (омптет нопублнковано Известпы устройства для изучения закономерностей деформации и разрушения образцов, например, листовых конструкционных пластмасс, подвергаемых одностороннему высокотемпературному нагреву в воздушной среде или защитной атмосфере, при нагружении на растяяение, изгиб или сяатие, снабженные системой для тензометрического измерения нагрузки и деформации образцов, а также кинокамерой для регистрации процессов деформации и разрушения их.Описываемое устройство для изменения температуры на поверхности образцов во время их испытания по заданной программе снабжено открытой электрической печью, автоматически перемещаемой по нормали к образцу или от него, Для получения точного момента начали проводимого испытания при скоростном одностороннем нагреве устройство может быть снабжено подвижным водоохлаядаемым шибером для экранирования открытой зоны печи.На чертеяе схематически изображено описываемое устройство, Предлагаемое устройство для изучения закономерностей деформации и разрушения образцов состоит из механизма 1 нагруяепия образца 2; открытой электрической печи 3, перемещающейся по направляющим 4 и связанной рычагом б через редуктор б с электродвигателем 7; подгпжного водоохлаядаемого шибера 8, расположенного между образцом и печь 1 о; потенцпометров 9 и 10, соединенных с термопарами 11 и 12, укрепленными а образце; системы 13 для тензометрического измерения нагрузки и деформации образца; программирующего блока 14; регулятора 15; кинокамеры 1 б осветителя 17.154423В процессе испытаний образец подвергается одностороннему нагреву, при котором температура на его поверхности 18 изменяется по заранее заданной программе, и одновременному нагружению, вызывающему в нем деформацию изгиба. Величина этой деформации измеряется по прогибу упругой стальной пластины 19, вызываемому воздействием укрепленного на тяге 20 конуса 21 на упорный палец 22 пластины 19. Сигналы от тензометричгского датчика 23 сопротивления, наклеенного на пластину 19, поступают к электронному регистрирующему мосту 24, а от датчика 2 б сопротивления системы 1 З - к мосту 2 б,Исследование кинетики деформации и разрушения образца производится путем киносъемки его боковой поверхности 27. Для создания в случае необходимости вокруг образца газовой среды он помещается в открытую сверху камеру 28, в которую подается газ.Описываемое устройство, снабженное механизмом нагружения образца, создающим деформацию растяжения или сжатия, позволяет моделировать условия работы листовых конструкционных материалов, упрощает методику проведения испытаний и повышает надежность результатов.Предмет изобретения1. Устройство для изучения закономерностей деформации и разрушения образцов, например, листовых конструкционных пластмасс, подвергаемых одностороннему высокотемпературному нагреву в воздушной среде или защитной атмосфере, при нагружении на растяжение, изгиб или сжатие, снабженное системой для тензометрического измерения нагрузки и деформации образцов, а также кинокамерой для регистрации процессов деформации и разрушения их, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью изменения температуры на поверхности образцов во время их испытания по заданной программе, оно снабжено открытой электрической печью, авомаически перемещаемой по нормали к ооразцу или от него,2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что, с целью получения точноо момента начала проводимого испытания при скоростном одностороннем нагреве, оно снабжено подвижным водоохлаждаемым шибером для экранирования открытой зоны печи.154423 едактор Т. В. Данилова Техред Т, П. Курилко Корректор Т. Хромце Типография, пр, Сапунова Подп, к печ. 6/Ч 11 - 63 г.гк. 1740(12Ц 1-1 ИИПИ ГосударственногоМоск формат бум. 70 Х 108Тирани 975митета по делам изобр Центр, пр, Серова, д. 4 Объем 0,26 над. л. Цена 4 коп. нпй и открытий СССР
СмотретьЗаявка
699713
МПК / Метки
МПК: G01N 17/00, G01N 3/18
Метки: 154423
Опубликовано: 01.01.1963
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-154423-154423.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">154423</a>
Предыдущий патент: 154422
Следующий патент: 154425
Случайный патент: Устройство для поверки электроизмерительных приборов