Способ определения показателя преломления сцинтилляционных кристаллов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1478104
Автор: Кравченко
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 4 СО ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИПРИ ГКНТ СССР ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕА ВТОРСКОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТВУ(57) Изобретческой физик техни ние относи предназначен тение относится к технич е и предназначено для оп оэффициентов преломления ционных кристаллов.изобретения является упр ба определения показате ия сцинтилляционных кри Изоброй физиеления сцинтиллЦелью ние спос пр еломле ля сталл.1 показана схема распростзлучения в плоскопараллельилляционном кристалле; нао же, в кристалле клиновид На фираненияном сцинфиг.2ной формь пособ включает следующую последо п = -ательность операциИсследуемый сциазец устанавливаюта фотопленку полиростью, а точечныйения устанавливают лляционный об непосредственноованной поверхисточник т-излунад сцинтилляци ния иссле нии, прчто(088.8)е свидетС 01 Ис вид етел ьС 01 И 2 ПРЕДЕЛЕНИЯ ПСКАЗАТЕЛЯЦИНТИЛЛЯЦИОННЫХ КРИСТАЛопределения коэффициентов преломления сцинтилляционных кристаллов.Цель изобретения - упрощение способаопределения, Способ заключается втом, что в качестве источника излучения используют источник -фотонов,исследуемый сцинтилляционный образецустанавливают полированной поверхностью непосредственно на фотопленку,на которой получают негативное изображение вышедшего из образца излучения в виде круга, измеряют радиусполученного круга и показатель преломления и определяют по формулеи= Ггг 1 /г,где г - радиус круга, ии;1 - расстояние от источника. -излучения до фотопленки, мм, 2 ил. онным образцом по его центру. Облучают сцинтилляционный образец руизлучением. При этом продольное излучение выходит из исследуемого сцинтилляционного кристалла с углом раскрытия, ограниченным углами М полного внутреннего отражения (ПВО) для данного образца. Следовательно, на фотопленке получим негативное изображение вьппедпего из образца света сцинтилляций. Согласно закону преломлениявыходе света из твердого тела н где и - показатель преломл дуемого образца. Из геометрических постро веденных на фиг.1, следует478104 Фиг с известными способами, Пля его реализации требуется только наличиет-источника и фотопленки. Способ нетребует наладки и юстировки сложныхоптических систем и временных затрат,с этим связанных не требует вспомогательной аппаратуры и энергозатрати применым в любых условиях эксплуатации. Конечный результат (значениевеличины показателя преломления) независит от энергии источника т-излу"чения и от расстояния от т-источникадо фотопленки. Использование точечного источника т-излучения обеспечивает возможность выхода у-квантов в растворе углао",:75 . Величина этого угла значительно превосходит величину углов ПВО измеряемых сцинтилляционных кристаллов ( 33 ). Кроме того, точечный ис- . точник -излучения обеспечивает возможность определения показателя преломления сцинтилляционных кристаллов по образцам малых размеров. Формула изот ретенияСпособ определения показателя преломления сцинтилляционных кристаллов,включающий облучение исследуемогообразца пучком излучения, фотографирование излучения, вышедшего из об"разца, о т л и ч а ю щ и й с я тем,что с целью упрощения, облучают 10 исследуемый образец, имеющий однуполированную поверхность, "излучением точечного источника с угловой расходимостью, превышающей угол полноговнутреннего отражения этого образца, 15 а фотографируют вышедшее из образцаизлучение на фотопленку, установленную в контакте с полированной поверхностью образца, измеряют на полученном фотоснимке радиус г вышедшего из.2 О образца излучения в виде круга и определяют показатель преломления иобразца по формулеЯ+ 225 где 1 - расстояние от источника излучения до фотопленки,
СмотретьЗаявка
4259005, 09.06.1987
НАУЧНО-ПРОИЗВОДСТВЕННОЕ ОБЪЕДИНЕНИЕ "МОНОКРИСТАЛЛРЕАКТИВ"
КРАВЧЕНКО НИКОЛАЙ ГРИГОРЬЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 21/41
Метки: кристаллов, показателя, преломления, сцинтилляционных
Опубликовано: 07.05.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1478104-sposob-opredeleniya-pokazatelya-prelomleniya-scintillyacionnykh-kristallov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения показателя преломления сцинтилляционных кристаллов</a>
Устройство для смены образцов в жидкостном сцинтилляционном счетчике
Номер патента: 1166027
Опубликовано: 07.07.1985
Авторы: Коробченко, Прокофьев
МПК: G01T 7/08
Метки: жидкостном, образцов, смены, сцинтилляционном, счетчике
...для предотвращения попадания света в камеру измерений, ходовая гайка, ходовой винт и полый цилиндр 50 представляют собой простые тела вращения, изготовляемые точением.На Фиг,1 изображено ус 1 ройство для смены образцов в жидкостном сцинтилляционном счетчике; на фиг,2 - то 55 же, вид сбоку.Устройство содержит камеру 1 изме" рения с Фотоэлектронными умножителя 027ми, окруженную защитной оболочкой 2,стол 3 для установки образца, втулку 4, пружину 5, затвор 6, плиту 7, ходовой винт .8, плиту 9, ходовую гайку 10, ролики 11, полый цилиндр 12, замки 13. Измеряемый образец находится во флаконе 14. На боковой проекции устройства фиг.2 отображены вертикальные направляющие 15, переключатели 16 и 17, микродвигатель 18 и редуктор 19.Камера 1...
Устройство для смены образцов в жидкостном сцинтилляционном счетчике
Номер патента: 1166028
Опубликовано: 07.07.1985
Авторы: Коробченко, Прокофьев
МПК: G01T 1/204, G01T 7/08
Метки: жидкостном, образцов, смены, сцинтилляционном, счетчике
...выступы затвора 3 образуют с кольцевыми проточками плиты 2 светонепроницаемый лабиринт. Полый цилиндр 4 закреплен снизу внутри .отверстия затвора 3, образуя с ним непрерывный канал, удерживающий флакон 19 на всем пути его доставки в камеру 21 измерения. Ходовой винт 5 установлен между плитой 2 и основанием 16 и предназначен для передачи движения ходовой гайке 6, которая навинчена на ходовой винт 5, образуя с ним винтовую пару. Ходовая гайка 6 предназначена для переносазакрепленного на ней стола из одного отверстия плиты 2 в другое и для пе" редачи вращения затвооч 3 чеоеэ полый цилиндр 4, который подвижно свя- . зывает ее с затвором 3 через отверстия в ходовой гайке 6. На торцах ходовой гайки 6 установлены два пальца 7 с...
Интерференционный способ измерения термических изменений показателя преломления стекол и кристаллов и прибор для его осуществления
Номер патента: 144304
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Левин
МПК: G01B 9/02, G01N 21/45
Метки: изменений, интерференционный, кристаллов, показателя, преломления, прибор, стекол, термических
...стороны объектива 5, также в его фокальной плоскости, устанавливается ирис-диафрагма 7. Источник монохроматического света 8, имеющий несколько линий точно известных длин волн (например, кадмиевая, ртутная или гейслерова лампа) изображается конденсором 9 на ирис-диафрагму 7 в плоскость последней. Полупрозрачная пластинка 10 направляет пучок света на объектив 5. Благодаря этому на столик прибора будет падать параллельный пучок лучей. Объектив 11, установленный вблизи ирис-диафрагмы 12, дает в своей фокальной плоскости, совпадающей с коллектором 13, изображения трех систем интерференционных полос, т. е. от термометра и образцов на преломление и расширение. Это интерференционное поле с помощью двух ромбических призм 14 и 15, а также зеркал...
Устройство для определения показателя преломления образца произвольной формы
Номер патента: 1427248
Опубликовано: 30.09.1988
Автор: Бродский
МПК: G01N 21/41
Метки: образца, показателя, преломления, произвольной, формы
...ОАП 12. ерное давление;ция газа (пара) при20 С и длине волнь ния= 589 нм; с - коэффициент сжимаемости газа (пара).Большинство оптических материалов имеет и, = 1,4-1,8, и для их иммерсирования нужно иметь пар, у которого и ь 1,32 или и1,86 соответственно при давлении 50 или 300 атм. Этим требованиям соответствует бенэол СБН, у которого о = 1,81210 , а критические температура.Т и давление Р составляют 561,6 К и 47,7 атм. Дпя бензола согласно (1) а приведенное давлениежается формулой Из таблицы видно, что посредством изменения Р бензола в пределах от 50 до220 атм можно достичь иммерсирования всех используемых в оптическом приборостроении материалов. Если длина волны излучения ъс (ъъЭ интервал давлений, соответствующих иммерсированию,...
Устройство для измерения индикатрисы источника излучения и рассеяния образцов при воздействии на них пучков излучения
Номер патента: 1770771
Опубликовано: 23.10.1992
Авторы: Калантарян, Кононенко, Муратов, Сторижко
Метки: воздействии, излучения, индикатрисы, источника, них, образцов, пучков, рассеяния
...для измерения излучения на определенной длине волны 4 и с заданной поляризацией Ро (см. фиг.1), Угол, под которым пучок излучения 2 падает на исследуемую поверхность образца, определяется как угол между нормалью 30 к этой1770771 40 поверхности в точке пересечения осей 2 (14), 11,16 и 17 и осью пучка 2, и обозначается , Направление, по которому световод принимает излучение от образца, характеризуется двумя углами аиф. Угол а - угол 5 между проекцией 31 нормали 30 в плоскости, проходящей через оси 17 и 2, и осью 17. Угол ф - угол между осями 1 б и 11. Пучок 2 направляется под углом у на исследуемую поверхность образца. Полученное в резуль тате этого электромагнитное излучение в направлении, характеризуемом углами а и 3, проходит...
Предыдущий патент: Способ определения коэффициента трения жидких синтетических смазочных материалов в условиях упругогидродинамического контакта элементов узла трения
Следующий патент: Способ измерения постоянной холла листовых материалов
Случайный патент: Способ определения мест нагрева элементов конструкций электрических машин или аппаратов