Способ электромагнитного измерения толщины покрытий
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1434238
Авторы: Антонов, Владов, Дегтярев, Татарников
Текст
(51) ИСАНИЕВТОРСНОМУ Сви ЕТЕНИ ЕТЕЛЬСТВУ ни СУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(56) Авторское свидетельство СССРУ 1155844, кл. С 01 В 7/06, 1985,Неразрушающий контроль металлови иэделий: Справочник/Под ред,Г.С,Самойловича. - М.: Машинострое-,е, 1976, с, 197-201.(54) СПОСОБ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ.(57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может ать использовано для измерения толщины двухслойных электропроводящих объектов. Цель изобретения - измерение толщины каждого из слоев тонких двухслойных неферромагнитных электропроводящих объектов, один иэ слоев которого по сравнению с другим - слабопроводящий, достигается путем измерения затуха 8014342 ния электромагнитного поля с помощьюразомкнутой магнитной цепи с контролируемым объектом в воздушном промежутке,На контролируемом участкеразмещают электромагнитный преобразователь с П-образным магнитопроводом. С противоположной стороны контролируемого участка устанавливаютФерромагнитное тело и замыкают иммагнитную цепь магнитопровода. Поизмеренному магнитному сопротивлению Кц в системе Ферромагнитное тело -магнитопровод определяют суммарную толщину Т слоев. Иэменяюч попериодическому. низкочастотному закону зазор Ь между Ферромагнитным те- жлом и поверхностью контролируемогообъекта, одновременно плавно увеличи- ЮФвают частоту тока, питающего электро- (магнитный преобразователь, Фиксируют граничную частоту Е при которойвыходной сигнал преобразователя независит от вариации зазора Ь, и понему с помощью градуировочнай кривойопределяют толщину,У слоя с большейудельной электрической проводимостью. ВФЬ2 ил. ЬРИзобретение Отт 1 Оситс к неразрушающему контролю и може быть использовано для измерения 7011 щины двухслойных электропрогодящт в :.;. Объектов.Цель изобретения и",;1 ерение 1 олщинЫ КаждОГО ИЗ Слотсв Тонтдд;. ДВук .слойных неферро.1 агнитных Объектов,.ОДИН ИЗ СЛОЕВ КОТОРОГО ГО СВЯВНЕНИЮДругим слаб Опр О в Ол я 1 щ 17 т п утятт ИЗМЕрЕНИя Затуканття Э 11 Е:,;.О,1 ЯГНИТ 11 ОГО поля с помощью разомкну,Ой магнитной цепи с кантролируемьв 1 бъектом Ввоздушном промежутР:еНа фИГН 2 тО 1"ЯЗЯВ 11 ГР тДУИРО НОЧНЫЕ ЗЯВИСттМОТ/ т 1 т 1-,т,;у,.тПРИ ИЗМЕОЕНИВПредлагае;,;.ыт 1 с;то, Об 1 еал 11 зуетст 1следующим образам,.ЦЯ Кот 1 тролттт)уетттОМ ттнт т" Т Вст З 1 тР цща 10 т злетт;т 1 т Ома Гкетныт:1 1.,. е Обр ЯзовеТЕЛЬ С Г-Образ 11 ЫМ Мат,т,"днтОПВОВОДОМС ПроТИВОПОЛОжнОЙ Сторо:Ът КОНТРОЛИРУЕМОГО УтЯСТКЯ УСТЯНЯВ;.;НВЯЮт фЕРРО:МаГНт 1 ТНОЕ ТЕЛО И ЗЯМЫКЯВТ ИУ МЯГНИТную цепь И-Образного ма; нитопрОВОДЯ,ИЗМЕрявт МЯГНИТНОЕ Соттр:лТИВЛЕНИЕКВ систеМе МЯГНИТОПРО:.тРД " фЕРРО-.магнитное тело и по предварительнополученной грядукровочной харяктериСТИКЕ Б = т: т "1 ) О 11 РЕДЕЛтттттт СУМГтат)НУ 10толщину 1 слоеВ Объе 1 та (4 - , - ,ЗЯТЕМ РЗКЕ 1 тЯЮт ПО ПЕРНО;"таЕСКО 1 ттнизкочастотному закону .:азор меж,":уйвррОМаГНИТНЫ 1 тЕлОМ;:; 1 ОВ т в .ХНОСтт,ттконтролируемого Объект;0 птновремет 1-.НО ППЯВ 1 О Увтлт 1 ЧИ" Р 1 тт 1 СГОТУт 1питающего электр Ом гни". И 1 й по е О ОзовятельПри этом ГлуОиня Г 1 ООникноВЕНИН ЗлдКТРОт 1 ЯГГИТНО 1 .; 1; ОЛ 11 Е 1 тттЕ 4 Орывно уменьшается и В О ноннам зависит от 1 Олпти 11 т 1 слоя т,рттт,тлтт угтст 1 ь -ной эцто йт 01 ттт(л Котт П" О т 1 тит то ТЬтО,ОПОЕДЕЧЕт 11 ОГЯдт 1.ттт нот; т О;.т тОтР тт 7 мен Якие .3 я зоря метт,тт .,т, О;фял Р нътт 1 тьрттелом и т ОттО 1 лтОеттт Об 1 ттт Ром це приводит к изменению выходного сигна,ла электромагнитного преобразователя.Фиксируя граничную частоту Г, с помощью предварительно полученной градуировочной зависимости Г гЕ (4,где ст, - толщина слоя с большейудельной электрической проводимостью,определяют величину с(фиг . 2) . Знаясуммарную толщину Т, определяют такжетолщину д, слабопроводящего слояс" = Т -стт,Формула изобретенияСпособ электромагнитного измерениятолщины покрытий, заключающийся втом, что на контролируемом участкеразмещают электромагнитный преобразователь с П-образным магнитопроводоми измеряют изменение магнитного сопротивления преобразователя, о т л ич а ю щ ч й с я тем, что, с цельюизмерения толщины каждого из слоевтонких двухслойных неферромагнитныхобъектов, один из слоев которого посравнению с другим - слабопроводящий,предварительно с противоположной стороны контролируемого .участка уста-.навливают ферромагнитное тело и замыкают им магнитную цепь П-образного1магнитопровоца, по измеренному значению магнитного сопротивления определяют. суммарную толщину слоев, изменяют по периодическому низкочастотному закону зазор между ферромагнитным телом и поверхностью контролируемого объекта, плавно увеличивают ча ."стоту тока, питающего электромагнитный преобразователь, фиксируют граничную частоту тока, при которойизменение зазора не влияет на выходной сигнал электромагнитного преобра"зователя, и по полученной граничнойчастоте определяют толщину слоя сбольшей электропроводностью,аж 68 1)30 Про ственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород ектн Заказ 5542/41ВЕИИПИ Государственногоделам изобретенийоеква, Ж, Рауш Подписноомитета СССРоткрытийая наб д, 45
СмотретьЗаявка
3992444, 02.10.1985
ОРЕНБУРГСКИЙ ПОЛИТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
АНТОНОВ ИГОРЬ НИКОЛАЕВИЧ, ДЕГТЯРЕВ ВЯЧЕСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ, ВЛАДОВ ЮРИЙ РАФАИЛОВИЧ, ТАТАРНИКОВ АЛЕКСЕЙ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Метки: покрытий, толщины, электромагнитного
Опубликовано: 30.10.1988
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1434238-sposob-ehlektromagnitnogo-izmereniya-tolshhiny-pokrytijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ электромагнитного измерения толщины покрытий</a>
Предыдущий патент: Устройство для определения наличия металла
Следующий патент: Преобразователь толщины диэлектрической пластины в интервал времени
Случайный патент: Установка для лазерной маркировки пищевых продуктов