Номер патента: 1430920

Автор: Сороко

ZIP архив

Текст

, 8,)р , Металлическое остр оение , 1 983 ,к сперисится х ч ментар льзова в техаблюденияЦельм, чтобышуму в дл ьси ся в игнал ОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬ(57) Изобретение отнментальной физике элтиц и может быть испнике трековых детектоследов частиц в фотоизобретения заключаувелиЧить отношение Бюл. М 38ый институт ядерных и др , Оптико-механи-.- М , : Машиностр оение ,при наблюдении и считывании следов.Микроскоп включает источник 1 колли-,мированного пучка света, первое зеркало 2 в форме конуса, второе зеркал3 с аксиально-симметричной отражающеповерхностью и с разрушающей в видепараболы, иммерсионную ванну 4,объектив 5, окуляр 6, Сущность изобретения заключается в том, что поверхность второго зеркала 3 выполнена с образующей в виде параболы, афокусировка света от источника 1освещения осуществлена в окружность,а не в точку посредством выбора определенного фокусного расстоянияэтого зеркала в зависимости от среднего расстояния от второго зеркаладо оптической оси микроскопа, оттолщины ядерной фотоэмульсии и высоты этого зеркала вдоль оптическойоси микроскопа, 1 ил,Изобретение относится к экспериментальной физике элементарных частиц и может быть использовано в техникетрековых детекторов при исследовании свойств короткоживущих частиц,Цель изобретения - повышение отношения сигнала к шуму при наблюденииследов частиц, идущих параллельноеоптической оси микроскопа, путем 10изменения конструкции второго зеркала с аксиально симметричной отражаю"щей поверхностью,На чертеже схематично изображенпредлагаемый микроскоп, 15Микроскоп, преимущественнб длянаблюдения следов частиц в ядернойфотоэмульсии (ЯФЭ), содержит источник 1 коллимированного .пучка света,первое зеркало 2 в форме конуса, 20второе зеркало 3 с аксиально-симметричной отражающей поверхностьюи с образующей в виде параболы,иммерсионную ванну 4, объектив. 5 иокуляр 6. 25Параллельный пучок света из источника 1 коллимированного пучка света падает на коническое зеркало 2и преобразуется вторым зеркалом 3в систему лучей света, которые проходят через протяженную область наоптической оси высотой Ь и далеефокусируются в окружность, котораярасполагается над иммерсионной ванной4. Лучи света, дифрагированные наследе частиц, идущем параллельно оптической оси и попавшем в освещеннуюобласть, захватываются объективом 5с уменьшенной апертурой, Благодаряэтому увеличенное изображение указанного следа частицы рассматривается при помощи окуляра 6 на всю толщину слоя МЭ.Микроскоп работает следующим образом. 45ЯФЭ устанавливают на иммерсионнуюванну 4 слоем вниз так, что междуслоем ЯФЭ и иммерсионной жидкостьюобразуется оптический контакт. Включают источник 1 коллимированногопучка света. Зеркала 2 и 3 вместе симмерсионной ванной 4 формируют область с высокой плотностью освещенности в виде цилиндра высотой Ь, Еслислед частицы, идущий параллельно оп- .тической оси, попадает в освещеннуюобласть, то он виден на всю глубинупри помощи объектива 5 и окуляра 6с высокой эфективностьюч Для того, чтобы освещенная область в форме цилиндра имела заданную глубину Ь, необходимо, чтобы образующая второго зеркала имела вид параболы, а фокусное расстояние параболыКНГ = -- где К - среднее расстояниеН-Ьот второго зеркала до оптической оси микроскопа, 11 - толщина слоя ЯФЭ, Н - высота второго зеркала вдоль оптической оси микроскопа. Кроме того, надо уменьшить апертуру объектине л Ла величины е, " 2,/Ь, где Ъ, - средняя длина волны источника коллимированного пучка света, который должен быть полихроматическим, чтобы достигаемое повышение отношения сигнала к шуму не ухудшалось нежелательными когерентными эффектами. Для , = 0,5 мкм, Ь = 200 мкм, Ы. = О, 1, Только при соблюдении условия уменьшения апертуры объектива 5 до Ы, = 0,1 след частицы, идущей параллельно оптической оси микроско. - па, виден на всю глубину, Результирующее разрешение микроскопа равно диаметру цилиндра освещенной области, который может быть равным 1 мкм.П р и м е р. Первое зеркало в виде конуса имеет высоту 10 мм и угол конусности 90 . Среднее расстояние от второго зеркала до оптической оси К = 40 мм, высота второго зеркала Н = 10 мм, Фокусное расстояние параболы - образующей второго зеркала системы освещения й = 40,8 мм. Первое и второе зеркала системы освещения изготавливают из,металла методом прецизионного алмазного точения.Формула изобретенияМикроскоп, преимущественно для наблюдения следов частиц в ядерной фотоэмульсии, содержащий последовательно расположенные вдоль оптической оси микроскопа источник коллимированного пучка света, первое зеркало в форме конуса и второе зеркало с аксиально-симметричной отражающей поверхностью, иммерсионную ванну, объектив и окуляр, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения отношения сигнала к шуму при наблюдении следов частиц, идущих парал-. лельно оптической оси микроскопа,1430920 где К - среднее расстояние от второго зеркала до оптической оси микроскопа; второе зеркало с аксиально-симметричной отражающей поверхностью выполнено с образующей в виде параболы, фокусное расстояние которой Е выбрано из условияКНН-Ь 1Ьтолщина ядерной фотоэмульсии;высота второго зеркала вдольоптической оси микроскопа. Составитель А, ШадринРедакторЛ, Пчолинская Техред Л.Олийнык Корректор О, Кравцова Заказ 5341/49 Тираж 522 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий113035, Москва, Ж, Раушская наб д, 4/5 Производственно-полиграфическое предприятие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4

Смотреть

Заявка

4215528, 24.03.1987

ОБЪЕДИНЕННЫЙ ИНСТИТУТ ЯДЕРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

СОРОКО ЛЕВ МАРКОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01T 5/10

Метки: микроскоп

Опубликовано: 15.10.1988

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1430920-mikroskop.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Микроскоп</a>

Похожие патенты