Устройство для измерения динамических характеристик материалов с цилиндрическими магнитными доменами

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯДИНАМИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИКМАТЕРИАЛОВ С ЦИЛИНДРИЧЕСКИМИМАГНИТНЫМИ ДОМЕНАМИ(57) Изобретение относится к области магнитных измерений. Является дополнительным изобретением к авт. св. 1091098. Может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндричеЯО 1247801 скими магнитными доменами (ЦМД). Цель изобретения - повышение точности измерения - достигается за счет обеспечения возможности в известном устройстве определять влияние зазора между магнитоуправляющими элементами из материалов с ЦМД.Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему для создания вращающегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляющие элементы 6 и материал 7 с ЦМД. Для достижения поставленной цели на материал с ЦМД дополнительно нанесены магнитоуправляющие элементы 6 в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого матерна-ла. 2 ил.10 15 20 25 вращающегося 30 35 40 45 50 55 Изобретение относится к магнитным измерениям и может быть использовано при контроле процесса изготовления материалов с цилиндрическими магнитными доменами (ЦМД-материалов) .Целью изобретения является повышение точности измерения за счет обеспечения возможности определения влияния зазора между магнитоуправляюШими элементами на динамические характеристики ЦМД-материалов.На фиг. 1 изображена блок-схема устройства для измерения динамических характеристик ЦМД-материалов; на фиг. 2 - участок ЦМД-материалов с нанесенными на него магнитными управляюшими элементами.Устройство содержит осветитель 1, поляризационный микроскоп 2, магнитную систему 3 для создания врашаюшегося магнитного поля и поля смещения, генератор 4 токов управления, источник 5 постоянного тока, магнитные управляюц 1 ие элементы 6 и ЦМД-материал 7.Осветитель 1 оптически связан с поляризационным микроскопом 2, в поле зрения которого находится ЦМД-материал 7 с нанесенными или наложенными на него магнитными управляющими элементами 6 в виде наборе сплошных и разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала. Магнитная система 3 соединена с генератором 4 токов управления и источником 5 постоянного тока.Магнитные управляющие элементы в виде набора сплошных 8 и разрезных 9 колец из магнитомягкого материала, например пермаллоя, наносят или накладывают на ЦМД-материал 7.Под кольцами генерируются ЦМД 10. Величины диаметра колец, их количество, ширина колец зависят от типа исследуемого ЦМД-материала и требуемой точности измерений. Ширина зазора в разрезных кольцах выбирается из условий моделирования зазоров в ЦМД-устройствах и составляет обычно 1/4 - 1 диаметра ЦМД.Устройство работает следующим образом.С помошью магнитной системы 3 и источника 5 постоянного тока создается магнитное поле смец 1 ения величиной, достаточной лля генерирования ЦМД на участках ЦМД- материала, под магнитными управляющими элементами. От генератора 4 токов управления в магнитную систему 3 подают два тока одной и той же частоты, сдвинутые по фазе на 90. Этими токами в магнитной системе создается вращающееся магнитное поле, которое генерирует вращающиеся магнитостатические ловушки (МСЛ) под каждым кольцом магнитных управляющих элементов 6 в ЦМД-материале 7. В сплошных кольцах 8 ЦМД 10 движется равномерно со скоростью, равной скорости МСЛ. В разрезных кольцах 9 движение ЦМД неравномерное за счет изменения скорости в зазоре этих колец. Скорости МСЛ и, следовательно, ЦМД, линейно зависят от диаметров колец. Для колец, в которых скорость ЦМД превышает предельную скорость для данного материала, ЦМД выскакивает из МСЛ и коллапсирует. В зазорах разрезных колец глубина и градиентное поле МСЛ меньше, чем под кольцами, поэтому при постоянной частоте врашаюшегося поля срыв ЦМД происходит при меньших диаметрах разрезных колец, чем сплошных. Имея набор разрезных колец разного диаметра с различными величинами зазоров, определяют влияние зазора на динамику ЦМД и сравнивают с результатами измерений при движении ЦМД вдоль сплошных колец. Поляризованный свет от осветителя 1 попадает (через опак-иллюминатор микроскопа 2) на ЦМД- материал 7, отражается от магнитных управляюших элементов 6, снова проходит ЦМД- материал 7 и попадает в поляризационный микроскоп 2, с помошью которого наблюдается ЦМД.Фиксируя номер кольца с максимальным диаметром, под которым еше наблюдаются ЦМД после приложения вращаюи 1 егося магнитного поля, определяют предель -ную для ланного случая скорость по форъу пе где о - круговая частотамагнитного поля;Й, максимальный радиус кольца, накотором еше наблюдается движение ЦМД.В качестве осветителя могут быть использованы серийные осветители для микроскопов ОИ - 21, ОИ - 19 М и др, или осветители, входящие в комплект микроскопов,а в качестве поляризационного микроскопа, -- например, Полам, М 11 - 2 Е, МП - 6,МБИ - 6 и лр,Магнитная система лля создания вращающегося магнитного поля и поля смегценияможет быть составлена из четырех контуров квадратной или прямоугольной формыи катушки, создающей магнитное поле, перпендикулярное плоскости пленки,Генератором токов управления можетбыть, например генератор ГЗ - 39 с усилителями, а источником постоянного токалюбой, позволяющий создать необходимоеполе смещения, например Б 5 - 7, Б 5 - 9 и др. Формула изобретенияУстройство для измерения динамических характеристик материалов с цилиндрическими магнитными доменами по авт. св.1091098, отличающееся тем, что, с целью повыц 1 ения точности измерения, на материал с цилиндрическими магнитными доменами дополнительно нанесены магнитоуправляюшие элементы в виде разрезных колец разного диаметра из магнитомягкого материала1247801Фиг,2Составитель А. Дивеев Редактор Н.Швыдкая Техред И. Верес Корректор О. Луговая Заказ 4120/45 Тираж 728 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5 филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4