Способ измерения параметров анизотропии парамагнитных веществ

Номер патента: 1182362

Авторы: Зотов, Линев, Муравский, Фигурин, Фурса

ZIP архив

Текст

(51) 4 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ АВТОРСКОМУ ТЕЛЬС А.Мурсавогоный 97 ре- М.: ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ(71) Белорусский ордена ТрудоКрасного Знамени государственуниверситет им. В.И,Ленина(56) Авторское свидетельствоВ 392396, кл. С 01 И 27/78,Жидомиров Г,М. и др. Интертация сложных спектров ЭПР.Наука, 1975, с. 75-81.(54)(57) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ АНИЗОТРОПИИ ПАРАМАГНИТНЫХ ВЕЩЕСТВ, включающий регистрацию спектров электронного парамагнитногорезонанса на частоте модуляциимагнитного поля и измерение эффективных значений-факторовпри различных ориентациях образца ЯО 1182362, А относительно направлени поляриэующего магнитного поля, о т л и ч а -ю щ и й с я тем, что, с целью повышения точности и сокращения времени измерения параметров анизотропии парамагнитных веществ, на образец воздействуют переменным модулирующим магнитным полем, векторкоторого вращается в плоскости,перпендикулярной вектору поляризующегмагнитного поля, регистрируют сигнал ЭПР на частоте модуляции этогополя и измеряют его Фаэовую задержку при трех ориентациях образца,одна из которых соответствует совмещению направления одной из граней кристалла с направлением вектора поляризующего магнитного поля,а две другие задаются поворотомобразца на фиксированные углы вокруг двух ортогональных друг другуи направлению поляризующего магнитного поля осей.Изобретение относится к технической физике, в частности к технике электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), и может быть использовано в экспериментах по исследованию анизотропных свойств парамагнитных веществ.Цель изобретения - повышение точности и сокращение времени измерения параметров анизотропии парамагнитных веществ.На чертеже представлена блоксхема устройства, реализующего предлагаемый способ измерения параметров анизотропии парамагнитных веществ. О Устройство состоит из исследуемого образца 1, рабочего резонатора 2, электромагнита 3, являющегося источником поляризующего магнитного поля, блока 4 управления магнитным полем, блока 5 СВЧ, двух пар катушек 6 и 7 модуляции, блока 8 модуляции и блока 9 регистрации, 25Исследуемый образец 1 помещают в рабочий резонатор 2, расположенный между полюсами электромагнита 3, являющегося источником поляризующего магнитного поля. Электромагнит 3 подключен к блоку 4 управления магнитным полем. Сверхвысокочастотное (СВЧ) поле возбуждается в рабочем резонаторе 2 с помощью блока 5 СВЧ. При выполнении условия резонанса на выходе блока 5 СВЧ формируется сиг 35 нал ЭПР на частоте модуляции.Предлагаемый способ основан на воздействии на исследуемый образец вращающегося магнитного поля и измерении возникающей вследствие анизотропии образца фазовой задержки регистрируемого сигнала относительно модулирующего.Вращающееся модулирующее магнитное поле, вектор которого Иц перпендикулярен поляризующему магнитному полю Йо, создается с помощью двух ортогональных друг другу пар катушек 6 и 7 модуляции, на которые подается гармонический сигнал модуляции с блока 8 модуляции. Для создания вращающегося магнитного поля сигналы, подаваемые в катушки 6 и 7, сдвинуты по фазе на 90 ф, Иодуляция резонансу 5 ных условий магнитным полем Н приводит к возникновению фазовой задержки 1 между модулирующим сигналом и откликомобразца на этот сигнал, причем величина задержки зависит от степени анизотропии исследуемого образца. Сигнал ЭПР на частоте модуляции магнитного поля и его фазовый сдвиг относительно сигнала модуляции измеряются с помощью блока 9 регистрации.Измерив резонансное значение магнитного поля и определив эффективное значение-фактора в трех положениях образца: вектор поляризующегоо магнитного поля составляет угол 0 с осью Е лабораторной системы координат, после поворота вокруг оси Х на угол 1 (например 30,), после поворота на фиксированный угол в вокруг оси У лабораторной системы координат (углы о и Д одновременно не могут быть равными 90 ), полностью определяют все шесть независимых компонент симметричного-тензора. Для определения главных значений у -тензора и направляющих косинусов магнитных осей кристалла в лабораторной системе координат используют известную методику.П р и м е р. С помощью предлагаемого способа измеряют анизотропные свойства окиси магния ИО, содержащей дефектные центры Ч -типа. Исследуемый образец вырезают таким образом, что три его грани образуют в пространстве прямой угол, Направление этих граней задает направление осей Х, У, и 2. лабораторной системы координат. Поворот образца на фиксированные углы осуществляют с помощью простого гониометрического устройства.Измерения выполняют на радиоспектрометре Фирмы "Вариан" Е 112, в который введены дополнительные устройства, выполняющие Функции в соответствии с формулой изобретения, Час- . тота модуляции составляет 1 кГц. Катушки модуляции, создающие вращающееся модулирующее магнитное поле, располагают, с внешней стороны рабочего резонатора, они обеспечивают амплитуду модуляции Й =10 Э. Точностьизмерения фазы регистрируемого сигнала ЭПР составляет +0,1Продолжительность измерений с помощью предлагаемого способа составляет около 5 мин, Кроме того, измерения могут быть легко автоматизировдны.1182362 та сцанала ЗПр Составитель А. Федороведактор А.Лежнина Техред С.Мигунова Корректор М.Демч к ал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. тная, 4 096/40Тираж ВНЙИПИ Государственнпо делам изобрете 13035, Москва, Ж,896 Подписного комитета СССР.нй и открытийаушская наб., д. 4/5

Смотреть

Заявка

3725682, 13.04.1984

БЕЛОРУССКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ УНИВЕРСИТЕТ ИМ. В. И. ЛЕНИНА

ЗОТОВ НИКОЛАЙ ИГОРЕВИЧ, ЛИНЕВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ, МУРАВСКИЙ ВЛАДИМИР АЛЕКСАНДРОВИЧ, ФИГУРИН ВЛАДИМИР АЛЕКСЕЕВИЧ, ФУРСА ЕВГЕНИЙ ЯКОВЛЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 24/10

Метки: анизотропии, веществ, парамагнитных, параметров

Опубликовано: 30.09.1985

Код ссылки

<a href="https://patents.su/3-1182362-sposob-izmereniya-parametrov-anizotropii-paramagnitnykh-veshhestv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения параметров анизотропии парамагнитных веществ</a>

Похожие патенты