Способ определения разнотолщинности кристаллических элементов

СОЮЗ СОВЕТСНИХааицнлюаОекРЕСПУБЛИН 7/О 2 заО О ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРЙО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЫТИЙ 1ОБРЕТЕНИЯ .ЬСТВУФ(56) 1. Авторское свидетельство СССРВ 456351 кл. Н 03 Н 9/00, 1975(54) (57) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАЗНОТ 033 ИННОСТИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ, заключающийся в том, что устанавливают между электродами исследуемый элемент, возбуждают в немколе 4 Ь ОПИСАНИЕ ИН АВ"4 ОРСИОМУ СВИДЕТ,80,1026009 А банна при двух различных конФигурациях электродов, при каждой из нихизмеряют значения резонансных частотпервых гармоник, По разности которых определяют разяотолщинность кристаллического элемента, о т л и ч а ющ и й с а тем, что, с целью повышения точности, выполняют электродысоставными, подключением элементовэлектродов получают различную ихконфигурацию и возбуждают колебанияпоследовательного резонанса на основной и ангармонической модах.Изобретение относится к средстнам ультразвукового контроля и может быть использовано при производстве пьезоэлектрических элементов.Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ определения разнотолщинности кристаллических элементов, заключающийся в том, что устанавливают между электродами исследуемый элемент,возбуждают в нем колебания при днух раз личных конфигурациях электродов, при каждой из них измеряют значения резонансных частот первых гармоник, по разности которых определяют разнотолщинность кристаллического эле- )5 мента (1) .Недостатком указанного способа является то, что при каждом измерении необходима смена электродон. Это приводит к нарушению постоянства зазора между электродами и пьезопластиной, что уменьшает точность оценки разнотолщинности.Цель изобретения - повышение точности определения разнотолщинности,Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения разнотолщинности кристаллических элементов, заключающемуся в том,что устанавливают между электродами исследуемый элемент, возбуждают в нем колебания при двух различных конфигурациях электродов, при каждой из них измеряют значение резонансных частот первых гармоник, по разности которых определяют разнотолщинность 35 кристаллического элемента, выполняют электроды составными, подключением элементов электродов получают различ ную их конфигурацию и возбуждают колебания последовательного резонанса 40 на основной и ангармонической модах,На фиг.1 изображена электрическая схема устройстна, реализующего предлагаемый способ при возбуждении на 45 основной моде; на фиг,2 - то же, при возбуждении на ангармонической моде,Устройство содержит неподвижный иподвижный электроды, связанные с исследуемым кристаллическим элементом1 и с генератором электрических ко"лебаний (не показан).Сущность способа заключается втом, что устанавливают между элементами неподвижного и подвижного электродов исследуемый элемент 1, нозбуждают н нем колебания последовательного резонанса путем включения посхеме фиг.1 на основной моде и посхеме фиг.2 при возбуждении на ангармонической моде, Измеряют значениярезонансных частот первых гармоники по их разности определяют разнотолщинность кристаллического элемента 1,Способ осущестнляют следующимобразом,В кристаллическом элементе 1 однимиз известных способон определяют ификсируют направление кристаллографических осей в направлении измерения разнотолщинности. Кристаллическийэлемент 1 укладывают в сОответствующую центрирующую ячейку (не показана)так, чтобы определенная кристаллодграфическая ось была направлена пер-пендикулярно зазорам элементов неподвижных электродов . Затем на кристаллический элемент 1 устанавливают элементы подвижного электрода и с помощью генератора электрических колебаний и коммутирующего устройства(не показаны) возбуждают поочередноколебания оснонной и ангармоническоймоды. Разность частот определяют попоказаниям частотомера (не показан),и по полученному результату произво"дят оценку разнотолщинности кристаллического элемента 1,Использование изобретения позволяет усовершенствовать технологический процесс шлифовки и доводки кристаллических элементов путем повышения точности выполнения технологических операций ; тем уменьшить разбросдинамических параметров иэделий изпьезокерамики.1026009 рректор А. По ил едакт аэ 45 и 11 Э 035филиал ППП фПатент, г. ужгород, ул. Проектная, 4 тавитель А. Шмред С. Мигунов Тираж 602 Подвисно И Государственного комитета СС делам изобретений и открытий Москва, Ж-Э 5, Рауюская наб.,Р