Способ градуировки тензорезисторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
СОЮЗ СОВЕТСНИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК А 6 01 В 7/1 САНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ 7 ЕЛЬСТВ ВТОРСКОМУ л и ч а ю щ и й с я тем целью повышения точности предварительно наносят н магнитные дорожки с иден нитными метками, располо заданным одинаковым шаго дят синхронное считывани меток на обеих балках, и ность фаз и число период мых сигналов, а относите мацию определяют по форму Е- льб=Юь Ие 1 - относительна9 - разность фази - число период ормация; ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНЫТИЙ(56) 1. Авторское свидетельство ССМ 370453, кл. 6 01 В 7/18, 1971.2. Тейэореэисторы. Методы опредления характеристик. ГОСТ 21615-76п. 3.2.1, 1976 (прототип).(54) (57) СПОСОБ ГРАДуИРОВКИ ТЕНЗОЗИСТОРОВ путем определения относитной деформации двух балок - иэмерительной и компенсационной, снабженных тенэорезисторами, включающийнагружение йэмерительной балки, о что, сградуировки,балкахичными магенными спроиэвомагнитных меряют раэв считываеьную дефор- леИзобретение относится к измерительной технике, в частности к тензометрии,Извесген способ градуировки тенэореэисторов, в котором тензорезисто"ры накЛеиваЮт на торцы бруса, выполненного в виде пакета пластин,и производят смещение пластин параллельно друг другу усилиями, приложенными к торцам бруса 1.1 .Однако этот способ имеет большуюпогрешность, вызванную невозможностьюнепосредственно измерять деформациюна рабочей поверхно.,ти бруса.Наиболее близким по техническойсущности к предложенному являетсяспособ градуировки, основанный наиспользовании иэгибаемых балок, приосуществлении которого на рабочуюповерхность балки наклеивают градуируемые тензорезисторы, балку изгибают, измеряют прогиб балки и по величине прогиба судят о деформации,действующей на тенэорезисторы 1 21.Недостатками известного способаявляются косвенный метод измерениядеформации на рабочей поверхностибалки, отсутствие точной зависимости между прогибом балки и деформацией, отсутствие информации о распределении поля деформации на рабочей поверхности балки, что и целомприводит к снижению точности градуировки.Цель изобретения - повышениеточности градуирдвки тензорезисторов,Поставленная цель достигаетсятем, что согласно способу градуировки тенэорезисторов путем определения относительно деформациидвух балок - измерительной и компенсационной, снабженных тенэорезисторами, включающем нагружениеизмерительной балки, предварительнонаносят на балках магнитные дорожкис идентичными магнитными метками,расположенными с заданным одинаковымшагом, производят синхронное считывание магнитных меток на обеих балках, измеряют разность фаз и числопериодов считываемых сигналов, а относительную деформацию определяютпо формулеЬ=иЪ 3 щ (2)Затем балку 2 изгибают и деформацию на рабочей поверхности определяют следующим образом.Посколькудорожки нанесены непосредственнона балки, деформация дорожки полностью соответствует, например., деформации балки 2. Деформация дорожки приводит к изменению записаннойдлины волны. При считывании одна изголовок, которая перемещается вдоль 40 недеформированной балки 1, воспроизводит сигнал . гДеЬЛ =Л-Л 160 Удлинение рабочего участка Е балки. 2 можно записать следующим об-.разом(б) где Й - относительная деформация;Ч - разность фаэ;и - число периодов.На чертеже представлена схема, поясняющая способ градуировки тензореэисторов.На балки 1 и 2 нанесены магнит-, ные дорожки 3 и 4 по всей рабочей длине. На балку 2 наклеены градуируемые тензореэистОры 5. Над магнитными дорожками установлены универсальные магнитные головки б и 7,которые. могут перемещаться вдольмагнитных дорожек с одинаковой скоростью при помощи механизма 8 движения. Голонки б и 7 посредствомкоммутатора 9 подключаются либо кгенератору 10 сигнала, либо к усилителям 11 и 12 воспроизведения. Выходы усилителей подключены к входамизмерителя 13 разности фаэ и одновременно один из усилителей связан1 О со счетчиком 14.Деформация определяется следующим образом,Универсальные магнитные головкиб и 7 с помощью механизма 8 движе 15 ния перемещают вдоль измерительныхдорожек с магнитными метками с постоянной скоростью.М На головки через коммутатор 9 подают напряжейие.с генератора 10 частотой 1 и запиъ 0 сывают на дорожки метки, например,в виде гармонического сигнала О , в 1 ь,2%Гй (1) длины волн . сигналов, записанных на обеих дорожках, одинаковы и равны" з и 21 Г(3) 45 Другая головка вследствие того, чтодлина волны за счет деформации бал.ки 2 изменилась и стала равной.воспроизводит сигнал 50 0= в 1 в 36 г - с(4)сигналы с головок усиливаются усилителями 11 и 12 и.поступают на измери-.тель 13 разности фаэ. Разность фаэ 55 равна(8) Составитель В. РадзиховскийРедактор В. Лазаренко Техред А.Вабинец Коррект еюетник 5/34 . Тираж б 02 ЙЖЭйис нееВНИИПИ Государственного комитеаа ОХРпо делам изобретений и оакрютмй113035, Москва, Ж, Раумскал иаб., д, 4/5 аказ 4 иал ППП фПатент", г, Ужг л е дОФк Величина перемещения магнитныхголовок определяется путем подсчетас помощью счетчика 14 целого числапериодов записанных длин волн Тогда деформация Я определится как Таким образом:относнтельное удлинение (деформация) рабочего участ ка балки 2 пропорционально разности фаз сигналов, поступающих с магнитных головок.Повыаение точности градуировкнтенэореэисторов приведет к повышению надежности, снижению металлоемкости и на 05-1,0 стоимости изде" лий и конструкций, при испытании 10 которых используются тенэорезисторы.
СмотретьЗаявка
3425586, 14.04.1982
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4605
ЛУПИНСКИЙ МОИСЕЙ МЕЕРОВИЧ, ЗЕЙГМАН ЛЕВ ЛЕОНИДОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: градуировки, тензорезисторов
Опубликовано: 23.06.1983
Код ссылки
<a href="https://patents.su/3-1024698-sposob-graduirovki-tenzorezistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ градуировки тензорезисторов</a>
Предыдущий патент: Малобазный тензотермодатчик
Следующий патент: Устройство для контроля кинематической погрешности зубчатых передач
Случайный патент: 419473