Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком

Номер патента: 997113

Авторы: Дьяконов, Капшин, Муждаба, Нетупский, Носкин, Ханин

ZIP архив

Текст

О П И С А Н И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Сафа СоветскихСоциалистическихРеспублик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 170781 (21) 3328093/18-21.с присоединением заявки Й 9 -Р 1 М К з Н 01 6 9/24 Государственный комитет СССР по делам нзобретеннй н открытий(23) Приоритет -Опубликовано 1502,83, Бюллетень М бДата опубликования описания 1502,83 33 УД( 621 319Изобретение относится к радиоэлектронной технике и может быть использовано в производстве конденсаторов с оксидным диэлектриком.Известен способ испытаний конденсаторов с оксидным диэлектриком, заключающийся в измерении дисперсии тока заряда (или разряда ) при подаче медленно возрастающего напряжения или синусоидального напряжения инфразвуковых частот 1 1.Конденсаторы разбраковывают по величине отклонения от среднего значения измеряемого тока в данной выборке. Недостатком данного способа является очень низкая чувствительность, что делает этот способ применимым для конденсаторов системы металл-оксид-металл. Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком включающий измерение тока утечки 1.23Конденсатор считается годным, если величина измеряемого тока меньше величины, нормйрованной техническими условиями для данного типа конденсаторов. Считается при этом, что чем меньше ток утечки конденсатора,тем более он надежен в эксплуатации.Поэтому для особоответственной аппаратуры из готовых изделий делаютвыборку конденсаторов с минимальнымитоками утечки. На практике, однако,даже в этом случае некоторые конденсаторы при эксплуатации быстро выходят из сро.Цель изобретения - повышение точ. ности отбраковки.Цель достигается тем, что согласно способу отбраковки конденсаторовс оксидным диэлектриком, включающему 15 измерение тока утечки, одновременнос измерениемтока утечки измеряютфлуктуацию его, а отбраковку конденсаторов производят. по аномальномузначению флуктуаций тока утечки.П р и м е р. Конденсаторы такталовые типа К 52-1 номинала 100 В3,3 мкф в количестве 24 шт. после изготовления разбраковываютоя. по величине тока утечки обычным способом: 25 на конденсатор подается рабочеенапряжение 100 В и измеряется токутечкиВсе конденсаторы признанЫгодными,так как величина тока утечки у всех конденсаторов меньше Ю 1 мкА. Эатем эти конденсаторы раз997113 Формула изобретения Составитель А. СалынскийРедактор М, Дылын Техред О,Неце, Корректор В. Прохненко Заказ 945/71 Тираж 701 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССРфилиал ППП фПатЕнт", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 браковываются цо предаагаемому способу; на конденсатор подается номи-, нальное (рабочее ) .напряжение 100; В и измеряется, величйна тока утечки и его флуктуации. Спектр флуктуаций изучается с помощью анализатора, поэволяющего проводить изучение спектра сразу в двухстах равноотстоящих точках. Измеренные вели чины усредняются в режиме накопления (линейного или экспоненциального ) с помощью многоканального нако+10 пителя за время ф 2 мин. Обнаружено, что на двух конденсаторах из всех измеренных. флуктуаций 1 токазйачительно (свыше 10 раз ) больше, чем на остальных, при этом по вели з чине тока утечки все конденсаторы удовлетворяют. требованиям техничес. ких условий. Испытания на надежность показывают, что ток утечки конденсаторов, имеющих аномально большое зна .20 чение флуктуации тока, растет в процессе испытания; а у остальных кондей саторов - падает.Предлагаемы способ отбраковки конденса-ровб окоидным диэлектри ком позволяет повысить достоверност указанной операции, так как одновре менно с отбраковкой явно дефектных конденсаторов выявляются изделия, потенциально ненадежные при эксплуатации.При этом можно без дополнительных затрат времени проводить разбраковку всех изготавливаемых конденсаторов по качеству диэлектрической изоляции. Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком, включающий измерения тока утечки, о т л и ч а ющ и й с я тем, что, с целью повышения точности отбраковки, одновременно с измерением тока, утечки измеряют флуктуацию тока утечкй, а отбраковку конденсаторов производят по аномальному значению флуктуаций тока утечки. Источники информации,принятые во внимание при экспертизе 1. Патент Японии 9 47-49660,кл. 59 Е 3122, 13.12.72. 2. Закгейм Л.Н, Электрические конденсаторы. М,-Л., Госэнергоиздат,1963, с. 272 (прототип ).

Смотреть

Заявка

3328093, 17.07.1981

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ Г-4816, ЛЕНИНГРАДСКИЙ ИНСТИТУТ ЯДЕРНОЙ ФИЗИКИ ИМ. Б. П. КОНСТАНТИНОВА

ДЬЯКОНОВ МИХАИЛ НИКОЛАЕВИЧ, КАПШИН ЮРИЙ СТЕПАНОВИЧ, МУЖДАБА ВАЛЕРИЙ МУСТАФЬЕВИЧ, НЕТУПСКИЙ ИОСИФ ВУЛЬФОВИЧ, НОСКИН ВАЛЕНТИН АЛЕКСЕЕВИЧ, ХАНИН САМУИЛ ДАВИДОВИЧ

МПК / Метки

МПК: H01G 9/00

Метки: диэлектриком, конденсаторов, оксидным, отбраковки

Опубликовано: 15.02.1983

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-997113-sposob-otbrakovki-kondensatorov-s-oksidnym-diehlektrikom.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ отбраковки конденсаторов с оксидным диэлектриком</a>

Похожие патенты