Имитатор звездного неба

Номер патента: 337751

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Баранов, Елисеев

МПК: G02B 27/30

Метки: автоколлиматор, двухкоординатный, фотоэлектрический

...4 и попа дает на цилиндрический растр 5 с отражающей поверхностью б в фокальной плоскости элементов. Отраженный пучок, пройдя объектив 4, полупрозрачную пластину 3, попадает на нож 8, куда проецируется щель 2. СветоО вой поток воспринимается фотоприемником 9.При нулевом положении вращающегосяобъекта 7, когда его ось вращения параллельна оптической оси автоколлиматора, автоколлимационное изображение щели 2 непод вижно, а поэтому сканирование и модуляциясветового потока отсутствуют, переменного сигнала на выходе фотоприемника 9 нет. При отклонении оси вращения объекта 7 от нулевого положения возникает круговое сканиро- О вапие изображением щели 2 относительно337751 Составитель Г, ЛитвинТехред Л. Богданова Редактор Т. Рыбалова Корректор В....

Номер патента: 708171

Опубликовано: 05.01.1980

Автор: Пеньковский

МПК: G01J 4/04

Метки: поляриметр

...детектора 30 соединен с индикатором 31. Двигатели 25 и 29 связаны с датчиками угловых перемещений 32 и 33, которые являются указателями измерительных величин направления осей Ф и оп тической разности фаз 6.Предлагаемый поляриметр работает следующим образом.Свет от источника 1 конденсатором 2направляется на диафрагму 3, расходящийся пучок света линзой 4 коллимируется, на-правляется на элементы оптики 8, 15, 10, 9, 13, а затем линзой 5 фокусируется на объекте 6 таким образом, что изображение диафрагмы 3 системой линз 4, 5 переносится20 35 5в плоскость объекта 6. За объектом 6 свет снова коллимируется линзой 7, проходит поляризационные фильтры 11, 4 и направляется на фотоприемную часть. Причем, периферийная часть коллимированного пучка...

Номер патента: 1704038

Опубликовано: 07.01.1992

Автор: Гуменник

МПК: G01N 21/45

Метки: градиента, показателя, преломления

...фильтра 5, который располагается о фскальной плоскости приемного объектива 4. При этом, так как характеристики пространственного фильтра согласованы с характеристиками источника излучения (например, щелевой источник излучения - нож Фуко), то через пространственный фильтр проходят лишь те соетовые лучи, которые были отклонены неоднородностями объекта от направления невозмущенного распространения. Прошедшие через пространственный фильтр 5 лучипопадают о блок б регистрации теневой картины объекта, в котором происходит формирование и регистрация теневой картины объекта,Одновременно с широким световым пучком объект эснд руется узким лазерным пучком, который генерируется лазером 7, и после отклонения дефлекторсм 8 направляется о...

Номер патента: 401888

Опубликовано: 01.01.1973

МПК: G01B 11/16, G01N 21/21

Метки: 401888

...анизотропип внутри пространственного объекта заключается в следующем. Используя геометрическое представление поляризации света по 11 уапкаре, любое состояние поляризации света можно однозначно отобразить точками М (2 р, 2 у) сферы, причем широта точки 2 р определяет форму эллипса колебаний через отношение его осей В и А, а долгота 2 у равна удвоенному углу между избранным направлением отсчета Х, в плоскости фронта волны и паправле 1 шем большей оси эллипса. 1 очки северной полуссреры отображают колебания с правым вращесшем светового вектора, а южнопс левьв .Измеряя интенсивность света, рассеянного в отдельных точках среды на пути просвечивающего луча в двух направлениях в плоскости, перпендикулярной лучу (отыскивая макспмаль401888...

Номер патента: 1635147

Опубликовано: 15.03.1991

Авторы: Вайнер, Васин, Календин, Кононенко, Марченко, Пономарев

МПК: G01R 27/26

Метки: емкости, объекта, проводящего, электрической

...Р 1 входа регистратора 3 емкость С 1 груз и выбирают из ссогношеия1С 1 -" -- ,О Ркгде гк - циклическая частота переменного поля;Й 1 - активное сопротивление нагрузки В этом случае, исходя изх описанной схемы измерений, соотнсоение для цаця. жений имеет видСэ СоСэ+С 1 Со С 1Из системы уравнений (1) определяют собственную электрическую емкоеь уединенного гроводящего обьекта по форглуле Ко КэОэ , Оогде Кэ = - и Ко = -- - - коэфф;ц, тыР уэпреобразования поля;Оэ и Оо - величины измеренного наццяжения на агрузке в случае подклоче 1 я к фидеру эталона и исследуемого объекта сс ответственно;уев потеццал поля в имитаторе, Со и Сэ - собственцаЯ егкость селеДУ емого обьекта и эталона соотвесяго,С 1 - емкость нагрузки, вкпочающэя ем кость кабеля и...