87913

Номер патента: 1826977

Опубликовано: 07.07.1993

Авторы: Есио, Казутаке, Тосиясу, Фумио, Ясуо

МПК: C08L 1/28

Метки: дисперсной, композиции, твердой

...целевое соединение собирают, концентрируют при пониженном давлении и получают соединение Ейв форме белого порошка (34 г).Этот белый порошок растворяют в ацетонитриле и концентрируют при пониженномдавлении, Этот концентрат хранят ночь при 205 С и получают призмы (22,7 г), Перекристаллизацией из того же растворителя получают очищенное соединение Ей(13,6 г) в виде бесцветных призм,Спектр инфракрасного поглощения 251 снснзмэкс 3680, 3580, 3520, 2930, 2870,2830, 1745, 1720, 1700, 1645, 1450, 1380,1350, 1330, 1310, 1285, 1170, 1135, 1090,1050., 1030, 1000, 900, 960 (плечо), 918 смПример 2, 30Соединение Ей1 гОксипропилметилцеллюлоза 2910 (ТСЯ) 1 гЛактоза ЗгВсего 5 г 35Соединение Ей(1 г) растворяютв этаноле (10 мл), прибавляют...

Номер патента: 731755

Опубликовано: 15.07.1981

Авторы: Зубов, Кабанов, Лачинов, Оленина, Хаинсон

МПК: C08F 297/00

Метки: mohomepob, блок-сополимеровакриловых, метакриловых

...За времяконтакта 55 мин вес привитой целлюлозы составляет 1580 г (привес 46%). Гомополимерайолучают 0,019 г ( 4% от количества привитого полимера). Привитую целлюлозу гидролизу.ют кипячением в 5%-ной серной кислоте, отделяют привитой полимер, промывают его во дой и сушат в вакууме до постоянного веса,Получают 0,474 г блок-сополимера (мольнаядоля метилметакрилата 0,36, мольная доля метил-а-хлоракрилата 0,64), Блочпое строение полученного полимера доказывают методом грби.циметрического титрования,П р и м е р 2. 1,020 г целлюлозы облучают в среде аргока при 20 С фокусированнымсветом УФ.лампы в течение 2 ч (мощность УФ.лампы 1000 Вт), затем при 20 С в среде аргона вводят реакционную систему, содержащую22,7 мл метил-а-хлоракрилата, 0,9 мл...

Номер патента: 1117521

Опубликовано: 07.10.1984

Авторы: Коваль, Перегон, Тищенко, Фогель

МПК: G01N 27/20

Метки: дефектов, конструкционных, материалах, радиационных, точечных

...тонких пленках металла (конструкционного материала) с тапщинами, соизмеримыми с длиной пробега ионов облучающего потока, собственные и внедренные радиационные дефекты также не разделены.Целью изобретения является повышение точности определения радиационных точечных дефектов внедрения нконструкционных материалах,Указанная цель достигается тем,что согласно способу определения радиационных точечных дефектов в конструкционных материалах по измерению электросопротинления тонких пленок этих материалов н процессе облучения их потоком ионов, измерение 55электросопротинления ведут при температуре Т ц, лежащей в интервалеТ, сТсТ , где Т,- температура отжига дефектов типа Френкеля. Т 8, - температура отжига дефектов внедрения, а энергию облучающего...

Номер патента: 1434338

Опубликовано: 30.10.1988

Авторы: Алексеев, Гайфуллин, Сизова, Федин

МПК: G01N 24/00

Метки: вещества, магнитоанизотропного, параметров, структуры, твердого

...модуляцияадиабатическая), поэтому угловая за -висимо сть резонансных частот такаяже, как и при продольной модуляции,Как видно из фиг. 2 и 3, в спектрах, снятых при помещении образца всуперпозицию трех взаимно перпендикулярных полей, число компонентуменьшается, при этом сохраняютсятолько анизотроиные компоненты, авсе изотропные, отвечающие переходам+ 1/2)7 1/2 , отсутствуют. Зтимобеспечивается разрешение оставшихсяв спектре анизотропных линий тонкойструктуры, несущих основную информацию о структуре вещества.Дальнейшая обработка спектра(фиг.3) сводится к определению параметров спектральных линий, положенияв магнитном поле ширины, формы линии, из угловой зависимости которыхизвлекается информация о Физико-химических параметрах...

Номер патента: 1654601

Опубликовано: 07.06.1991

Авторы: Кондров, Костюченко, Лаврик

МПК: E21F 15/00

Метки: выработок, горных, закладки

...кускового сыпучего материала и минимальное время создания необходимого столба давления Н,н, Однако технологически образование таких углублений может внекоторых случаях оказаться неэффективным и трудоемким. Например, в случае про 5 дольного уклона почвы камеры целесообразными из технологических соображе: ий могут оказаться поперечные секции-углубления (Л 10) с длиной, приближающейся или равной поперечному размеру камеры10 (Й - О). В случае поперечного уклона почвы, камеры приемлемы удлиненные продольные секции-углубления (ЬгО).Расстояние между осями насыпаемыхполос принимается равным15поперек камеры а = Л Ю+ Д+ 21 Овдоль камеры Ю = Ь Ю+ Ь 1+ 2Нмин,тц рПосле определения всех указанных па-.раметров на почву закладываемой камеры1...