Способ микроскопического анализа металлов и сплавов в вакууме или в атмосфере различных газов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
Класс 42 к, 20 и,421, 3 Л (52641 С С(".Р ПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИК АВТОРСКОМУ СЕ)ИДЕТЕЛЬСТБУ Гудцов, И. ФЗудин и М. Г. Лозинск СПОСОБ МИКРОСКОПИЧЕСКОГО АНАЛИЗА МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ В ВАКУУМЕ ИЛИ В АТМОСФЕРЕ РАЗЛИЧНЫХ ГАЗОВЛ)(ии,и 1 Д ии).и8 г. зя .). 3)5003 и ,омити) ии иии(", ии и и и)(,1)и;о И (иц:( ЗИ)ИИ)Ц И (:СС:Р ИзВсстць спосооы изм"СИИ 51 микрос Грхктмры,са10 ц сп,1 ЯВОБ црц цх нагревании и охиЯждеиил с примснеццем для этой цели в)куумгой камеры и термопар для измепегп)я температуры и исследования сост 05 ция Образца, ИЯГРСВае)мОГО в ат)Ос(1)ерс разлццных Газов.От;цчие црсд 1 ГемОГО с 10 соб От цзвссГцьх сцосОООВ мкрОЯН - )изя мета,.лов ц сплавов цпи цагрсваццц закл 1 оцястс в то. что цспыгуемомъ обрзцу прцд)от (1;орму клцц цли коцмс 1 ц нагрева)от посред- (тВ(:м Гроц)скяци 51 е 1 эсз 1(.Г(1 згсктрц 1 сскОГО ток.Определение градисцт тс:,иератур вдоль цсслс усмог,: ооразцзсуцествлястся посредств( м нескольких термопар, прцпцвсмых в Р 5 ДЕ ОИСК ВДО,Ь 0РЯЗЦ.Схник)1 Ос)щсст 5.СИИ 5 сосооа заклк)чс 1 с 51 1) 1 0(1, ц 0 и(.с сдус. .ы и Оораз(.пиа ко ГО 01 цмсетсч ъизсто)( (. Ио)И)овсццо(1 цов(рхцостыо ( цлиф), ц)1 Грсв)1101, трсбм(мОЙ 1 омпер)имрь, роц ск 51 спсз цсГ ) э )сктричсскцй ток.Ко;ичестВО тепла, выделяемое Об 1)азцом, (преде,5 етс 5 Иапряи(егп- с) ца трансформаторе и регулируется посредством потсццил-регул)тора, реостата и т и.С цельО изучения Вли 5 ния ца исслсд( смы мст л ц ц сп 13 р .3иньх яГрсссивных сред, я также для Вь;явления мцк 1)острукрь цр. 1:ь.соких техИсратурах (до 1400), Оопазец помс 1 ц 10 т В 1)зре 5 ксццо пространство (с разреи(ецисм порядка 1( "; 10,;:,ц рт .стД 5 изм( рсци 51 т(5)Пер)1 урь 1 в 0);(.,И 5 ИЬ 1 х ) иастк 1 х О.,)зц рме;5 ОТ Т(Р 0 ЯРЬ 1, ГОЕДИЦС 1,С ; Ъ 1.ЬП)Л 1( ,); ИЧдаитОр В, В, ХаЗОВа Срод,й Л, КаМЫСПНИКОВа КОрреитар Э, Й. СПИрИна Полл к нен. 6/11.62 г,Лак. 9719 Формат бмзк 70 Х 108 г,тирак та Объем 0,18 изд, л Бена 5 коп. ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и откпытин при Согете Министров СССР Москва, Центр, М Черкасский пер., д. 2 о.С)роовгкав областнаи тппогра 1 пп Тмгп, г, 01,ео, уп,г 1 еиипа, 1 11 ридавая образцу форму клипа или конуса, получают желаемый градиент температур вдоль длины образца в пределах температур, намоченных для изучения.Таким образом, на одном образце может быть изучено состояние исследуемого металла или сплава при различных температурах,После нагрева и требуемой выдержки в заданной газовой среде газы удаляют и образец охлаждают в вакууме до заданной температуры.После охлаждения микроструктуру образца исследуют под микроскопом. Видимое под микроскопом строение сплава соответствует его структуре, образовавшейся при нагреве, выявленной путем травления и сохранившейся благодаря охлаждению в вакууме.Предмет изобретения1. Способ микроскопического анализа металлов и сплавов в вакууме или в атмосфере различных газов, о т л и ч а ю ш и й с я тем, что с целью изучения состояния данного металла или сплава при различных температурах на одном образце этому образцу придают форму клина или конуса и нагревают путем пропускания через него электрического тока.2. Прием осуществления способа по п. 1 с использованием термопары для измерения температуры, отличающийся тем, что с целью определения градиента температур вдоль образца на нем устанавливают в соответствующих зонах несколько термопар и укрепляют их на образце, например путем припаивания, с тем чтобы обеспечить безынерционность контроля температуры.
СмотретьЗаявка
380031, 05.06.1948
Гудцов Н. Т, Зудин И. Ф, Лозинский М. Г
МПК / Метки
МПК: G01N 25/30, G01N 25/72
Метки: анализа, атмосфере, вакууме, газов, металлов, микроскопического, различных, сплавов
Опубликовано: 01.01.1950
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-82641-sposob-mikroskopicheskogo-analiza-metallov-i-splavov-v-vakuume-ili-v-atmosfere-razlichnykh-gazov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ микроскопического анализа металлов и сплавов в вакууме или в атмосфере различных газов</a>
Способ термической обработки образца при исследовании фазовых превращений в сплавах
Номер патента: 143823
Опубликовано: 01.01.1962
Автор: Неижко
МПК: C21D 1/34, G01N 25/02
Метки: исследовании, образца, превращений, сплавах, термической, фазовых
...пределение оптимальныхфазовых превращенийческой обработки целой анавливается на теплоподводящается теплоотводящая плита 3. ие нагревательного элемента пола, из которого сделан сам нант 1 за щища ется теплоизо.чялементе 1 установит ся термопарлми 5, в жень извлекаегся. Та ь и больцой запас требуемой температ ратуры по длине обЬо 143823 остявптслз Г. М, Коган амышникова Ко 1.ректор И. А. Шпынев едактор Н. г ин ехрсд 0 Х 1081,1,ч. 1 6-11-62 см 0,18 изд. л.Ценя 4 коп Формат бум Тираж 900 при Комитете по делам при Совете Минист 1 осква, Центр, М. ЧеркаТИ зобретенииов СССР открыт 2/6. кий пер. ипогрфин ЦБТ при Совет о делам изобре 1 ений и открытийССР, Москва, Петровка, 14. Комитет инистро. ветствует,перепаду температуры по длине...
Способ подготовки образцов для изучения порового пространства капиллярно-пористых тел
Номер патента: 935740
Опубликовано: 15.06.1982
Автор: Журов
МПК: G01N 1/00
Метки: изучения, капиллярно-пористых, образцов, подготовки, порового, пространства, тел
...сохранения естественной структуры, доводят до воздушно.сухого состояния при комнатной температуре и влажности воздуха.Затем образец устанавливают между двумя бумажными фильтрами. Раствор эпоксидно-диановой смолы в составе, вес,%: ЭД 16 - 10, отвердитепь полиэтиленполиамин 1 и ацетон 89 подводят к образцу капиплярно через верхний фильтр - он набирается в пипетку, носик пи. петки едва соприкасается с фильтром, образуя капиппярную сплошность жидкости с фильтром; раствор подается в таком темпе, чтобы це превысить поглощающую способность капиплярной системы образца, Тщательно следят за тем, что. бы ца поверхности фильтра не образовывалось некапиллярного свободного раствора. Пропит. ку прекращают при появлении первых признаков фильтра на...
Способ приготовления образцов для оптического и электронно микроскопического анализов сплавов
Номер патента: 1334058
Опубликовано: 30.08.1987
Авторы: Алексеев, Гозенко, Евсеева, Ильин, Майстров, Михайлов, Никитич, Скворцова
МПК: G01N 1/08
Метки: анализов, микроскопического, образцов, оптического, приготовления, сплавов, электронно
...с термически стабильными, но механически нестабильными К- и В 2- Аазами скорости нагрева и охлаждения не оказывают влияния на процесс восстановления фазового состава.50Применение печного нагрева и скоростного нагрева (в жидких средах) обеспечивало получение одинакового фазового состава образцов. Темпераатура нагрева до А+200 С также не оказывает влияния на процесс восстановления фазового состава образцов. Однако нагрев до более высоких темиератур вызывает изменение структурного состояния В 2- и К-Ааэ вследствие развития процессов полигонизации, а также приводит к ухудшению состояния поверхности за счет образования окисной пленки.Наиболее оптимальной температуройо нагрева является температура на 50 выше А. Нагрев до таких...
Способ определения температуры нееля образца
Номер патента: 1081578
Опубликовано: 23.03.1984
Авторы: Алекперов, Алиев, Амиров, Искендеров, Исмаилзаде, Исмаилов, Салаев
МПК: G01R 33/12
Метки: нееля, образца, температуры
...2 3,Недостатком известного способаявляется необходимость измерениябольшого числа величин магнитнойвосприимчивости при различных температурах, на что затрачивается много времени.Целью изобретения является повышение экспрессности способа определения температуры Нееля образца.Указанная цель достигается тем,что согласно способу определениятемпературы Нееля образца путемвоздействия на него магнитным полемпри различных температурах, определяют величину напряженностей магнитного поля при различных температурах, при которых на образце возникает максимальный индуцированныйэлектрический сигнал, и по полученным значениям,аппроксимируя эту зависимость к нулю, по оси температуры определяют искомую величинуНа чертеже изображен график...
Устройство для испытаний плоских образцов на растяжение при низких температурах
Номер патента: 1499154
Опубликовано: 07.08.1989
Авторы: Алексеев, Газов, Казьянин, Шипилов
МПК: G01N 3/18
Метки: испытаний, низких, образцов, плоских, растяжение, температурах
...при помощи упругого элемента 11, выполненного, например, в виде кронштейна, Механизм поворота выполнен, например, в виде винтовой штанги 12 с упором 13. Между испытуемым образцом и эксцент" риками установлены две прижимные планки 14, имеющие скосы по периметру для снижения зажимных напряжений от середины к их периферии. Устройство работает следующим образом.Перед проведением испытаний образец 6 зажимают с использованием механизма поворота, устраняя ослабление предварительного поджатия образца вследствие различных температурных деформаций деталей сборки.В процессе испытаний происходитрегулирование усилия эажатия образца за счет самопроизвольного поворота эксцентриков на малый угол по мере увеличения растягивающей силы.1 ил. поджимных...