Устройство контроля больших интегральных схем на динамических моп-структурах

Номер патента: 788057

Автор: Лигоненко

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕИЗОБАТЕ,ЕН Я п 1788057 Союз Советских Социалистических Республик(51)М .3 6 01 В 31/28 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий(088,8) Дата опубликования описания 15,1180(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ БОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ НА ДИНАМИЧЕСКИХ МОП-СТРУКТУРАХ Изобретение относится к электро-.измерительной технике и может бытьиспользовано для контроля большихинтегральных схем, построенных на Фазных динамических МОП-структурах, в 5процессе их изготовления.Известно устройство, содержащеегенератор Формы волны, эталонную микросхему, стробигукхдие элементы и индикатор 1)Недостаток известного устройствазаключается в том, что оно позволяетпроводить контроль проверяемой интегральной схемы только на одной частоте, что значительно снижает достовер ность контроля.Наиболее близким по технической сущностик предлагаемому является устройство контроля больших интегральных схем на динамических МОП-струк- ,Щтурах, содержащее генератор входныхи контрольных сигналов, анализаторработоспособности и генератор Фаэиыхимпульсов (2),Недостаток устройства - низкая про 25изводительность контроля,Целью изобретения является повьдаение производительности контроля.Цель достигается тем, что устройство, содержащее генератОР входных 30 и.контрольных сигналов, выход которо"го соединен со входом проверяемой интегральной схемы, контрольный выходкоторого соединен с одним входом анализатора работоспособности, второйвход которого соединен с выходом проверяемой интегральной схемы, генераторФаэных импульсов, выход которого соединен с управляющим входом генератора входных и контрольных сигналов,софвходом контролируемой интегральнойсхемы, введен модулятор генератораФазных импульсов, вход которого соединен с выходом генератора фазных импульсов,а выход соединен с управляющим входом генератора Фазных импульсов.На чертеже показана блок-схема устройства.Устройство содержит генератор 1входных и контрольных сигналов,модулятор 2. генератора Фаэных импульсов,анализатор 3 работоспособности, генератор 4 Фазных импульсов и проверяе"мую интегральную схему 5,Устройство работает следующим образом.Генератор 1 входных и контрольныхсигналов и проверяемая интегральная788057 Формула изобретения Составитель С. БычковТехред А.Ач Корректор Н. Григорук Редактор И. Ткач Заказ 834 б/54 Тираж 1019 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, У.-35, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП фПатент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 фаз генератора 4 фазных импульсов. Входные сигналы генератора 1 входных и контрольных импульсов поступают на проверяемую интегральную схему 5. На анализатор 3 работоспособности одновременно поступают входные сигналы проверяемой интегральной схемы 5 и контрольные сигналы (правильный ответ) генератора 1 входных и контрольных сигналов. Совпадение выходных импульсов с контрольными указываетна правильную работу проверяемой инте гральной схемы 5. На вход модулятора 2 генератора Фазных импульсов поступают импульсы одной иэ Фаз генератора 4 Фазных импульсов. Путем деления частоты следования Фазных 1 з импульсов (коэффициент деления ш) модулятор 2 генератора фаэных импульсов вырабатывает одиночные импульсы напряжения, подаваемые на вход генератора 4 фазных импульсов для управ ления длительностью(ь ), задержками (Фс) и периодом ( ь) импульсов. Фаз. До поступления импульсов модуляции Фаэные импульсы характеризуются паМраметрами Г, "ср мь 23 Во время действия импульса модуляции фазйые импульсы имеют параметры: фмъюх пахатеяхТаким образом, основная часть Фазных импульсов имеет параметры импуль О сов верхней частоты эксплуатации проверяемой интегральной схемы 5 и лишь небольшое число фазных импульсов (один-два импульса за время одного цикла обмена информации проверяемой интегральной схемы)имеют параметры импульсов нижней частоты эксплуатации, Поэтому время контроля сокращается,производительность контроля повышается.Использование устройства контроля больших интегральных схем на динамических ИОП-структурах обеспечивает повышенйе процента выхода годных собранных микросхем за счет отбраковки кристаллов,нефункционирующих на нижней частоте рабочего диапазона иэ-эа внутрисхемных утечек МОП-,структур. Устройство для контроля больших интегральных схем на динамических МОНструктурах, содержащее генератор входных и контрольных сигналов, выход которого соединен со входом проверяемойинтегральной схемы, контрольный выходкоторого соединен с одним входоманализатора работоспособности, второйвход которого соединен с выходом проверяемоЯ интегральной схемыгенератор Фаэных импульсов, выход которогосоединен с управляющим входом генератора входных и контрольных сигналов,со входом контролируемой интегральнойсхемы, о т л и ч а ю щ е е с я тем,что, .с целью повышения производительности контроля, в него введен модулятор генератора фазных импульсов, входкоторого соединен с выходом генератора Фаэных импульсов, а выход соединенс управляющим входом генератора фазных импульсов.Источники информации,принятые во внимание при экспертизе1. Акцептованная заявка ЯпонииР 48-347, кл. 6 01 В 31/28, 1973.2. Патент США, кл. 6 01 й 31/28,1977 (прототип).

Смотреть

Заявка

2728822, 23.02.1979

ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-3790

ЛИГОНЕНКО АЛЕКСАНДР ЛАВРЕНТЬЕВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01R 31/303

Метки: больших, динамических, интегральных, моп-структурах, схем

Опубликовано: 15.12.1980

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-788057-ustrojjstvo-kontrolya-bolshikh-integralnykh-skhem-na-dinamicheskikh-mop-strukturakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство контроля больших интегральных схем на динамических моп-структурах</a>

Похожие патенты