Поглощающая масса для волноводных нагрузок

Номер патента: 115497

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Мисюревич

МПК: G01N 27/72

Метки: индикатор, масс, масс-спектрометра

...фер.ромагцигцый материал 8 в зазор, что вьзы(дт цс)вс:рот цс)лци,киой системы ца некоторый угол; этот ) го яв,яется мерой напря)к;Ио;имдгитцс)го полЯ, и слеловате,идно, и измеРЯемой массы ионов.От ст угла поворота пол(ижцой си.темы пр(цзвол 5 т цматс) )омс"ГСК,1 С 5 Г ПОМОИ.Ю С:ПТИ 1 ЕС 3(ОЙ СИСТСд уЛЛИСНИЯ КОЛЯ СИСТООГО Лу 1 13 .,гля лмцфирс)Нация ко сс)дцй ,1кит Воз (цць 11 лемпфер, со( (05 П 1(и 1 из .1. 1(иИ 1 цлр 3 ч(.скцк камер У У и пори(и У 2 пйлвижнои с 3стс мы,1 л 51 пОЛИИ Ими(ЛЬСОВ И 1 (дЛМтчК Мд С Псг).( )11 ТОВЫМ СТК,101оптической систсмы устдцовлецо фо(с)со 3;)(.ТиигСциУ), перекрываюпес.3 ебольи(30 част. с Встоной )31 ски, 00 3 зстс г1013 си п реле зеднцс)3 маср Исгрирус мк иоцоц.,"1 г повышения точности отсчета и...

Номер патента: 1046633

Опубликовано: 07.10.1983

Автор: Смирнов

МПК: G01M 1/10

Метки: заданной, инерции, координат, масс, массы, момента, плоскости, тела, центра, центрального

...65 центра масс в заданной плоскости и массы тела.Эта цель достигается тем, что согласно способу определения центрального момента инерции и координат центра масс в заданной плоскости и массы тела, заключающемуся в том, что тело устанавливают на платформу, ось вращения которой перпендикулярна заданной плоскости, сообща-. ют платформе движение вокруг оси и измеряют параметрыдвижения образованной телом и платформой механической системы., заданное число раэ параллельным перемещением в заданнойплоскости устанавливают тело в новое положение и повторяют измерение параметров движения системы, а по ним определяют центральный момент инерции, координаты центра масс и массу тела, используют платформу с опрокинутым унифилярным подвесом и газовыми...

Номер патента: 120550

Опубликовано: 01.01.1959

Авторы: Денисова, Неклепаев, Соловьева

МПК: H01P 1/26

Метки: волноводных, коаксиальных, линий, нагрузок, объемных, поглощающих, свч

...смесь из поглошающей компоненты - карбонильного железа - 757 о, и связующего вещества - эпоксидной смолы с отвердцтелем - 25%. Смесь тщательно перемешивается и заливается в арматуру нагрузки (отрезок волновода или коаксиала, закрытый с одной стороны). После заполнения отрезок устанавливается в термостат в наклонном положении на приспособлении типа синусной линейки и эпоксидная смола отвердевает при 120 в течение 2 часов,Предлагаемый способ позволяет уменьшить трудоемкость изготовления нагрузок, так как отпадает необходимость в изготовлении отдельно поглощающего элемента и укреплении его в арматуре.Облегчается воспроизведение и подбор оптимального угла согласующего скоса, имеется возможность легко корректировать этот угол...

Номер патента: 488132

Опубликовано: 15.10.1975

Авторы: Озеров, Павленко, Пушкина, Слуцкий

МПК: G01N 27/62

Метки: анализа, дуплетов, масс, масс-спектрометрического, мультиплетов

...для анализируемых компонентов путем усиления или ослабления известных факторов откачки.В магниторазрядном насосе откачка осуществляется вследствие нескольких различных по своей природе процессов.Инертные газы откачиваются, в488132 Составитель Н. АлимоваРедактор И, Шубина Техред М. Левицкая Корректор Н. Лебедева Заказ 3117/16 Изд. Хе 1869 Тираж 902 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 замуровыванием при распылении реактивного металла катодов. Активные газы откачиваются за счет образования химических соединений с распыленными реактивными металлами.Скорость откачки малоактивных газов определяется обоими факторами....

Номер патента: 512419

Опубликовано: 30.04.1976

Авторы: Борнгардт, Ланин, Павленко, Разников, Тальрозе, Фридлянский, Шутов

МПК: G01N 27/62

Метки: высокого, масс-спектра, массы, пиков, разрешения

...автономной регистрации спектров на магнитной ленте, накопители 27, 28 на магнитной ленте, ЭВМ 29, блок 30 программного управления устройством.Устройство работает следующим образом.Анализируемое вещество вводится с помощью устройства 4 прямого ввода пробы в источник 5 ионов, ионизируется электронным ударом и в виде пучка ионов направляется в масс-анализатор 6, где происходит разложение пучка на компоненты с одинаковым отношением массы к заряду. Ионы регистрируются системой 7 регистрации ионных токов, а в массовое число определяется при этом датчиком 8 масс. Высокий вакуум в масс-анализаторе поддерживается вакуумной системой 3, управляемой от пульта 2 автоматического управления, через который по сигналу от блока 30 программного управления...