Способ контроля поверхностной структуры ферромагнитных металлов

Номер патента: 1772609

Опубликовано: 30.10.1992

Авторы: Иванов, Летенко, Торчинский, Федорцов

МПК: G01B 9/10

Метки: изменения, луча, образец, падения, угла

...находится на оси нижнего шарнира пантографа. Устройство обеспечивает проведение измерений за время, больше 10 с.Существенным недостатком устройства, являющегося прототипом. является недостаточно высокая скорость измерений, на что указывают сами авторы устройства. Вчастности, с помощью устройства, выбранного о качестве прототипа, невозможно измерять толщину жидких пленок в процессе5 их растекания. Кроме того, использованиепантографа в качестве устройства. изменяющего угол падения луча на образец, и риводит к большим погрешностям измерения впроцессе эксплуатации, так как при измере 10 нии происходит механическое перемещение элементов пантографа, а также лазераи фотоприемника,Целью изобретения является повышение скорости и точности...

Номер патента: 643214

Опубликовано: 25.01.1979

Авторы: Визен, Пустовойт

МПК: B06B 3/00

Метки: ввода, изменения, луча, материал, ультразвукового

...а скорость ультр звука ттзменяот переменщтмким полем, приложенным к эле пионнаму материалу, и за счет что в качестве одной из сред зуют магнитострикпиониый ма скорость ультразвука изменяют иеремениым магнитным полемик прютоженнык магнитострикцнонному материалу;Предлагаемый способ иллюстрирует ся чертежом,Стшсоб осушествляется следувщи разом.Ультразвуковой луч от преобразова теля 1 пропускают через две среды 3 иод углом. Одна из сред, напр ер, 3 электрострикнионная. Возбужют в среде 3 электрическое поле, Папи 789 Ы 8 Тираж 584 Подая ЦНИИПИ Государственного комитета СССР но делам изобретений и открытий 113 О 35, Москва, Е, Раушская на Фооооо ГЙП фПотовто, г. уооород, уо. Проектноизменяя последнее, меняют угол ультразвукового...

Номер патента: 1052956

Опубликовано: 07.11.1983

Авторы: Агеев, Гоганов, Казанский, Комяк

МПК: G01N 23/20

Метки: варианты, его, заданного, кристалла, кристаллографических, ориентации, отклонения, относительно, плоскостей, поверхности, среза, угла

...разности измеренных углов 2.5 Наиболее близким кпредлагаемомуявляется способ определения отклонения угла ориентации кристаллографических плоскостей от заданного угла относительно поверхности среза кристалла, включающий облучение поверхности среза исследуемого кристалла пучком рентгеновских лучей и регистрацию отраженных от него лучей с помощью детектора 13Недостаток способа состоит в том,что необходимо поворачивать исследуемый кристалл для лоиска отражения и нахождения углового положения его максимальной интенсивности, что существенно снижает экспрессность анализа. Кроме того, точность определения угла отклонения таким способом зависит от точности изготовления узлов, обеспечивающих поворот и определение углового поло.ения кристалла,...

Номер патента: 1278038

Опубликовано: 23.12.1986

Авторы: Белый, Гиргель, Пашкевич, Севрук

МПК: B06B 1/06

Метки: волны, плоскости, поворота, поляризации, ультразвуковой

...звукопровода 2На выходе управляемого звукопровода 2 получают эллиптически поляризованную волну с изменяемой эллиптичностью, но с фиксированными осями эллипса поляризации, расположенными под углом 45 к граням управляемого эвукопровода 2, Плоскопараллельная пластинка 5 превращает эллиптически поляризованный ультразвук в плоско- поляризованный, но повернутый относительно исходной поляризации, задаваемой преобразователем 1, При35 40 45 56 5 1 О 5 25 30 отсутствии напряжения на электродах 3 поперечная волна распространяется с сохранением плоскости поляризации, т,е, смещения частиц упругой волны на входной торцовой грани параллельны смещениям на выходной торцовой грани управляемого звукопровода 2.При подключении электродов 3 к источнику...

Номер патента: 1394195

Опубликовано: 07.05.1988

Авторы: Алексеев, Горохов, Попов

МПК: G02F 1/01

Метки: излучения, плоскостью, поляризации

...направленное по оси, врац 1 ения устройства, последовательно отражается от зеркал 5-7 и выходит из устройства в первоначальном направлении, Управление положением плоскости поляризации излучения осуществляется поворотом устройства вокруг оси вращения, 1 т,е, изменением угла между плоскостью35 Поляризации входного излучения и плоскостью падения излучения на входное зеркало 5 (изменением, азимута Колебаний), При азимуте колебаний входного излучения Ы, азимут выходного излучения составляет величину, близкую к М т,е. угол поворота, плоскости поляризации выходного излучения относительно входного составляет ( = 2 ы.Расчет по Формулам френеля показывает, что устройство с зеркалами, выполненными из меди, при угле падения на входное и выходное...