Способ измерения прогиба вала
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
):1. ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ ц 1460435 Союз СоветскимСоциалистицескихРеспублик(61) Дополнительное к авт. свид-ву -51) М.Кл. 6 01 Ь 11/ 1849663 25-2 осударстеенный комитетСовета Министров СССРпо делом изооретенийи открытий 53) юллетсцьния 12.08.75 531.781.2) Авторы цзобретспп Е. Лев ьянк сковский ордена Ленина авиационный институт им. Серго Орджоникидзе Заявитель 54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОГИБ Изобретение тельной техники при уравновоши тем.(22) Заявлено 17.11.72 ( с присоединением заявки (23) Приоритст - Опубликовано 15.02.75 Дата опубликования опи носится к области измерии может быть использовано ции упругих роторных сисИзвестен способ измерения прогиба вала, который основасч ца измерении разноспи хода лучей в опорноы и измерительном плечах интерферометра, При этом лучи, идущие по измерительному плечу, направляют на поверхность вала, прогиб которого измеряют, а лучи, идущие по опорному плечу, направляют на неподвижное зеркало ицтерферометра.Однако при измерении по известному способу иэмерителыный прибор показывает величину не только прогиба вала, но и величину его перемещения в опорах, ца которых он вращается, Чтобы выделить собственно прогиб вала из его суммарного перемещения, требуется сложное элек 1 ронцое оборудование, а часто это сделать невозможно.Предлагаемый способ отличается от известного тем, что лучи, идущие по опорному плечу ицтерферсмстра, направляют на поверхность вала, в точку, цаходящуося вблизи одной из его опор,11 а чертеже изображена одна цз возможных схем измерения прогиба вала по предлагаемому способу.Она содержит источник света (О. К. Г.) 1, полупрозрачное зеркало 2, поворотное зерка 2ло 3, фотодетектор 4 и исследуемый вал 5, вращающийся со скоростью о. На поверхности вала находится точка А вблизи одной из его опор, куда направляют лучи, идущие по 5 опорному плечу интерферометра, и точка Б,где измеряют прогиб и куда направляют лучи, идущие по измерительному плечу ннтерферометра.Лучи света от источника 1 направляют ца 10 полупрозрачное зеркало 2, где,каждый изцих расщепляется ца два луча - опорный ц измерительный. Опорные лучи посылают ца поверхность вала 5 в точку А при помощи поворотного зеркала 3. Точка 6 находится вбли зи одной из опор вала. Измерителыный лу 1 чнаправляют в точку Б на поверхность вала, где измеряют его прогиб. Отраженные лучи, прошедшие через зеркало 2, создают ицторфсрецциоцную картину, которая фиксиру С ется фотодетектором 4. Сигнал с фотодетектора пропорционален величине прогиба вала.Гсли вал 5 перемещается в опорах, цо непрогцбастся, то это вызывает смещение обеих точек Л и Б вала. Оба плеча интерферометра изменяются ца одинаковую величину, что цс вызывает разности хода лучей в плечах цптерферометра. Следователыно, ца выходе фотодетектора сигнала не будет. Если вал 5 прогибается и перемещается в опорах, ЗО то разность хода лучей в плечах интерферо460435 Составитель А. Салин Техред Т, Курилко Редактор В. Новоселова Корректор Л, Котова Заказ2761 Изд.1095 Тираж 782 ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Мооква, Ж, Раушская наб., д. 4/5Подписное МОТ, Загорский филиал метра появляется от перемещения вала в точке Б относительно сечения в точке А. При этосом попрвшность измерения от перемещения вала в опорах юмпенсируется автоматически, и прибор показывает только величину прогиба. Предмет из о бр етени яСпособ измерения прогиба вала, основан 4ный на измерении разности хода лучей в опорном и измерительном плечах интерферометра, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, лучи, вдущие по 5,опорному плечу интерферометра, направляютна поверхность вала в точку, находящуюся вблизи одной из его опор.
СмотретьЗаявка
1849663, 17.11.1972
МОСКОВСКИЙ ОРДЕНА ЛЕНИНА АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ ИМ. СЕРГО ОРДЖОНИКИДЗЕ
ИЛЬЯНКОВ АЛЕКСАНДР ИОСИФОВИЧ, ЛЕВИТ МИХАИЛ ЕФИМОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 11/16
Опубликовано: 15.02.1975
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-460435-sposob-izmereniya-progiba-vala.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения прогиба вала</a>
Многолучевой интерферометр с боковым входом лучей
Номер патента: 939933
Опубликовано: 30.06.1982
МПК: G01B 9/02
Метки: боковым, входом, интерферометр, лучей, многолучевой
...лучей.Интерферометр работает следующим образом,Падающий на пластину 1 луч, попадая на поверхности 2 и 3 внутри плас"тинки,многократно отражается от нихи расщепляется на пучок коллинеар 35ных невзаимодействующих лучей, выходящих из пластинки в сторону частично прозрачной поверхности 2. Длявсего пучка на фиксированной длине40волны излучения разность фаз междулюбой парой соседних луцей одна ита же. Выходящий из пластинки 1 пучоклучей попадает на плоский отражатель4 и, отразившись от него вновь поФ45падает на. пластинку 1. При этом вобратном ходе лучей внутри пластинки после отражения от поверхности 3соседние лучи пучка совмещаются, идальнейшая эволюция пучка определяется фазовыми соотношениями взаимодействующих лучей. При...
Интерферометр для контроля прогибов кваз плоских поверхностей деталей
Номер патента: 578562
Опубликовано: 30.10.1977
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, кваз, плоских, поверхностей, прогибов
...функции формирователя наклонного освещения детали, свстоделителя, совместителя интерферирующих световых лучей и держателя детали.Предлагаемый интсрферомстр работает следующим образом.Деталь 5 располагается на гипотенузной грани призмы 4 контролируемой поверхностью вниз. Катетная грань призмы освещается плоской свстовой волной, причем угол падения О на эту грань выбирается с помощью зеркала 3 таким образом, что на гипотенузную грань призмы световая волна падает под углом, близким к углу полного внутреннего отражения. На гппотенузной грани призмы срормпруотся два световых луча: один отражается от границы раздела стскло-воздух вФормула изобретения 2 Составитель В, Лобзова Техред И, Михайлова Рсдактор Т. Морозова Корректор Л. Котова...
Интерферометр с обратнокруговым ходом лучей
Номер патента: 1383969
Опубликовано: 20.07.1997
Авторы: Долик, Духопел, Ельницкая, Ефимов, Жданова, Константиновская, Серегин, Сидоров, Тульева, Федина
МПК: G01B 9/02
Метки: интерферометр, лучей, обратнокруговым, ходом
Интерферометр с обратнокруговым ходом лучей для контроля формы вогнутых сферических и асферических поверхностей оптических деталей, содержащий лазерный источник поляризованного света, последовательно расположенные по ходу потока излучения коллиматорный объектив, установленный с возможностью перемещения вдоль направления излучения, образующие зеркально-призменную систему светоделитель, выполненный в виде призмы-куба, плоское зеркало, симметричный высокоапертурный объектив и двугранное зеркало и наблюдательную систему, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности контроля, лазерный источник поляризованного света выполнен двухчастотным с взаимно перпендикулярной поляризацией частотных компонент излучения в одном...
Способ выставления поверхностей оптических элементов перпендикулярно падающим лучам
Номер патента: 231165
Опубликовано: 01.01.1968
Автор: Степин
МПК: G01M 11/02
Метки: выставления, лучам, оптических, падающим, перпендикулярно, поверхностей, элементов
...и поворотом полупрозрачного элемента совмещают автоколлимационные изображения щели и штриха,На чертеже представлена схема ультрафиолетового рефрактометра, предназначенного для реализации описываемого способа.Рефрактометр содержит источник света (искра в вакууме) 1; конденсор 2; входную щель 3; объектив 4 коллиматора; диспергирующую призму 5; плоское зеркало б; объектив фотокамеры 7; фотопластинку 8; полупрозрачное зеркало 9; лампочку 10; конденсор 11; штрих 12, куб-призму 13; перекрестие 14; окуляр 15, Ножи входной щели 3 имеют прорези посередине, имитирующие горизонтальный штрих. Штрих 12 выполнен непрозрачным на прозрачном фоне, а перекрестие 14 - прозрачным на полупрозрачном фоне, Юстируемым элементом явщая призма 5, входнаяа быть...
Интерферометр для контроля формы оптических поверхностей
Номер патента: 1260676
Опубликовано: 30.09.1986
МПК: G01B 11/24, G01B 9/02
Метки: интерферометр, оптических, поверхностей, формы
...за объективом 5 и ориентировано так, что его вогнутая поверхность обращена к объективу 5, объектив 5 выполнен в виде плосковогнутой линзы с асферической вогнутой поверхностью и ориентирован так, что вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.8 - контролируемая деталь.ьОбъектив 5 (фиг. 2) может быть выполнен в виде плосковогнутой и менисковой линз 9 и 10, плосковогнутая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к выпуклой поверхности менисковой линзы 10, менисковая линза ориентирована так, что ее вогнутая поверхность обращена к вогнутому зеркалу.Интерферометр работает следующим образом.Излучение от источника 1 поступает через телескопическую систему 2 на светоделитель 3, делящий падающий на него поток на два....
Предыдущий патент: Устройство для измерения длины тел в процессе их транспортировки по шлепперу
Следующий патент: Устройство для исследования напряженно-деформированного состояния моделей
Случайный патент: Способ обработки отверстий