Устройство для измерения удельной емкости пленочных конденсаторов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 454463
Авторы: Беспальчик, Глебов
Текст
п 1) 454463 О П И С А Н Й Е ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик. Кл, б 01 п 25/14 21) 1830698/2 22) Заявлено 22,09.72с присоединением з32) Приоритетпубликовано 25.12.74,аявки1 асудврственныи комите 1Саввта й 1 инистров СССРва делам изобретенийи открытий 539.216 2:(5 ллетеньта опубликования описания 31,01.7 Авторыизобретени А. И. Беспальчик и В. Н, Глебов Трудового Красного Знамени ави(71) Заявитель Казанский орд 4) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОЙ ЕМКОСТИ ПЛЕНОЧНЫХ КОНДЕНСАТОРОВанированиес измери 4 располарайоне подаенка.яет т остуиз пспариобкладки 1 и 5.С поер 51 стс 51 изподгота Вл и.напыления, с ес поверх- а 5, а затем мет изобретения Изобретение относится к электроизмерительной техники и может быть использовано для измерения удельной емкости пленочных конденсаторов в процессе их изготовления методом напыления в вакууме.5Известны устройства для измерения удельной емкости пленочных конденсаторов, выполненные в виде конденсатора с двумя обкладками, одна из которых жестко закреплена на корпусе и соединена с измерительным мостом. 10 При этом точность измерения удельной емкости определяется воспроизводимостью геометрических размеров его обкладок.Цель изобретения - повышение точности измерения. 15Достигается это тем, что другая обкладка конденсатора выполнена съемной с закрепленным на ней трафаретом, причем плоскость трафарета расположена под острым углом к плоскости съемной обкладки. 20На фиг. 1 изображено описываемое устройство; на фиг. 2 - то же, вид сбоку; на фиг. 3 - сечение А - А на фиг. 1.Устройство для измерения удельной емкости пленочных конденсаторов выполнено в ви де конденсатора с двумя обкладками 1 и 2. Обкладка 1, съемная, жестко укреплена на корпусе 3, с закрепленным на ней трафаретом 4, образующим угол а (меньший 90) между плоскостью трафарета 4 и обкладкой 3 1. Электрический контакт обкладки 1 с корпусом обеспечивает хоро экр устройства. Обкладка 2 непа тельным мостом,Устройство вместе с трафаретом гается в вакуумной установке в ложки, на которую напыляется пОтверстие трафарета 4 позвол пать парам испаряемого вещества теля на внутреннюю поверхность и осаждаться на ней в виде плени мощью измерительного моста изм менение емкости конденсатора,После напыления устройство вается для следующей операции Для этого обкладка 1 снимается, ности удаляется напыленная пленк она вновь устанавливается. Устройство для измерения удельной емкости пленочных конденсаторов, выполненное в виде конденсатора с двумя обкладками, одна из которых жестко закреплена на корпусе и соединена с измерительным мостом, отл ич а ю щ е е с я тем, что, с целью повышения точности измерения, другая обкладка конденсатора выполнена съемной с закрепленным на ней трафаретом, причем плоскость трафарета расположена под острым углом к плоскости съемной обкладки.454463 фиг.2 иг. г Составитель Н. Блинк Корректор Л. Миронова ехр ПодписиСР пография, пр. Сапунова, 2 едактор Е. Гонч аказ 11611ЦНИИП апраРлгигапара 8 Изд.22осударственного по делам изо Москва, Ж,Тираж 651оцитета Совета Министровретений и открытийаушская наб., д. 4/5
СмотретьЗаявка
1830698, 22.09.1972
КАЗАНСКИЙ ОРДЕНА ТРУДОВОГО КРАСНОГО ЗНАМЕНИ АВИАЦИОННЫЙ ИНСТИТУТ
БЕСПАЛЬЧИК АЛЕКСАНДР ИСАЕВИЧ, ГЛЕБОВ ВЛАДИСЛАВ НИКОЛАЕВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01N 25/14
Метки: емкости, конденсаторов, пленочных, удельной
Опубликовано: 25.12.1974
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-454463-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-udelnojj-emkosti-plenochnykh-kondensatorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения удельной емкости пленочных конденсаторов</a>
Предыдущий патент: Способ контролирования затвердевания нити при формовании из расплава
Следующий патент: Способ определения химического состава и структуры металлов
Случайный патент: Способ очистки газов от фталевого и малеинового ангидридов