Способ определения содержания углерода

Номер патента: 439741

Авторы: Брусиловский, Заблоцкий, Иванов

ZIP архив

Текст

р 1 43974 ОПИСАН И Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз СоветскиХ Социалистицеских Республик) Заявле 51) М. Кл, 6 01 п 23/2 нением заявкиисое 32) Приоритет осударственный кометеСовета Министров СССво делам иэооретенийи открытий Опубликовано Дата опублик 53) УДК 621,386(088,8 5,08,74. Бюллетеньвания описания 14,01.7(72) Авторы изобретения А. Брусиловский, В, К. Заблоцкий и ф, И, Ива Краматорский индустриальный институт(54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ УГЛЕРОД В МАРТЕНСИТЕ ЗАКАЛЕННОЙ СТАЛИз 1 п 015 р по формуле Г. В. Курд где а=амова,р - процентное с решетке март аю = 2,8 б 11 йх,1=1,537 йх. С увеличением содержани щетке мартенсита закаленн дается закономерное смещ линии (222) 1 а 1 в лучах мед ших углов. Положение мак ся от 13705 (отожженная(закаленная сталь, содержа рода). Оценку но извести д еодержание углероенсита,я углерода в реой стали наблюение максимума и в сторону меньсимума изменяет- сталь) до 13520 щая 1,31% углеточ ифф(222) будет иметь вид; Изобретение относится к рентгенографичем способам исследования кристаллов.Известен способ определения содержанияуглерода в мартенсите по степени тетрагональности кристаллической решетки, основанный на измерении расстояния между линиями дублетов дифракционного спектра.Недостатком известного способа являетсяперекрытие составляющих дублета при низких содержаниях углерода и необходимость 10расшифровки уширенной линии перекрывающихся дублетов, что снижает точность определения содержания углерода,С целью повышения точности определениясодержания углерода по степени тетрагональности решетки измеряют смещение дифракционной линии с тремя одинаковыми индексами,В качестве линии с тремя одинаковыми индексами можно использовать линию (222) 2 для 1 са 1 - излучения меди (20 = 137 О 5).Не исключена возможность применения линии (444) для 1 а 1 - излучения молибдена (29 = 11795). Для,поглощения флюоресцентного излучения у регистрирующего счет чика рентгеновского дифрактометра устанавливаются фильтры из алюминиевой фольги определенной толщины.Уравнение Вульфа - Брегга для линии сти этого способа можно пр ренцированием уравнения (11 /с а"- --- з 1 п 29 ЬО, 2 а/ Л439741 Составитель Е. Кохов Техред Е. Борисова Корректор Н, Аук Редактор Л. Цветкова Заказ 3581/17 Изд.1893 Тираж 651 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушская наб., д, 4/5Типография, пр. Сапунова, 2 гдеЛО - ошибка в определении дифракционного максимума в минутах.Чем меньше углерода в решетке мартенсита закаленной стали, тем точнее определяется положение дифракционного максимума, точность определения содержания углерода в мартенсите возрастает.Ошибка ЛО не превышает в среднем 5, степень тетрагональности мартенсита закаленной стали определялась с точностью до 0,0017, содержание углерода в решетке мартенсита - с точностью до 0,015/о.В основу предлагаемого способа можно положить градуировочный график, который устанавливает соответствие между содержанием углерода в мартенсите закаленной стали и положением максимума дифракционной линии (222) в а - излучения меди.Предмет изобретенияСпособ определения содержания углерода в мартенсите закаленной стали, заключающийся в облучении исследуемого образца рентгеновскими лучами и регистрации дифра гированного рентгеновского излучения, о тличающийся тем, что, с целью повышения точности, определяют смещение дифракционного пика с тремя одинаковыми индексами н зависимости от брэгговского угла и 15 по эталонным графикам определяют содержание углерода в образце.

Смотреть

Заявка

1402077, 05.02.1970

КРАМАТОРСКИЙ ИНДУСТРИАЛЬНЫЙ ИНСТИТУТ

БРУСИЛОВСКИЙ БОРИС АРКАДЬЕВИЧ, ЗАБЛОЦКИЙ ВЛАДИМИР КИРИЛЛОВИЧ, ИВАНОВ ФЕДОР ИВАНОВИЧ

МПК / Метки

МПК: G01N 23/20

Метки: содержания, углерода

Опубликовано: 15.08.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-439741-sposob-opredeleniya-soderzhaniya-ugleroda.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения содержания углерода</a>

Похожие патенты