Устройство для измерения параметров транзисторов

Номер патента: 425139

Авторы: Колпакчи, Прашек

ZIP архив

Текст

( ) 425139 Союз Советских СОциьпйстйческих РеюмбттикОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕРЬСТВУ 1) Зависимое от авт идетельства -51) М, Кл. 6 01 г 31/26(32) Приоритет -Опубликовано 25.04,74.Дата опубликования оп Государстееннн:й комитетСовета Министров СССРпо делам изобретенийи открытий юллете 1 ь ЪЪ 1 ания 15,11.74 53) УДК 621,382.3088.8) 72) Авторы изобретецпт Прашек и М. Ф, Колпак Заявител ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯРАНЗИСТОРОВ 54) УСТРОЙСТВ ПАРАМЕТРОВ енератора 1, форнала, резистора 8,Изобретение относится к технике измерения транзисторов в динамическом режиме.Известно устройство для измерения параметров транзисторов в динамическом режиме, содержащее генератор, формирователь тестового сигнала с подключенным к его выходу задающим базовый ток резистором и нагрузкой в цепи коллектора измеряемого транзистора, состоящей из двух последовательно соединенных резисторов, к средней точке которых подключен, источник опорного напряжения. Однако при использовашш известного устройства не может быть обеспечена высокая точность измсрспия параметров транзисторов.Цель изобретения - повышение точности ц расширение пределов измерения,Это достигается тем, что резисторы коллекторцой нагрузки включены между коллекторным выводом и шиной земля, средняя точка между резисторами коллекторной нагрузки соединена через первый переключатель, например поляризованное реле, с выходом формирователя, а эмцттерцый вывод через первый и второй переключатель соединен с выходом формирователя или шиной земля.На чертеже представлена блок-схема предлагаемого устройства.Устройство состоит из гмцрователя 2 тестового сцг включенного между выходом 4 формирователя 2 ц базовым выводом 5,измеряемого транзистора 6, резисторов 7 ц 8, включенных последовательно между коллекторцым выводом 9 ц шиной земля, ключей 10 и 11, элементов 12 и 18 управления ключами.Устройство работает следующим образом.Тестовый сигнал ца выходе 4 формирователя 2 имеет форму двухполярцых прямо- Оугольных импульсов. Импульсы положительной полярности поступают ца токозадающий базовый резистор 8, на элементы 12 и 13 управления ключами. При этом ключ 10 соединяет выход 4 со средней точкой коллекторцых резисторов 7, 8, а ключ 11 - эмиттерцый вывод с землей. Транзистор 6 открывается.Ток коллектора транзистора определяется резистором 7. Тестовые импульсы отрицательной полярности поступают ца те же элементы.При этом ключ 11 отключает эмиттсрцый вывод 14 от земли, а ключ 10 отключает вывод 4 от средней точки коллекторной нагрузки и подключает его к эмиттерцому выводу 14, транзистор 6 закрыт, Выходной сигнал, снц маемый с коллекторного вывода 9 еизмеряемого транзистора 6, представляет собой двухполярцые импульсы. Амплитуда положительной полярности выходных импульсов равна напряжению насыщения измеряемого транзистора. ЗО Амплитуда отрицательной полярности выходГедактор А. Батыгин 1(орректор В, Гутман Заказ 1679/536 Изд. М 842 Тираж 678 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий Москва, Ж, Раушскаи наб., д. 4/5Тип. Харьк. фил. пред. Патент. ных импульсов равна падению напряхкения нарезисторах 7 и 8 от остаточного тока закрытого измеряемого транзистора 6. В предлагаемом устройстве выходные сигналы, соответствующие параметрам открытого и закрытого транзистора, отсчитываются от нулевого уровня, что позволяет лрименять измерительные средства с большим усилием. За счет этого точность измерения параметров в предлагаемом устройстве повышается. В устройстве разделенная коллекторная нагрузка (резисторы 7 и 8) позволяет, изменяя величины сопротивлений резисторов 7 и 8, отдельно задавать ток коллектора (резистором 7) открытого транзистора и падение напряжения от протекающего остаточного тока закрытого транзистора (резистором 8),Устройство для измерения параметровтранзисторов, содержащее генератор, форми рователь тестового сигнала с подключеннымк его выходу задающим базовый ток резистором и последовательно соединенные резисторы нагрузки в цепи коллектора испытуемого транзистора, отличающееся тем, что, с целью И повышения точности и расширения пределовизмерения параметров, резисторы коллекторной нагрузки включены между коллекторным выводом и шиной земля, средняя точка между резисторами коллекторной нагрузки 15 соединена через переключатель, например поляризованное реле, с выходом формирователя, а эмиттерный вывод через первый и второй переключатель соединен с выходом формирователя или шиной земля.

Смотреть

Заявка

1813921, 24.07.1972

В. И. Прашек, М. Ф. Колпакчи

МПК / Метки

МПК: G01R 31/26

Метки: параметров, транзисторов

Опубликовано: 25.04.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-425139-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-parametrov-tranzistorov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения параметров транзисторов</a>

Похожие патенты