Устройство для измерения деформацийи усилий

Номер патента: 412499

Авторы: Межлум, Чаплыгин

ZIP архив

Текст

Союз СоветскихСоциалистическихРеспубпик ОП ИСАНИЕИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ(51) М, Кл. б 011 1 явки И -с присоединение (32) Праоритет Опубликовано 2 осударствеииыи иомитеСеввта Мииистрее СССРпо делам изобретенийи отнри 1 тий 5 З) УДК 531,781) Заявител ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙСИЛИЙ 4) УСТРОЙСТВО Изооретение 1 асможет быть исполбольших усилий,Известны успроГформаций и уоил 1 ийрупий магнитопроводния. лагаемое устичео 1 ая схема Устр о иствФ-образнойвыпол,иена,вторых 2 и 3нитопроводаа третий стереплен вМежду,подв о состоит из магнитопровода 1 формы, средняя часть которото виде трех стержней, два нз 1 оу 1 реплены на нижней части магна эластичных прокладках 4 и 5, ржень б с обмоп 1 ой жестко укверхней части магнитопровода. ижными стержнями и неподвиж- зе мации имагнитотками с целью я часть стержется приборостроения и зовано для измерения пва для измерения де содержащие мапнитоуп с обмоткамн возбужде Данное устроиспво отличается от известных тем, что средняя ча 1 сть магнигопровода выполнена в виде трех стержней, два из которых установлены в нижней части магнитопровода на эластичных про 1 ладках, третий жестко установлен в .верхней части мапнитопровода, а ме 1 ду неподвижным стержнем и подвижными укреплены гуннельные тензочувспвительные кристаллы. Кроме тото, два разноимеопных электрода 1 рнсталлов соединены между собой, а между двумя другими включен вольтмепр.На фиг. 1 изображено предройспво; на фиат, 2 - элекпрего. ным укреплены туннельные тензочувствительные диоды 7 и 8. Намапничивающая обиотпа под 1 лючена 1 источнииу постоянного или переменного тока, Туннельные диоды Р, и Р, шунгировапы резисторами Л, и Л, и в 1 лючены 1 источнику папряжения через добавочные резисторы Рз и Р 4. Резисторами регулируется чувсгьительность устройства, Одни разноименные точки диодов Р, и Р, соединены между собой, а между двумя друпими в 1 лючен измерительный прибор ИПп например,вольтметр, В,работе через намагничивающую оомот 1 у пропускают то 1, и стержни 2 и 3 притягиваются 1 стержню 6, сжимая диоды 7,и 8. При приложенни измеряемого усилия изменяются магнитные параметры магнитопровода 1 и, следовательно, сила притяжения стержней и усилие,на диоды, В результате меняются потенциалы на электродах,диодов, вызывая от 1 лонение стрелки нндикагора нзмерительното,прибора ИПь редмет изобретет 1. Устроиство для измерения дефор усилий, содержащее мапнитоупрупий топровод Ф-образиой формы с об возсуждеви,я, отличающийся тем, что, увеличения чувствительности, средня мапщтопровода выполнена в виде грех, Шагова 419ого комитета Сизобретений и35, Раушская н аказ 1048/206ЦНИИПИ Го Подписноеров СССР ред, Патент п. Харьк. ней, два из которых подвижны и установлены в 1 вижней часпи магнитопровода на эласпичных прокладках, цретий жеспко установлен в верхней части магнитопровода, а между неподвижным стерженем н подвижными укреп Изд,дарственн по делам осква, Ж лены туннельные тензо ву 1 вствительные кристаллы.2. Уст 1 ройство по п. 1, отличающееся тем, что два разноименных элекпрода иристаллов соединены между собой, а между двумя другими вкл 1 очен,вольтметр. раж 760ета Минкрытий

Смотреть

Заявка

1660358, 24.05.1971

В. И. Чаплыгин, А. Р. Межлум Московский автомобильно дорожный институт

МПК / Метки

МПК: G01L 1/18

Метки: деформацийи, усилий

Опубликовано: 25.01.1974

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-412499-ustrojjstvo-dlya-izmereniya-deformacijji-usilijj.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для измерения деформацийи усилий</a>

Похожие патенты