Способ регулирования п-мериого объекта с одним регулирующим воздействием

Номер патента: 1179230

Опубликовано: 15.09.1985

Авторы: Карпов, Лазарев

МПК: G01R 27/26

Метки: контролируемого, объекта, параметров

...отстроиться от таких мешающих Факторов как, например, уход частоты, амплитуды или Аазы генератора питающих на 50 пряжений.Цель изобретения - повышение точности измерений.Поставленная цель достигаетсятем, что в устройстве выход блока 55 Аормирования корректирующего сигнала подключен к управляюцему входу гене- ратора питающих напряжений,Предлагаемое устройство позволяетповысить точность измерений, управляяхарактеристиками преобразователей засчет изменения параметров питающихнапряжений, например амплитуды, частоты или Фазы.На чертеже представлена блок-схема устройства.Устройство содержит генератор 1питаюцих напряжений, параметрическиепреобразователи 2 и 3, блок 4 Формирования корректирующего синала ииндикатор 5 Позицией б...

Номер патента: 633164

Опубликовано: 15.11.1978

Автор: Новиков

МПК: H04N 7/18

Метки: геометрических, наблюдаемых, объектов, параметров, телевизионное

...блок 5, исполнительный блок 6, выход которого связан с наблю-.даемым объектом 7.Телевизионнодующим образом При включении устройства производится оматический анализ наблюдаемого объекили нескольких объектов из находяя в поле зрения телевизионного датчи.633164 Формула изобретения Составитель 1 Е. ПТехред О. ЛуговаяТираж 763 а Корректор Е. Дичинская Подписное Редактор Т. Янова Заказ 6572/47 Министроврытийаб., д. 4/5Проектная ИИПИ Госуда 33035,Филиал ПЙтета С иий и Раушск Ужгоро ственного ком елаи иаобретсква, Ж, Патент, г. ка 1 в зависимости от программы, установленной в блоке 2,блок 2 совместно с блоком разрешения 3 выдает командный сигнал на прохождение 5 первых импульсов наблюдаемого объекта 7. В результате совместно с приходящим...

Номер патента: 949334

Опубликовано: 07.08.1982

Авторы: Жаворонкова, Захарин, Проценко, Торопов

МПК: G01B 7/16

Метки: вращающихся, динамических, объектов, параметров

...связи, параллельно включенными нагрузочным сопротивлением 7и дополнительной обмоткой 8,размещенными в статоре питающего токосъемника 4, и с вращающейся обмоткой 9, размещенной на вращающемсяобъекте 10 тензометрический мост11, также размещенный на вращающем -ся объекте 10, передающий бесконтактный токосъемник 12 трансформа-торного типа с вращающейся обмоткой13 и неподвижной обмоткой 14, регистрирующий блок 15, задатчик 1 бопорного напряжения и блок 17 сравнения, входы которого соединены сдополнительной обмоткой 8 и выходомзадатчика 16 опорного напряжения, авыход - с управляющим входом регулируемого усилителя 2.Устройство для измерения динамических параметров вращающихся объектов работает следующим образом.Генератор 1 прямоугольного...

Номер патента: 1670394

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Дрозд, Поперенко, Щайкевич

МПК: G01B 11/30

Метки: объекта, параметров, поверхности, поляризационных, рефлектометр

...размещена в плоскости, перпендикулярной плоскости столика 1, а другая - в плоскости горизонтально расположенного столика 2.Рефлектометр работает следующим образом,Направленное вдоль оси 00 излучение1попадает на зеркало 3, при вращении которого вокруг оси, перпендикулярной оси 00, излучение поочередно направляется либо на столик 1, либо на столик 2, а затем, после отражения от эталонного и контролируемого объектов и соответственно зеркал 10 и 11, направляется на зеркало 4, направляющее поочередно (вследствие кинематической связи с зеркалом 3) излучение либо от эталонного, либо от контролируемого объекта к фотоприемнику 5, где регистрируемый сигнал переменного тока (напряжения) прямо пропорционален уровню различия коэффициентов отражения...

Номер патента: 1825978

Опубликовано: 07.07.1993

Автор: Гуров

МПК: G01B 21/02

Метки: геометрических, объекта, параметров, поверхности

...блок 7 может быть ре 40 ализован на базе персональных микроЭВМ,например, типа ДВК или семейства 1 ВМ.Световые пучки 8-12 могут быть непараллельными, расположенными под некоторыми углами друг к другу для расширения45 области измерений поверхности объекта.Аттестация образцовой поверхности 4может быть предварительно проведена с ис, пользованием меры плоскостности(аттестация расположения отражателей 18 - 22вдоль осей световых пучков 8-12) и мерыкруглости (аттестация ориентации отражателей 18-22 по углу).Мера плоскостности реализуется, например, в виде оптического клина круглой55 формы (по диаметру объекта в вертикальнойплоскости), причем одна из поверхностеймеры выполняется с высокой плоскостью иаттестуется. Расстояние от...