Алмазное сверло

Номер патента: 671490

Опубликовано: 07.10.1981

Авторы: Агеев, Петух, Розанцев, Янковский

МПК: G01N 1/00

Метки: микропробы, поверхностного, слоя

...подложки,которая должна быть прозрачна для 15излучения ОКГ, возможность ослабления потока энергии, передаваемогоповерхности анализируемого образцаиз-за, например, отражения частиизлучения подложкой. 20В предлагаемом изобретении с цельюсбора проб определенного фазовогосостава подложку устанавливают перпендикулярно поверхности образцанавстречу продуктам эрозии. 25Распределение пробы по фаэовомусоставу происходит по высоте подложки. Вращение анализируемого образцаприводит к искривлению траекториидвижения продуктов эрозии по мереудаления их от оси вращения образца,причем вследствие существенной разницы в скоростях удаления(точнеев моментах количества движения) продуктов эрозии в парообраэной и жидкой фазах, большее искривление...

Номер патента: 712657

Опубликовано: 30.01.1980

Авторы: Беркович, Емельянов, Матвеевский, Романов

МПК: G01B 11/02

Метки: слоя, толщины

...15 наконечник 10, а на верхнем - зеркало 11.При вращении гайки 5 втулка 3 со штоком 2, подвешанным в свободном состоянии на подвесках 6 и 7, перемещается, изменяя положение зеркала 11 относительно неподвиж ного зеркала, расположенного в стакане 12.К трубке 1 жестко закреплена коробка 13, внутри которой установлены разделитель: ая плоскопараллельная пластина 14 и компепсатор 15, К коробке 13 крепится микро скоп 16 со шкалой, источник света 17, кондепсорпая линза 18 и светофильтр с ручкой ,.оворота 19. На штоке 2 установлена пло;."дка 20 для размещения груза.Устройство работает следующим образом.30 Трубка 1 интерферометра подводится кповерхности исследуемого образца так, что10 20 бы наконечник 10 отстоял от поверхности образца на...

Номер патента: 747524

Опубликовано: 15.07.1980

Авторы: Володин, Галка, Гулида, Клименко, Курочка, Левченко, Преображенский, Симонов, Степанов, Чепурных

МПК: B03B 5/24

Метки: датчик, слоя, сопротивления, толщины

...манометром 13,Изоляция манометрических труб от загрязненной технической воды отсадочной машины эластичными мембранами 14 и 19 устраняет забивание каналов 18 в клапане 17 и каналов 6 в седле 4.Датчик работает следующим образом, Перед началом работы манометрическую трубу 1 заполняют чистой водой 21, а манометрическую трубу 8 чистой водой 22 и устанавливают датчик в рабочей камере отсадочной машины так, чтобы манометрические трубы 1 и 8 были погружены в рабочую среду 23, При этом манометрическую трубу 1 устанавливают таким образом, чтобы мембрана 14 была расположена под решетом 2 отсадочной машины, а манометрическую трубу 8 устанавливают в рабочей камере так, чтобы нижний конец ее с косым срезом 16 находился несколько ниже поверхности...

Номер патента: 1157098

Опубликовано: 23.05.1985

Авторы: Борц, Гаркуша, Ксендзовский, Кудрин, Островский, Семенов, Уланов

МПК: C22B 1/20

Метки: газопроницаемости, конвейерной, машине, подвижной, решеткой, слоя

...газопроницаемости слоя материала на конвейерной машине с подвижной решеткой;на фиг. 2 и 3 - блок-схемы блокавыравнивания давления и блока вычисления соответственно,Устройство содержит датчик 1 давления газа над слоем материала, нулевую вакуум-камеру 2 с датчиком 3давления газа, измерительный газоход 4с датчиками .5 давления и 6 расходагаза и дросселем 7, исполнительныймеханизм 8, блок 9 выравниваниядавления и блок 10 вычисления.Блок-схема блока 9 выравниваниядавления (фиг. 2) содержит элемент 11сравнения и регулятор 12 расхода газа, причем первый и второй входы элемента 11 сравнения являются соответственно первым и вторым входами блока 9 выравнивания давления, выходэлемента 11 сравнения соединен с регулятором 12 расхода газа, а...

Номер патента: 1793355

Опубликовано: 07.02.1993

Авторы: Вагин, Филинов

МПК: G01N 27/83

Метки: информативного, контроле, магнитошумовом, слоя, толщины

...в образце толщиной б создают в упругой области последовательно одноосным растяжением ичетырехточечным изгибом, производят измерения ЭДС МШ Ер и Еи соответственнопосле каждого нагружения, нагружение осуществляют до одинаковых значений напряжений на поверхности образца, а толщинуинформативного слоя Л определяют из соотношенияЕдЕр - Еогде Ео- ЭДС МШ в ненагруженном образце,.а также осуществляют каждое нагружение до получения одинаковых значений ЭДС МШ, определяют величины соответствующих напряжений сто и (ъи на поверхности образца, а толщину информативного слоя Ь определяют из соотношения(3) Ер - Ео бчто следует из геометрических построений фиг. 1,При нагружении до одинаковых величин ЭДС МШ площади эпюр напряжений при растяжении Яр...