358923

Номер патента: 117780

Опубликовано: 01.01.1958

Автор: Васбен

МПК: A23F 3/00

Метки: зеленого, качества, листа, оценки, чайного

...в основном и ченный недостаток оценки ем, что, с целью получени качесгво листа определяют ачества зе более точ о удельно чайного листа д прессуют,тс соображ находится в, рдстворим ещества нахо(в виде со и о чае под ости от кон рая возраста мума в концение, что в прямой ого тан дятся в динений верждае центраци ет с серед е июля и качество зеле- зависимости от нина, эфирных соке как в свос другими вет, что качество и растворенных ины апреля (от на протяжении цен;ка. астворенных в чаином со инят удельный вес чайно бирают среднюю пробу в чюдая правила, предписа За показатель концентрации р веществ в предлагаемом способе пДля осуществления способа о 100 г зеленого чайного листа, соб да ртом,Отобранную пробу листа подв отдачи сока клеточной...

Номер патента: 294755

Опубликовано: 01.01.1971

Авторы: Голубое, Никишов

МПК: G01N 29/18

Метки: древесностружечныхплит, качества

...редме есцостружеч ццх ультраего прохожцелью обеслиты воздей - 65 кгпв, а ения его по Способ контроля кацых плит путем воздезвуком ц регистрацитдениц, Отл//че//О//(//Йсяпечения точности контству/от ультразвукомрегистрируют скоростширине плиты./ества древ йствия ца скорости тем, что, с роля, на п частотой 5 ь прохожд вязь с пплит, ко разме Контр и ависимое от авт, свидетельстваИзвестны способы контроля качества древесностружечных плит воздействием на нихультразвуком.Целью изобретения явточности контроля.По предложенному способу на плиты воздействуют ультразвуком частотой 55 - б 5 кг//,а регистрируют скорость прохождения его поширине плиты,Способ осуществляется следующим образом.На кромках плиты ца противоположныхточках одного поперечного...

Номер патента: 337855

Опубликовано: 01.01.1972

Авторы: Клепикова, Российский

МПК: H01L 31/08

Метки: качества, керамики

...приемником прошедшего через изделие светового потока.Для обеспечения возможности сортировки керамики на грунины по степени обжига по предлагаемому способу изделие подвергают просвечиванию двумя, последовательными монохром атическими световыми импульсами различной длины волны и регистрируют интенсивность преломленных световых потоков.Сущность предлагаемого способа заключается в следующем,При прохождении луча света через керамику он претерпевает ослабление за счет поглощения и рассеивания, зависящее в основном от коцентрации рассеивающих частиц и от отношения диаметра этих частиц (в первую очередь, пор) к длине волны;падающего света. Причем световые лучи с меньшей длиной волны претерпевают большее ослабление в образцах с...

Номер патента: 391437

Опубликовано: 01.01.1973

Автор: Авторы

МПК: G01N 3/00, G01N 33/38

Метки: известняка, качества

...при растрескивании во время обжига в известково-обжигательных печах.Достигается это тем, что определяют показатель растрескивания, как отношение суммарных уровней акустических шумов испытуемого к эталонному известняку в интервале 3000 в : 5000 га при нагреве образцов одно. родной фракции до 500 в : 1200 С со скоростью 50 - :400 С/мин.Навеску испытуемого известняка в количестве 80 г фракции 5 - 7 лтл 1 засыпают в вертикально расположенную трубчатую электро- печь, разогретую до 1100 С, что обеспечивает нагрев навески известняка до 600 С со скоростью 100 С(мин, Затем в верхнем торце печи устанавливают микрофон, защищенный асбестовой тепловой изоляцией. Звуки от растрескивания регистрируют при частоте 3000 в : 5000 га в виде...

Номер патента: 542151

Опубликовано: 05.01.1977

Авторы: Голомедов, Домнин, Пиорунский, Удовик, Федоров

МПК: G01R 31/28, H01L 21/66

Метки: интегральных, качества, монолитных, схем

...крис ным условием является выполне нентов на кристалле такими, ч совершенно одинаковую конфигур зательным требованием является н542151 20 30 35 Составитель В. Немцев Тсхред М. Левицкая Редактор Г. Орловская КоРРектоР А Лакида Заказ 5968/29 Тираж 1032 Подписное ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 лансирования транзисторов дифференциальной тестовой пары.Тестовые структуры могут содержать, кроме транзисторов дифференциальной пары, также другие компоненты - транзисторы, резисторы, диоды.Измерение относительных приращений тока через транзисторы и относительных приращений коэффициента усиления...