Способ контроля качества керамики
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 337855
Авторы: Клепикова, Российский
Текст
0 П И С А Н И Е 337855ИЗОЬЕЕТИНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических РеспубликЗависимое от авт. свидетельстваЗаявлено 22.Ч 1.1970 ( 1451549/26-9)с присоединением заявкиПриоритетОпубликовано ЗО,Х 1,1971, Бюллетень15Дата опубликования описания 7.И.1972 М. Кл. Н 011 17/00 Комитет ло делам изобретеиий и открытий при Совете й 1 ииистрав СССРУДК 621,396,692(088.8) Авторыизобретени В. А. Россинский и Н епиков явител СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КЕРАМИКИ Последователь рой лучей образ с присущей ей х тостью покаже меньшей длины ное просвечивание такои паа с недожженной структурой елкой и значительной,порнсбольшее ослабление луча волны структурой пса крупная по- ее ослабление Р (1", либо = 1". В,последше с Просвечивание образца сорежога, которому свойственнристость, покажет либо большлуча большушей длины волныих одинаковое ослабление Рнем случае 1= 1."будет мень ия редмет Изобретение относится к радиоэлектронной технике, в частности к изготовлению резисторов, широко используемых в радиоаппаратуростроен ни.Известный способ контроля качества керамики, например оснований тонкопленочных резисторов, осноьан на регистрации фотоэлектрическим приемником прошедшего через изделие светового потока.Для обеспечения возможности сортировки керамики на грунины по степени обжига по предлагаемому способу изделие подвергают просвечиванию двумя, последовательными монохром атическими световыми импульсами различной длины волны и регистрируют интенсивность преломленных световых потоков.Сущность предлагаемого способа заключается в следующем,При прохождении луча света через керамику он претерпевает ослабление за счет поглощения и рассеивания, зависящее в основном от коцентрации рассеивающих частиц и от отношения диаметра этих частиц (в первую очередь, пор) к длине волны;падающего света. Причем световые лучи с меньшей длиной волны претерпевают большее ослабление в образцах с недокженной керамикой. А в образцах со структурой,пережога претерпевают большее ослабление световые лучи с большей длиной волны. пособ осуществляется следующим обра зом.Монохроматические лучи света разной длины волны, например красного Х 1 и синего Хз, 5 подбираются по интенсивности таким образом, чтобы на образцах нормального обжига (эталонах) токи фотоприемника от соответствующих лучей были бы равны, )Хо - о Способ контроля качества керамики, например оснований тонкопленочных резисторов, основанный на регистрации фотоэлектрическим приемником прошедшего через изде337855 Составитель Н, Герасимова Техред Л. Богданова Корректор В. Жолудева Редактор Т. Иванова Заказ 1531/16 Изд. М 674 Тираж 448 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобрегепий и открьпий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 лие светового потока, отлича 1 ощийся тем, что, с целью обеспечения возможности соргировки керамики на группы по степени обжига, изделие подвергают просвечиванию двумя последовательными монохроматическими световыми импульсами различной длины волны и регистрируют интенсивность,преломленных световых,потоков.
СмотретьЗаявка
1451549
В. А. Российский, Н. Г. Клепикова
МПК / Метки
МПК: H01L 31/08
Опубликовано: 01.01.1972
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-337855-sposob-kontrolya-kachestva-keramiki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ контроля качества керамики</a>
Предыдущий патент: Кассета для групповой фиксации полупроводниковых приборов
Следующий патент: Герметичный цилиндрический аккумулятор
Случайный патент: Устройство для сборки и калибровки труб под сварку