Способ определения точки кюри ферритов

Номер патента: 310135

Авторы: Белицкий, Овчинников, Урсул

ZIP архив

Текст

ОПИСАНИЕ ЗЮЗбИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ тоюз Советских Социалистических Республик(Рй 1416370/18-10 висимое от авт. с ПК С 011 7/,3 Заявл 16.1.1 с присоединением заявки Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРриоритет УДК 536,5:538,665(088.8) Опубликовано 26,Ч 11.1 юллетень2 971 та опубликования описан Авторызобретения Н. Д. Урсуляк, Е, И. Гешко, М. А. Овчинников и А, В. Белицкий Заявите ЙОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЧКИ КЮРИ ФЕРРИТО ается в том, чтоинтенсивностей тх линий аноемпературы точреходом из ферпарамагнитное. ределения точки яется построениеинтенсивностей1 нтгеновских линии о мпературы 1 по альная интенсивракционной линии уре То (например, ра, 300 К), Ут - те. ности. Измерение ти дифракционной Брега в пределах едено с помощью чертеже приведенасть логарифма отноинтенсивностимонокристалличесаббае 01 Измере атурная зави.ои интегр аль.цпонной лиферрограната оводились на темпе ситель лифра когония п Настоящее изобретение относится к области температурных исследований и может быть использовано для определения точки Кюри на микрообъемах монокристаллических и поликристаллических ферритов одновременно с измерением параметра кристаллической решетки.Известно несколько способов определения точки Кюри: по максимуму температурного коэффициента сопротивления, по максимуму отрицательного гальвано-магнитного эффекта, по исчезновению самопроизвольной намагниченности или путем экстраполяции температурных кривых истинной намагниченности к нулевому их значению, по обращению в нуль начальной проницаемости и т. д.Основным недостатком всех перечисленных способов следует считать зависимость точности измерений от массы образца (в случае малых образцов). Некоторые из методов измерений не пригодны для определения точки Кюри на образцах произвольной формы.Для повышения точности определения точки Кюри ферритов на микрообъемах вещества10 е смз) произвольной формы, в том числе и на пленках, одновременно с измерением параметра кристаллической решетки. Это достигается тем, что снимают температурную зависимость интенсивности дифракционных рентгеновских линий и по аномальному спаду этои интенсивности определяюискомую точку.Сущность способа заключтемпературная зависимостьдифракционных рентгеновскмально уменьшается вблизи тки Кюри, что обусловлено перомагнитного состояния вДля практических целей опКюри более приемлемым явллогарифма относительных 15= 1( Т), где Уо - интегрность рентгеновской дифпри некоторой температТ, - комнатная температукущее значение интенсивинтегральной интенсивнослинии с углами Вуньера -Г ) 45 может быть провстандартных приборов.Точность определения то25 же +1,Насимонойнии30 уз) е 4310135 4 Ю ФЯ 50 51 А 2 55 5 и 02 Составитель И. И, Дубсон Техред Л. Я. Левина Корректор 3. И. Тарасова Редактор С, И, Хейфиц Заказ 2634/2 Изд.1120 Чираж 473 ПодписноеЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр, Сапунова, 2 3установке УРСИМ в монохроматическом СцК 2-излучении с применением в качестве монохроматор а кристалла 1.1 Р. Пр едмет изобретения Способ определения точки Кюри ферритов,отличающийся тем, что, с целью повышения точности определения на микрообъемах ферритов произвольной формы, снимают температурную зависимость интенсивности дифракционных рентгеновских линий и по аномаль ному опаду этой интенсивности определяютискомую точку.

Смотреть

Заявка

1416370

Н. Д. Урсул Е. И. Гешко, М. А. Овчинников, А. В. Белицкий

МПК / Метки

МПК: G01K 7/38

Метки: кюри, точки, ферритов

Опубликовано: 01.01.1971

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-310135-sposob-opredeleniya-tochki-kyuri-ferritov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения точки кюри ферритов</a>

Похожие патенты