Способ анализа микрообъектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 271098
Автор: Бочарников
Текст
271098 Союз Советских Социалистических Республик(л. 421,20672526-25) Комитет по делам зобретений и открытий при Совете Министров СССРМПК 6 01 п риоритетпубликовано 12 Х.19 ДК 620.186.1(088,8) ллетень М Авторизобретения В. В, Бочарников аявите СОБ АНАЛИЗА МИ БЪЕКТОВ иза микрообъектов вания изображения и измерения спектделяемых. фаз на спектра. рого пропорционале отношений частному лог зо мо ч,11 пНа устр соба сти ска пир уемог ное оптической си ируется цветодели оздействует на фо ватель 4. у,т", гд С выхода вляющиеся тей Ь Ьз ичных уча ычислител преобрафункцит Ьз постках спного уст ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свиде Заявлено 25.Х 11.1967 ( с присоединением заявке ата опубликования описания 11 Х 111.1970 Известны способы а на с использованием сканир объекта световым лучом ральной яркости зерен вь двух различных участках Предложенный способ отличается от известного тем, что исследуемый объект освещают светом по крайней мере с тремя различными диапазонами длин волн и по частному логарифмов отношений яркости зерен судят о фазовом составе объекта. Это позволяет исключить влияние вариаций толщины зерен на результат анализа и повысить его точность. ертеже изооражен один из вариантов ства для реализации описываемого споИзображение поверхнопрепарата 1, сформировастемой 2, монохроматительным устройством 3 итоэлектрический преобраз ователя 4 токи 1 12 и 1; ями спектральных яркоеньшей мере в трех разктра, поступают на вход ройства 5, ток на выходе- токи на выходе преобразователя, пропорциональные Ь Ь. и Ьзпервичный световой поток от источника;- коэффициент, учитывающий рассеяние и поглощение света различными спектрально изотропными неоднородностями и включениями фазы;Сио ниро 8 оние Ос Регулие,Составитель М, 3. ПантелеевРедактор Н, Г. Михайлова Тсхрсд Л. В, Куклина Корректор С. А, Кузовенкова Заказ 2207, 7 Тираж 480 ПодписноеЦ 1-1 ИИПИ Когиитста по делах изобретений и открытий при Совете Министров СССРМосква, )К, Раугпская иаб д. 4 5 1 ипография, пр. Сапунова, 2 т - удельный коэффициентсветопропуская (т11 на единицу толщины й;К - коэффициент пропорциональности.Из формулы следует, что ток 1 на выходе вычислительного устройства свободен от основных возмущающих факторов: вариации толщины Й от зерна, рассеяния и поглощения света у и нестабильности первичного светового потока с 1), а зависит лишь от удельных спектральных коэффициентов светопропускания, являющихся индивидуальной характеристикой выделяемой фазы. Способ анализа микрообъектов с использованием сканирования изображения объекга светсвым лучом и измерением спектральной яркости зерен фаз, отличаюгчаггся тем, что, с цельс исклочсния вариаций толщины зерен на результат анализа и повышения его точно- ности, исследуемый объект освещают светом 10 по крайней мере с тремя различными диапазонами длин волн и по частному логарифмов отношений яркости зерен судят о фазовом составе анализируемого объекта,
СмотретьЗаявка
1206725
В. В. Бочарников
МПК / Метки
МПК: G01N 21/27, G01N 33/10
Метки: анализа, микрообъектов
Опубликовано: 01.01.1970
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-271098-sposob-analiza-mikroobektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ анализа микрообъектов</a>
Предыдущий патент: Ан ссср _
Следующий патент: Папитно-. -цiw тьхмиеshijtts»aститу
Случайный патент: Метчик