Способ определения направления

Номер патента: 265543

Автор: Левитан

ZIP архив

Текст

ОПИСАН И ЕИЗОБРЕТЕНИЯК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 265543 Союз Советских Социалистических Республик, 421, 3/ 26-2 ЧПК С 01 п Хомитет по делам зобретений и открыти при Совете Министров СССРиоритет К 538.69:539.124 (088.8) публиковано 09.111,1970, Бюллетень10ата опубликования описания 26.И,1970 Автор зобрете Б. Левитан Заявител СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАПРАВЛЕНИЯ КРИСТАЛЛОГРАфИЧЕСКОЙ ОСИ ОДНООСНЫХ ПАРАМАГНИТНЫХ КРИСТАЛЛОВ1Изобретение относится к радиоспектроскопии методом электронного парамагнитного резонанса.Известен способ определения направления кристаллографической оси одноосных пара- магнитных кристаллов на основе метода электронного парамагнитного резонанса, согласно которому кристалл вращают вокруг одной, а затем вокруг другой оси, которые перпендикулярны направлению постоянного магнитного поля, для каждой оси определяют четыре угла поворота, при которых наблюдается спектр электронного парамагнитного резонанса, соответствующий выбранному значению угла между направлением кристаллографической оси и направлением магнитного поля, и вычисляют направление кристаллографической оси. Недостаток этого способа заключается в необходимости проводить две серии измерений для двух различных осей. Это усложняет и удлиняет процесс определения направления оси.Описываемый способ позволяет упростить и ускорить измерение направления оси, а также дает возможность измерять направление кристаллографической оси образцов, один из которых, будучи больше других, сравним с резонатором спектрометра электронного парамагнитного резонанса или больше него. Это достигается благодаря тому, что кристалл вращается вокруг оси, которая неортогональна направлению магнитного поля, и по четырем углам поворота, при которых наблюдается спектр электронного парамагнитного резонан са, соответствующий выбранному значениюугла между направлением кристаллографической оси и магнитным полем, вычисляют направление кристаллографической оси.Способ поясняется чертежом.10 Система координат Х - У неподвижна в пространстве. Будем считать, что исследуемый кристалл вращают вокруг оси 2, направление магнитного поля Н лежит в плоскости 20, а угол между направлением поля и осью У ра вен сс, При вращении образца вокруг оси направление кристаллографической оси описывает коническую поверхность а. Поверхность конуса б представляет собой геометрическое место направлений кристаллографической 20 осц, при которых наблюдается заданныйспектр электронного парамагнитного резонанса, соответствующий углу О между направлением магнитного поля и направлением кристаллографической оси. При вращении кри сталла вокруг оси Л при четырех углах поворота р 1 - р 4 можно зарегистрировать спектр электронного парамагнитного резонанса, соответствующий заданному углу О между направлением кристаллографической оси и маг нитным полем,265543 Составитель В. ШатровТекред Л. Я. Левика Корректор Л. Веденеева Редактор Б. Б. Федотов Заказ 610/12 Тираж 480 Подписное ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Ж, Раушская наб., д. 4/5 Типография, пр. Сапунова, 2 Для этих углов поворота кристаллографическая ось параллельна одной из прямых, по которым пересекаются конические поверхности а и б. По определенным экспериментально углам гр, - р 4 можно определить угол у между проекцией направления кристаллографической оси на плоскость ХОУ и осью У для первоначальной ориентации кристалла (до вращения), а используя систему уравнений в 2 Хв+ У- = Ув 1 зо Хв + (Л соза - У з 1 пк) в = (У сова +определяющую прямые, по которым пересекаются конусные поверхности, можно определить угол б между направлением кристаллографической оси и осью Л. Значения угла у лежат в пределах 0 - 360, угла о - 0 - 90. Для случая, представленного на чертеже, У = : = 540 - т= 540 5Пр едмет изобретенияСпособ определения направления кристаллографической оси одноосных парамагнитных кристаллов на основе метода электронного парамагнитного резонанса, отличающийся 10 тем, что, с целью упрощения и ускорения измерений, кристалл вращают вокруг оси, которая неортогональна направлению постоянного магнитного поля, и по четырем углам поворота, при которых наблюдается спектр 15 электронного пар амагнитного резонанса, соответствующий выбранному значению угла между направлением кристаллографической оси и магнитным полем, вычисляют направление кристаллографической оси.

Смотреть

Заявка

1145832

Д. Б. Левитан

МПК / Метки

МПК: G01N 24/10

Метки: направления

Опубликовано: 01.01.1970

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-265543-sposob-opredeleniya-napravleniya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения направления</a>

Похожие патенты