Магнитная система широкодиапазонного бета-спектрографа
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 241057
Автор: Басаргин
Текст
пй.: " ,ь О П И С-А-Й И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ 241057 Союз Советских Социалистических РеспубликК АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Зависимое от авт. свидетельствахл. 421 т, 20/02 44672(26-25 аявлено 27.111.1967 ( исоединением заявкиМПК Ст 0 Приоритет Комитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР(088.8) убликовано 01.11(.1969. Бюллетень13 та опубликования описания 18 Л 111,1969 Авторизобретения. Г. Басарги явител НИТНАЯ СИСТЕМА ШИРОКОДИАПАЗОННОГО БЕТА-СП ЕКТРОГРАФА ота спектроПринципиальная схемаграфа поясняются фиг. 1 углов ат и аз ии в областяхаь =- 60, аз = частиц, вылеавлению центолнены усло фокусировки акже условия подоорать 1 ентральн гакже КК,114, источник раскторгп льной и фокусиро ки второг величину ой траектор например чтобы для а не по нап, были вып ертикально ка), а т о порядка.= 5745,тающих изральной твия радиа30 (двойнаяфокусиров Данное изобретение относится к устройствам для регистрации и анализа заряженныхчастиц.Известны магнитные системы широкодиапазонных бета-спектрог рафов, содержащие электромагнит со стальным магнитопроводом и обмотками возбуждения.Недостатком спектрографа с полукруговой радиальной фокусировкой является ограничение в светосиле из-за отсутствия вертикальной фокусировки, а также в связи с аберрациями второго порядка.Предлоькенная магнитная система позволяет увеличить светосилу спектрографа, Она отличается тем, что полюсные наконечники магнита имеют ступенчатую форму и образуют две области с различными плоскопараллельными воздушными зазорами таким образом, что пересекаемые частицами границы ступенчатых полюсных наконечников и находящаяся вне магнитного поля фокальная линия лежат вдоль прямых, пересекающихся в точке размещения источника, находящегося в области большего зазора.Параметры магнитной системы обеспечивают радиальную и вертикальную фокусировку на фокальной плоскости и компенсируют аберрацию второго порядка в медианной плоскости. Это повышает светосилу прибора или разрешающую способность при той же светосиле. Центральная траектория вылетающих из 5 находящегося в магнитном поле точечногоисточника частиц с заданным импульсом состоит из трех участков - дуги ОР радиуса о 1, дуги Р(. радиуса ел = ви отрезка пряРь10 мои (.Л. В области ( напряженность однородного магнитного поля равна Н,; в области П Нз -- КНь причем К) 1; в области П( поле отсутствует. Плоскопараллельный зазор в областибольше зазора в области П (см.15 фиг. 2). Границы областей магнитного поля ифокальная линия расположены вдоль прямых (ОХ ОХ ОХз), пересекающихся в точке размещения источника, что обеспечивает геометрическое подобие центральных траекторий.20 На границе областей ( и П частицы испытывают вертикальную фокусировку.241057 Составитель Х. А. ЯрвелаТехред А. А. Камышникова Корректор С. М, Сигал дактор Б. Б. Федотов Тираж 480 по делам изобретений и открытий при Совете Москва, Центр, пр. Серова, д. 4нпография, пр. Сапунов Предмет изобретения Магнитная система широкодиапазонного бета-спектрографа, содержащая электромагнит со стальным магнитопроводом и обмотками возбуждения, отличающаяся тем, что, с целью увеличения светосилы за счет одновременного удовлетворения условий двойной фокусировки и радиальной фокусировки второго порядка, полюсные наконечники магнита имеют ступенчатую форму и образуют две области с различными плоскопараллельными воздушными зазорами таким образом, что пересекаемые частицами границы ступенчатых полюсных наконечников и находящаяся вне магнитного поля фокальная линия лежат вдоль прямых, пересекающихся в точке размещения источника, находящегося в области большего зазора.10
СмотретьЗаявка
1144672
Ю. Г. Басаргин
МПК / Метки
МПК: F16F 6/00
Метки: бета-спектрографа, магнитная, широкодиапазонного
Опубликовано: 01.01.1969
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-241057-magnitnaya-sistema-shirokodiapazonnogo-beta-spektrografa.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Магнитная система широкодиапазонного бета-спектрографа</a>
Предыдущий патент: Устройство для анализа ограниченного участка микроскопического препарата
Следующий патент: Способ регулирования принудительного охлаждения крупных отливок в формах
Случайный патент: Стенд для нагружения синхронных машин при испытаниях