Прибор для измерения длин

Номер патента: 274373

Опубликовано: 01.01.1970

Автор: Эцин

МПК: G01B 9/02

Метки: интерференционный, малых, прибор

...10 блок 1 б.Дополнительное зеркало 5 выполнено в виде посеребренной пластинки, одна из коротких граней которой срезана под острым углом по отношению к ее посеребренной стороне, Зерка 1 Б ло установлено в ходе световых лучей междуобъективом 4 и диафрагмой 8 коллиматора под таким углом, чтобы оптическая ось коллиматора проходила через срез пластинки. В качестве интерферометра используется клиновой 20 многолучевой интерферометр (8 и 9).При подаче напряжения от блока 12 пьезоэлемент 11 приводится в колебательное состояние с амплитудой, составляющей небольшую долю длины волны света, Подавая 25 на пьезоэлемент 11 напряжение постоянноготока от блока И, можно осуществлять смещение зеркала 9. Сигнал фотопреобразователя 10 принимается блоком...

Номер патента: 968605

Опубликовано: 23.10.1982

Автор: Чехович

МПК: G01B 11/02

Метки: размеров, фотошаблонов, элементов

...света амплитудно делится первым светоделителем 19 на два потока, один изкоторых попадает на линзу 20, а второй, отклоненный зеркалом 35, - впреобразователь 4 линейных перемеще Оний, Линза 20 фокусирует поток, который, пройдя точечную диафрагму21, амплитудно делится вторым светоделителем 22 на два потока, один иэ,которых попадаеТ в проекционный канал 23, а второй - в канал 27 ориентации. Объектив 26 проекционного канала проецирует изображение щелиточечной диафрагмы 21 на плоскостьтопологии фотошаблона 7 фокусируетизлучение ). Прошедший через фотошаблон 7 световой поток попадает через объектив 9, коллимирующий его ищелевую диафрагму 10 в интерферометр11. В соответствии с выбранной разностью хода, равной нечетному числуполуволн...

Номер патента: 1046611

Опубликовано: 07.10.1983

Авторы: Глазунова, Золотухин, Поляков, Рожнов, Трифонов

МПК: G01B 11/30

Метки: зеркальных, поверхностей, шероховатости

...составляющей световогопотока и периодический сигнал отзеркальной составляющей,Минимальное значение регистрируемого сигнала 3, обусловлено диффузной составляющей 3 фиг. 2)фи, (1)где К - некоторый постоянный коэффициент преобразования Фотоприемника на уровне 3 ш,.Максимальное значение 3 обусловлено суммой диФФузной Ф и зеркальной ф составляющих излученияад = М (ф 4+ф 6),где К - постоянный коэффициент преобразования Фотоприемника на уровне Зще сли сигналы 3 п);и 2,с,имеФтблизкие по величйне значейия и измеряются одним фотоприемником, то К = К и отношение сигналов(3)не зависит от временных и иных характеристик фотоприемника, что обеспечивает более высокую стабильность работы устройства и, следовательно, более высокую точность...

Номер патента: 1170375

Опубликовано: 30.07.1985

Автор: Шмарев

МПК: G01R 23/16

Метки: магнитооптический, спектроанализатор

...обеспечения задания весовых коэффициентов в разрядах значениями 1 и 0 ориентация поцяризатора 9 выбирается под углом (2 +Я) к оси поляризации падающего на кристалл,лазерного излучения (где 0. - угол Фарадеевского вращения поляризации . в магнитооптическом кристалле). В этом случае через домены одного направления намагниченности свет вообще не проходит, что соответствует коэффициенту О, а для другого направления намагниченности доменов пропускание будет соответствовать коэффициенту 1.Объектив преобразования фурье формирует в своей второй фокальной плоскости поле комплексной амплитуды света, соответствующее двумерному Фурье-образу.Для того, чтобы поле комплексной амплитуды света на считывающей линейке Фотоприемника 10 соответствовало...

Номер патента: 532000

Опубликовано: 15.10.1976

Авторы: Бухтиарова, Дьяченко, Жаботинский, Коршунова, Шушпанов

МПК: G01B 9/02

Метки: бесконтактный, геометрических, датчик, размеров, стекловолокна

...отличий устройства, заключающихся в выборе угла наклона плоскости симметрии цилиндрическогоэлемента оптической системы по отношению коси измеряемого волокна.Различия этих вариантов не существенныи сводятся к тому, является ли цилиндрический элемент линзой или зеркалом,Нс существенно также количество примененных цилиндрических элементов и их взаимное расположение.Существенным является лишь взаимное положение плоскости симметрии к оси измеряемого волокна и величина угловой апертуры системы в указанной плоскости,Наблюдаемая интерференционная картинаодинакова в обоих примерах систем полос, отличающихся пространственным периодом, Какпоказывает расчет, указанные системы интерференционных полос содержат информациюо подлежащих измерению...