Способ измерения толщины слоев
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1495641
Авторы: Аграновский, Брандорф, Кизилов, Ямпольский
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ 564 ПУБЛ 1) 4 6 О 1 В 7/06 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИПРИ ГКНТ СССР 8 Й 063 НМ ЩПЯг 1 6.1 аЩ 1 Ц)1(71) Львовский лесотехнический институт (72) Б. А. Аграновский, В. Г. Брандорф, Ю. Н. Кизилов и Ж. А. Ямпольский (53) 620.179.14 (088.8)(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛШИНЫ СЛОЕВ(57) Изобретение относится к неразрушаемому контролю и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий, Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет уменьшения числа операций и регистрации а налогового тока в контуре. Пер вон ач аль но создаются два контура из объединяемых попарно четырех линейных проводников, расположенных на различных расстояниях к преобразователю 8 поля. В полученных контурах возбуждаются электромагнитные поля для двух фиксированных значений токов. По результатам измерений составляется система линейных уравнений, которая разрешается относительно толщины двух слоев. При измерении многослойных объектов первоначально измеряют толщину наиболее удаленного слоя, считая оставшиеся слои за один слой, а затем путем продолжения подобных операций находят величину каждого слоя.1 ил.1495641 10 формула изобретения Составитель Ю. ГлазковРеда кто р Н. Бо бко ва Техред И. Верес Корректор М. ВасильеваЗаказ 4250/39 Тираж 683 ПодписноеВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР3035, Москва, Ж - 35, Раушская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат Патент, г. Ужгород, ул. Гагарина, О 3Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано при измерении толщины многослойных изделий.Целью изобретения является повышение производительности контроля за счет уменьшения числа операций и отказа от регистрации аналогового тока к контуре.На чертеже представлен трехслойный объект.Между слоями 1 - 3 с соответствующими толщинами Т 1 - ТЗ и на поверхности объекта расположены линейные проводни. ки 4 - 7, а на поверхности установлен преобразователь 8 поля. Кроме того, приведены источники 9 и 10 тока.Способ реализуют следующим образом.Образуют пару электрических контуров путем объединения линейных проводников 4, 5 и 6, 7. В каждый из полученных контуров включают источники 9 и 10 тока с напряжением Е 1 и Е 2 соответственно. Затем регистрируют величину Н 1 напряженности поля в месте расположения преобразователя 8 поля. После чего изменяют ток в одном из контуров и регистрируют величину поля Н 2.Решая систему уравнений для неизвестных расстояний 1 г и 1 з, по полученным значениям Н и Нг вычисляют значения расстояний 1 г и Ь, если известны величины конструктивный размер преобразователя 14 и 1 суммы и общей толщиы 1 объекта, которые определены заранее. Затем из равенств определяют толщины словТ 1=1 - 1 г; Т 2=1 г - 1 з, Т 3=13 - 14Для последовательного измерения толщины каждого из слоев многослойного изделия нумеруют проводники последовательно от наиболее удаленного от преобразователя 8 и описанным способом определяют значения толщин для наиболее удаленного слоя и оставшихся слоев, считая их за один слой, затем аналогичным образом определяют толщину предпоследнего слоя, и так до определения толщины каждого слоя. Способ измерения толщины слоев многослойных изделий с числом слоев п)2, заключающийся в том, что при изготовлении изделия между его слоями и на обеих поверхностях размещают линейные проводники так, чтобы они находились в одной плоскости, размещают накладной индуктивный преобразователь на поверхности изделия, 20 образуют пару электрических контуров путемобъединения попарно четырех линейных проводников, по каждому из контуров пропускают синфазный переменный ток, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, токи пропускают так, что образующиеся магнитные поля синфазны, регистрируют величину напряженности магнитного поля и величины токов, затем произвольно изменяют величину тока в одном из контуров, регистрируют полученные значения напряженности поля и величин токов и по полученному значению определяют толщину слоев между линейными проводниками, последовательно используют все линейные провоники, группируя их по четыре, и определяют толщину всех слоев 35 изделия,
СмотретьЗаявка
4269943, 08.05.1987
ЛЬВОВСКИЙ ЛЕСОТЕХНИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
АГРАНОВСКИЙ БОРИС АЛЕКСАНДРОВИЧ, БРАНДОРФ ВИКТОР ГРИГОРЬЕВИЧ, КИЗИЛОВ ЮРИЙ НИКОЛАЕВИЧ, ЯМПОЛЬСКИЙ ЖОЗЕФ АЛЕКСАНДРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 7/06
Опубликовано: 23.07.1989
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1495641-sposob-izmereniya-tolshhiny-sloev.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ измерения толщины слоев</a>
Предыдущий патент: Устройство для измерения перемещений
Следующий патент: Автоматический гониометр-спектрометр
Случайный патент: Устройство для измерения барометрической высоты