Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах

Номер патента: 149505

Автор: Кричевский

ZIP архив

Текст

:. . 1."":;. ир 11 1 о т,СССР САНИЕ ИЗОБРЕТф+ф Подписная группа97 М. Э. КричевскийЛЕНИЯ ОТСУТСТВИЯ КОНТАКТАРОВОДНИКОВЫХ ДИОДАХ ОСОБ ОПРЕ В ПОЛУМ 656718/26ри Совете Министров СССР Заявлено в Комитет по делам изо26 февраля 1960 г. з ретений и открвггий Опубликовано ий ЛЪ 16 за 1962 г,Бюллетене изобрет Известные способы определения отсутствияиниковых дисдах предполагают обязательную отда, если диоды включены параллельно.Описываемый способ позволяет определять отсутствие контакта в полупроводниковых диодах, включаемых параллельно в электрическую схему, без их отпайки, С этой целью используют разборный трансформатор напряжения.Принципиальная схема проверки диодов по описываемому способу приведена на чертеже.Разборный трансформатор 1 выполнен на разборном сердечнике, на одной половине которого укреплена первичная обмотка, При охватывании магнитопроводом вывода проверяемого диода 2 этот вывод выполняет функцию одного витка вторичной обмотки трансформатора. Если к зажимам 3 подключить источник переменного напряжения, то при замыкании общих выводов 4 и б схемы по образованному замкнутому контуру потечет ток. При этом ток потечет только при условии отсутствия обрыва в испытуемом диоде.Прохождение тока через контур обнаруживают с помощью трансформатора б тока, витком первичной оомотки которого служит провод, згмыкающий общие точки схемь К зажимам 7 вторичной обмотки трансформатора б подключают индикатор, например ооциллограф. Наличие в проверяемых устройствах диодов, включенных параллельно испытуемому, не влияет на точность проверки, поскольку они закорочены проводом, соединяющим выводы 4 и 5. Перенося разборный трансформатор 1 с одного диода на другой, можно испытать па обрыв все параллельно включенные диоды.Описанный способ может найти широкое применение на предприятиях, выпуска 1 ощих массовую продукцию на полупроводниковых диодах.149505 Предмет изоб ретения Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах, включенных параллельно один относительно другого в электрическую схему, по прохождению тока через испытуемый диод, о т л и ч аю щ и й с я тем, что, с целью поверки любого из этих диодов без их отпайки, индуктируют посредством разборного трансформатора напряжение в выводе испытуемого диода, используя этот вывод в качестве вторичной обмотки трансформатора, и определяют исправность диода по току во вторичной обмотке повышающего трансформатора, первичную обмотку которого включают параллельно испытуемому диоду,Составитель Г А. Емельянов Т. П. Курилко Корректор Ю, М, федулова Те Редактор Н, С. Кутафина 1081/ц Объем 0,18 изд. л,Цена 4 коп й при Совете Министров СССР пер., д. 2/6.Формат бум 70 ХТираж 1150изобретений и открытЦентр М. Черкасски Подл, к печ, 10 Х 1 Пг Зак, 8349 ЦБТИ Комитета по делам Москва

Смотреть

Заявка

656718, 26.02.1960

Кричевский М. Э

МПК / Метки

МПК: G01R 31/27

Метки: диодах, контакта, отсутствия, полупроводниковых

Опубликовано: 01.01.1962

Код ссылки

<a href="https://patents.su/2-149505-sposob-opredeleniya-otsutstviya-kontakta-v-poluprovodnikovykh-diodakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах</a>

Похожие патенты