Способ исследования магнитострикции ферритов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Текст
144313 Класс 421 с, 45 вз СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ По)ппсная арупиа172 В. А. Югов и Г, П. Дьяков СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ МАГНИТОСТРИКЦИИ ФЕРРИТОВЗаявлено 10 июля 1959 г. за63386/25 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССРОпубликовано в Бюллетене изобретений2 за 1962 г. Пр сдмет из об р етен ия Способ исследования магнитострикции ферритов, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что тензодатчик, выполненный в виде металлической пленки, наносят непосредственно на поверхность феррита в вакууме, а контакты с пленкой получают выжиганием серебра с последующей припайкой к ним токоподводов. Известны (например, из книги 3, Рузга Электрические тензометры, сопротивления, Госэнергоиздат, 1961 г.) способы исследования магнитострикции ферритов, заключающиеся в применении проволочных и фольговых тензодатчиков.Недостатком этих способов является значительная погрешность, обусловленная наличием подложек и слоев клея, снижающих чувствительность и точность измерения.Предложенный способ лишен указанного недостатка. Сущность изобретения заключается в том, что тензодатчик выполняется в виде металлической пленки, которая наносится непосредственно на поверхность феррита в вакууме, При этом контакты с пленкой обеспечиваются путем выжигания серебра с последующей припайкой к ним токоподводов.На чертеже схематично изображен тензодатчик, выполняемый согласно предложенному способуДатчик состоит из металлической пленки 1, которая наносится в вакууме методом испарения на поверхность феррита 2, Контакт с пленкой обеспечивается путем выжигания серебра 3 с последующей припайкой к нему токоподводов 4, так как сопротивление феррита велико, то согласно данному способу изолирующей подложки не требуется. При этом измерения сопротивления пленки, вызванные магнитострикцией, производятся с помощью обычных приборов. Предлагаемый способ может найти применение в радиолокации, ультроакустике, в практике которых имеет место исследование температурных зависимостей магнитострикций ферритов с определенной точностью.Формат бум. 70)(108/е Тираж 910 ЦБТИ при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6. Типография ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР, Москва, 1 етровка, 14.
СмотретьЗаявка
633816, 10.07.1959
Дьяков Г. П, Югов В. А
МПК / Метки
МПК: G01B 7/16
Метки: исследования, магнитострикции, ферритов
Опубликовано: 01.01.1962
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-144313-sposob-issledovaniya-magnitostrikcii-ferritov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ исследования магнитострикции ферритов</a>
Способ контроля магнитострикции тонкой ферромагнитной пленки
Номер патента: 200773
Опубликовано: 01.01.1967
МПК: G01D 7/06, G01R 33/18
Метки: магнитострикции, пленки, тонкой, ферромагнитной
...ным сигналом датчика из-за са смещения стенок доменов,Создание двух взаимно перпендикулярныхмагнитных полей позволяет исключить влияние смещения стенок доменов.Предлагаемый способ магнитострикции топкой ферромагнитной пленки состоит в том, что в процессе напыления напыляемую на подложку пленку подвергают действию магнитного поля, создаваемого с помощью датчика с двумя взаимно перпендикулярными об мотками, питаемыми токами высокой и разной частоты. При этом напряжение о, питает одну из обмоток датчика, а напряжение с частотой вв - другую обмотку датчика, расположенную под углом 90 к первой обмотке.15 Под действием высокочастотных полей обеихобмоток вектор намагниченности пленки колеблется в плоскости пленки с очень малой...
Способ исследования движения пленки
Номер патента: 259406
Опубликовано: 01.01.1970
Авторы: Всесоюзный, Вышинский, Герман, Жигин, Лазников, Пакушко, Фейст
МПК: G01C 11/02, G03B 43/00
Метки: движения, исследования, пленки
...генератор сдвинутых импульсов ГИС.5 10 15 20 25 30 35 Для известных съемочных аппаратов время покоя пленки близко к 20 лсек. Поэтому временной сдвгп рацпональпо прш 1 ять равным 1 б - 20 лсек для получения меток в конце и начале положенпя покоя.В съемошых аппаратах с быстрым продергиванием пленки время покоя доходит до 37 мсек и целесообразно временной сдвиг довести до 34 мсек.Анализ результатов г:роводптся по проявленной пленке путсх обычных измерений (па микроскопе или по киноэкрану) сдвигов изобракений вспомогательных 1 нониусных) шкал 6, 7 относительно основных 4, 5.Для определения смещений в период транспортирования тот яе тест-объект (фиг. 2) экспонируется при открытом или снятом обтюраторе в той яе последовательпости...
Способ исследования и неразрушающего контроля магнитных пленок
Номер патента: 1065750
Опубликовано: 07.01.1984
Авторы: Кожухарь, Линев, Фурса, Шагаев
МПК: G01N 24/10
Метки: исследования, магнитных, неразрушающего, пленок
...вводятдополнительный образец и располагаютего относительно исследуемого участка пленки на расстоянии магнитногодипольного взаимодействия, равном1-5 толщины исследуемой магнитнойпленки.Дополнительный образец выполнен изоднородной монокристаллической бездефектной магнитной пленки в формедиска с диаметром, меньшим в 2-10раэ размера отверстия связи в резонаторе спектрометра ЭПР,В отличие от известных технических решений,. в которы.; для увеличения пространственного разрешенияиа выделенном элементе" образца локализуют один из 1 резонансных параметров: СВЧ-поле (Н) или поляризующеемагнитное поле (Нз)тто достигается1065750аппаратурными методами предлагае- в резонаторе спектрометра ЭПР, и вы. ьнй способ состоит в.локальном изме- полнен из...
Способ получения 1, 4-бензолдисульфокислоты или 2, 6 нафталиндисульфокислотызаявлено 22 октября 1957 г. за № 58491823 в комитет по делам изобретений и открытий при совете министров ссср
Номер патента: 116975
Опубликовано: 01.01.1958
Авторы: Александер, Действительные, Инофирма, Роберт
МПК: C07C 303/22, C07C 309/28, C07C 309/35
Метки: 4-бензолдисульфокислоты, 58491823, делам, изобретений», комитет, министров, нафталиндисульфокислотызаявлено, октября, открытий, совете, ссср
...конечных продуктов. П р и м е р 1 282 вес. ч. без. водной динатриевой соли 1,3-бензолдисульфокислоты смешивают 43 вес. ч. окиси ртути и полученную смесь нагревают 6 час прн 426 в атмосфере углекислоты под давлением 4 ат,1 ь Реакционную массу экстрагируют водой, полученный экстракт фильтруют и фильтрат пропускают через колонку с активированной катиопообменной смолой для выделения свободной дисульфокислоты Выход тсхписеского продукта до 230 вес, ч,; выход 1,4-изомера - 52",11 теоретического.П р и м е р 2, При нагревании 800 гес. ч динатриепой соли 1,3-оснзолдисульфокислоты в течение 12 час. при 425 в атмосфере углекислоты получают 720 вес, ч. продукта, содержащего 70 - 75% динатриевой соли 1,4-бензолдисульфокислоты, около 5%...
Способ безгрунтового покрытия черпых металлов фарфоровой эмальюзаявлено 13 ноября 1959 г. за № 64381222в комитет по делам изобретений и открытий при совете министров ссср опубликовано в «бюллетене изобретений» № 4 за 1963 г.
Номер патента: 153256
Опубликовано: 01.01.1963
Авторы: Виль, Действительные, Инк, Иностранна, Шипп
Метки: 64381222в, «бюллетене, безгрунтового, делам, изобретений», комитет, металлов, министров, ноября, опубликовано, открытий, покрытия, совете, ссср, фарфоровой, черпых, эмальюзаявлено
...в горячей, а затем в холодной воде, травят в течение 10 - 12 мин в нагретом до 80 - 100 растворе лимонной или гликолевой кислоты. В случае153256 добавок в раствор фосфорной кислоты продолжительность травления сокращается. Затем изделие обрабатывают в течение 8 мин в растворе сернокислого никеля с концентрацией 3 - 18 мг/л при 75 - 80 и кислотностью 3,2 - 3,6, Количество осаждающегося при этом никеля составляет 0,3 - 1,0 г/мз при применении для травления лимонной кислоты и 1,2 - 6 г/мв при применении гликолевой кислоты.Обработанное таким образом изделие промывают в воде, обрабатывают в течение 2 - 15 мин нагретым до 75 - 95 раствором буры и соды (1;2) с общей концентрацией 4 мг/л, вновь промывают в воде, высушивают, наносят слой...
Предыдущий патент: Прибор для измерения деформаций прогиба плоского образца при поперечном изгибе, с целью определения остаточных напряжений
Следующий патент: Ультразвуковой видеодефектоскоп
Случайный патент: Фундамент под оборудование