Отражатель радиоволн

Номер патента: 1334093

Опубликовано: 30.08.1987

Авторы: Вернигоров, Задорин, Лукинский, Серебренников

МПК: G01R 23/00, G01R 25/00

Метки: акустооптический, фазометр-частотомер

...отдифрагировавших и недифрагировавших световых лучей, поступающие намногоэлементный фотоприемник 9.Е, +Е + с 1), (4 2 ЕЕ сов (й де агироволн.мых ра Измен диосигнал интерфейс ординаты та фото ляется ф соответс ениюоль ко элемен- появтоэлек ескии сигнал,ению частоты при 2 ет з нятого сигнала. фазовый сдвиг сигналами можно ижду принимаемыми ерять как разнос 3 ъ = 0,63 мкм,37 = 78,8 мкм)отоприемникае время размер Так,напр Р 50 см, т.е. размер достаточно интерференц У определя в (2) и (4) мер, при - 2 мм, элемента ал. В то онной к тся оги о оси дп У/ тинь е находится ка 2 Р а = ериод интерфеределяетсяитрами пьезоенныйтины о Пространстренционной карасстояниемпреобразователиз выраже ежду ц лиза. Зто прив личени о уров к увона определяе и...

Номер патента: 201721

Опубликовано: 01.01.1967

Автор: Пур

МПК: G01B 11/30, G01B 9/02

Метки: вогнутых, вращения, интерферометр, качества, отражающих, поверхностей

...осуществить ход лучей, при котором выпуклая параболическая поверхность работает как вогнутое 25 параболическое зеркало, фокусируя действительные лучи, падающие, параллельным пучком на параболическую поверхность.Предлагаемый способ позволяет контролировать качество выпуклых, параболических 30 линз только по интерфернционным кольцам,Получение интерференционных полос принципиально невозможнопоэтому определение очень малых:погрешностей затруднено.Описываемый интерферометр применим практически для любой формы второй, поверхности параболической линзы 8 (а, б, в, г). При контроле серии одинаковых линз, например,:выпукло-плоских (в), дополнительную линзу можно выполнить переменной толщины, в виде двух, подвижных клиньев,...

Номер патента: 1101779

Опубликовано: 07.07.1984

Авторы: Гусев, Копытин

МПК: G03H 1/00

Метки: восстановления, записи, изображений, мультиплексной

...экспозициями. При восстановлении записи в (+1) порядке дифракции с помощью плоско- параллельного пучка из канала 11 изображения, записанных диапозити-.вов 6, регистрируются регистратором 9 в плоскости действительного иэображения, находящейся на расстоянии от фотопластинки 7, равном расстоя нию от диффузного рассеивателя 4 до фотопластинки 7 при записи. Много- экспозиционная голографическая ин 1779 4терферограмма локализуется передплоскостью действительного изображения на расстоянии, равном радиусукривизны освещающего диффузныйрассеиватель 4 сходящегося световогопучка, т.е. на расстоянии Ь=-Йфдй/дот плоскости фотопластинки 7, где2 - расстояние от плоскости фотопластинки 7 до плоскости действительного изображения. С помощью целевой...

Номер патента: 1023355

Опубликовано: 15.06.1983

Автор: Аджалов

МПК: G06K 9/46

Метки: изображений, носителе, объектов, признаков, селекции, фоточувствительном

...монохроматического светового потока, модулировании его интенсивности оптической плотностьюИэображения объекта и регистрациирезультирующего светового потока на)фоточувствительный носитель, интегри"руют амплиТуды результирующего светового потока путем его сдвига в плос" якости исследуемого изображения ПО )"закону одномерного Фурье-преобразования а реГистрацию результирующегосветового потока Осуществляю надвижущийся фоточувствительньЙ .Ося"тель.Сущность изобретения поясни в .О 51следующим.При помещении,циапозятиза с некоторым изображением (которое Описывается, как известно, двумеон(зй Функ"цией распределения коэффяцизнаплитудного пропускания) в пучок плос -кой волны монохроматическога светапроведение преобразования при....

Номер патента: 1287087

Опубликовано: 30.01.1987

Авторы: Саамова, Стрежнев

МПК: G02B 5/18

Метки: вогнутая, дифракционная, решетка

...показаны) формирует главные дифракционные максимумы для всех длин падающего излучения. Распределение интенсивности дифрагированного всеми штрихами вогнутой решетки излучения между главными максимумами определяет положение максимума концентрации энергии 1При выполнении угла М в соответствии с выражением (1) положение Л максимума концентрации энергии, определяемое отражением от всех штрихов решетки, совпадает с заданным )положением, т. е. 3= ) .Кривая 7 (фиг,2) характеризует распределение относительной интенсивности 1 в зависимости от длиныволныпадающего излучения для решетки, имеющей постоянный угол блеска, и для центрального штриха известной решетки, Распределение интенсивности от всех штрихов известной решетки показано кривой 8,...