Устройство для макетирования и измерения изогнутых протяженных объектов
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1348629
Автор: Логунов
Текст
СОЮЗ СОВЕТСКИХСОЦИАЛИСТИЧЕСКИХРЕСПУБЛИК 51) 4 В 520 8 гВИЬ ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТ А ВТОРСКОМУ С 8 ИДЕТЕЛЬСТВУ3 и 4 с нанесенными на них отсчетной шкалой 5 и нониусом 6 и уста новочную втулку 7 для крепления нд стыковочной детали. Концевые элементы 1 и 2 соединены подпружиненным гибким звеном 8, нд котором установлены промежугочньц элементы 10, выполненные в виде ско. шенных с одного торца шайб со шкалами 11 на их цилиндрических поверх. ностях. Промежуточные элементы 11 установлены на гибком звене 8 попарно скошенными торцами один к другому. При развороте промежуточных элементов 10 на расчетный угол звено 8 изгибается и макетирует изогнутую часть объекта. Концевые прямолинейные отрезки мдкетир ются телескопическими втулками 3 и 4 концевых лементов 1 и 2. Длина объекта до средней линии определяется из суммы длин к лицевых прямолинейных отрезков, измеренных по шкалам 5 и длины гибкого звена 8.з.п. ф-лы, 1 ил. В ГОСУДФРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ СССРПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАКЕТИРОВА.НИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ ИЗОГНУТЫХ ПРОТЯЖЕННЫХ ОБЪЕКТОВ(57) Изобретение относится к техническимизмерениям. Целью изобретения является повышение надежности макетирования за счетобеспечения большей жесткости макета, атакже расширение технологических возможностей за счет измерения длины среднейлинии изогнутых объектов с прямолинейными кольцевыми отрезками. Устройство состоит из концевых элементов 1 и 2, каждыйиз которых содержит телескопические втулки1348629 д1.(о)рс 1 ццс отц)сится к техницеским и:чс с цичЦль и;(цр(тс ция повышение надеж. нос) и м,кс ти ровд ц ця зд счет обес ццени я б ,1 ьшс и сеткости мдктд, а также рас. ц)црццс гс хцн(огицских ьц)зчожностей за сцс г цчрция длины срсдней линии у цз)гнутых обьсктов с црямолинейнычи коццсцымц огрзкдми.11 д цртжс и обрджецо прдлдгамое ,1 ) И С 1,1.У т)исгво одсржит лва кс)нценых эле- )с и г) 1 и 2, кдж.ый из которых ныполшц и ццлтлско)3 ицских втулок 3 и 4ц,)с цычи ц;1 цих отсцтной шкалой 5 ц)циу ом 6 и устдцс)ноццой втулки 7.1;(ццс вь( э,)мцты 1 и 2 соединены гиб, ч (цц)ч 8. цтяжникс) горс)го с)суп с и,(5)11;1;у Иццй 9 11 д ГцбКОМ ЗН чс ж 1 ксццц,)чц элмс цтдми 1 и " у;1 цн, и ы цоз)1 ож цостьк) поворота друг (цн ц)1,ьцо,руга проч жп)цць(э.чц,1 1(3. 1)(1( ж Гонцыэл 1 цты 11 ныцо,ц- ;)ц 1 сц,(ицлрицскцх шайб с олнич к(11 цц,)ч) п)р,сч, ун дцнлнных попарно ),оц(цц,чи г)рц;)чц лрг к другу. 11 д цц.цц.)рц ких цц) рхцостя; )цдйб (окс)ло (и их 1):1(ц ц,)ц сць )тсцтные шкдль 11.,"( гр и(; цо р,)1)(дс 1 лл к)ци(ч ос)рдзом ,(1,)ц;ои 1 цг 1 кд ) крпитс к црис 1 цсоцоццо) .(с 1 ли, после цгс) иеремцецим г,скоцицсски, втулок 3 и 4 мактирут ирч ццсйцыц коисвой отрезок обък 1,11 ч и димцымц поворотами иромж. тцц)1 х н, чсцн(1 мг) ктир(т 51 и(01 н 1 й ц о)( )11,кг;1, прием (рб) сцыи угол изгиба объекта обеспечивается за счет поворота промежуточных элементов 10 по шкалам 11 на расчетные углы. Заклюцительным действием является макети.5 рование при помощи телескопических втулок 3 и 4 на втором концевом элементе другого концевого прямолинейного отрезка, после чего с учетом длин концевых отрезков и изогнутого участка с известной длиной )ибкого звена определяется длина обьекта по его средней линии. 15 1. Устройство для макетирования и измерения изогнутых протяженных объектов, одерждцее лнд концевых элемента, связан.цые между собой подпружиненным (ибким звцом, и промежуточные элементы, установленные на гибком звене между конце ными элементами с возможностью поворотадруг относительно друга в двух взаимно перпендикулярных направлениях, отличающеес(г тем, цто, с целью понышения цалежцсти, промежуточные элементы выполнены в виде цилиндрических шайб с одним скопццым торцом, имею(цих отсцетные шкалы цд их цилиндрических поверхностях около обсих торцов и установленных попарно сксшеннычи торцами навстречу друг другу.2 Устройство цо п. 1, отличающееся тем,цп, целью расширения технологических возможностей, концевые элементы выполнены глскоцицескими и имеют отсцетцые П)КД,1 Ы.
СмотретьЗаявка
4072468, 06.06.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ В-2775
ЛОГУНОВ ЛЕОНИД ПЕТРОВИЧ
МПК / Метки
МПК: G01B 5/20
Метки: изогнутых, макетирования, объектов, протяженных
Опубликовано: 30.10.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1348629-ustrojjstvo-dlya-maketirovaniya-i-izmereniya-izognutykh-protyazhennykh-obektov.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Устройство для макетирования и измерения изогнутых протяженных объектов</a>
Устройство для измерения линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами
Номер патента: 966491
Опубликовано: 15.10.1982
Авторы: Волков, Герасимов, Ларионов, Мичков, Склянкин
МПК: G01B 11/02
Метки: дифракционными, линейных, объектах, плоских, размеров, структурами, тестовыми, формы, элементов
...фотоприемник установлен с возможйостью поворота вокруг точки пересечения оптической оси и базовой плоскости держателя объекта измерения, плоскость входного окна фотоприемника расположена по касательной к траектории его перемещения.На чертеже изображена принципиальная схема устройства для измерения линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами.Устройство содержит последонательно расположенные на оптической оси источник 1 когерентного света, например квантовый генератор, первую лин 30 зу 2, апертурную диафрагму 3, вторую линзу 4, третью линзу 5, фото" приемник 6 с блоком 7 управления и обработки сигнала и держатель 8 объекта 9 измерения. Фотоприемник б 35 установлен с возможностью...
Устройство для измерения линейных размеров и формы элементов на плоских объектах с дифракционными тестовыми структурами
Номер патента: 1504497
Опубликовано: 30.08.1989
МПК: G01B 11/02
Метки: дифракционными, линейных, объектах, плоских, размеров, структурами, тестовыми, формы, элементов
...света с помощью зеркала 2 световой пучок направляется насистему 3 формирования пучка, которая формирует в плоскости держателя5 на объекте 17 измерения луч света с.равномерно распределенной интенсив ностью, Каждый модуль (кристалл) объекта 17 измерения содержит тестовую дифракционную решетку, составленную из элементов, подлежащих измерению,Отражаясь от полупрозрачного зеркала 4, световой пучок проходит через диафрагму 7 в эллиптическом зеркале 6 и нормально падает на базовую поверхность держателя 5 объекта измерения, При попадании пучка на тестовую дифракционную структуру в плоскости, перпендикулярной штрихам структуры и базовой плоскости держателя 5, формируется дифракционное изображение структуры,...
Устройство для выделения элементов изображения подвижных объектов
Номер патента: 1791833
Опубликовано: 30.01.1993
Авторы: Бессонов, Папуловский, Сведе-Швец
МПК: G06K 9/36
Метки: выделения, изображения, объектов, подвижных, элементов
...для выделения элементов изображений подвижных объектов содержит первый 1, второй 2 О-триггеры, элемент ИСКЛЮЧАЮЩЕЕ ИЛИ 3, элемент ИЛИ, первый 5 и второй б элементы И, Информационный вход О ячейки подключен к О-хводам О- триггеров 1, 2 и к второму входу первого5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 жения в течение такта работы Процесс распространения импульсов происходит ва время действия тактового импульса, действуащега либо на второй, либо на третий управляющие входы ячейки, Между та кто вы ми импульсами и Гнисходит элемента И 5, Группа входов ячейки Ч 1, Ч 2, ЧЗ, Ч 4 подключена соответственно к второму, третьему, четвертому и пятому входу элемента ИЛИ 4, Первый выход ячейки Ч подклочен к выходу элемента И 5 и к первому входу второго...
Устройство для селекции элементов контура изображений объектов
Номер патента: 1793450
Опубликовано: 07.02.1993
Авторы: Битно, Михеев, Седякин
МПК: G06K 9/36
Метки: изображений, контура, объектов, селекции, элементов
...частоты сигналаТИ. ТИ на первом выходе генератора 12 принимает значение логического "О",На выходе первого сумматора 5 формируются суммарные сигналы Г 6= Б 1+ Б 2+ БЗ+ Б 4 и Гв = В 1 + В 2 + ВЗ + В 4 (фиг, 6),поступающие поочередно с первого и второго блоков 3 и 4 задержки в разные полутакты сигнала ТИ.Выходной сигнал А элемента 11 задержки поступает на вход третьего разряда третьего регистра 10, на входы первых двух разрядов которого подается сигнал логического "0", что соответствует умножению сигнала А на четыре, Запись в регистр 10 осуществляется Сигналом с удвоенной частотой 2 ТИ с третьего выхода генератора 12 (фиг. 5).На выходе регистра 10 формиоуется сигнал Д(фиг, 6), который поступает на вход второго сумматора 6 вместе с...
Устройство для активного демпфирования упругих колебаний элементов конструкции вращающегося объекта
Номер патента: 1134927
Опубликовано: 15.01.1985
Авторы: Аньшаков, Майборода, Мануйлов
МПК: G05B 11/00
Метки: активного, вращающегося, демпфирования, колебаний, конструкции, объекта, упругих, элементов
...элемента несовпадения.На фиг. 1 и 2 обозначены: блок исполнительных органов 1, объект управления, состоящий из собственно объекта 2, демпферов 3 и упругих элементов 4, датчик угловой . скорости 5, дифференцирующий блок , б, источник постоянного напряжения 7, инвертор 8, ключи 9, 10, сумматор 11, элемент несовпадения 12, дифференцирующий блок 13, ключ 14, формирователь модуля сигнала 15, релейный элемент 1 б, блок выделе: ния максимального значения сигнала 17, компаратор 18, источник постоянного напряжения 19, блок 20 управления исполнительными органами, амплитудный детектор 21, ключ 22, запоминающий элемент 23,.генератор импульсов дискретизации 24, элементы И 25 и 2 б, релейные элементы4 27, 28, элементы И 29, 30, элемент ИЛИ 31.Работа...
Предыдущий патент: Измерительное устройство к автомату для контроля роликов
Следующий патент: Устройство для измерения длин и углов
Случайный патент: Валок прошивного стана