Способ подготовки металлического образца для микроскопии
Похожие патенты | МПК / Метки | Текст | Заявка | Код ссылки
Номер патента: 1318840
Автор: Козявина
Текст
(54) СП ОБРАЗЦА (57) Из ванию и лических УДАРСТВЕННЫИ НОМИТЕТ СССРДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ(56) Бернштейн М.Л.Металловедение и тека стали. Справочнигия, 1983, т, 1, с.Там же, с, 18,СОБ ПОДГОТОВКИ МЕТАЛЛИЧ О ДЛЯ МИКРОСКОПИИбретение относится к исследоверхностной структуры метал- образцов с помощью микроскопа. Цель - повышение качества исследуемой поверхности путем устраненияканавки в сплаве у кромок исследуемого образца. Устранение канавки достигается тем, что между исследуемым образцом и охлаждающей жидкий сплав Вуда подложкой перед его заливкой в полость обоймы, в которой размещаетсяобразец, располагают прокладку изтонколистового теплоизоляционного материала, инертного по отношению красплавленному сплаву Вуда и не подвергающемуся плоскостному короблениюпри температуре расплава. Таким требованиям полностью отвечает прокладкаиз картона. 1 э.п. ф-лы, 1 табл.1318840 Материал, применяемыйв качестве прокладки Толщина, Характеристика исслемм дуемой поверхности1,5 Оргстекло Неудовлетворительная,наличие канавки у кромки образца Неудовлетворительная,наличие канавки, растрескивание стекла Оконное стекло Слабые следы канавки укромки образца Древесный шпон Бумага 0,13 То же",2 Бумага фильтровальнаяКартон 1,0 Канавка отсутствует ВНИИПИ Заказ 2500/34 Тираж 77 бПодписное Произв,-полигр. пр-тие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4 Изобретение относится к исследованию поверхностной структуры шлифовметаллических образцов с помощью микроскопа и может быть использовано вкачестве способа подготовки образцовдля микроскопии,Цель изобретения - повышение качества исследуемой поверхности путемустранения образования канавки всплаве у кромок образца.Способ осуществляют следующим образом.На металлическую подложку в видеплиты кладут теплоизоляционную прокладку из картона толщиной 1 мм илифильтровальной бумаги, сложенной в2-3 слоя, На прокладке размещают образец исследуемой поверхностью вниз,а затем - металлическую цилиндрическую обойму таким образом, чтобы образец располагался в ее полости. Полость обоймы заливают расплавленнымсплавом Вуда и выдерживают некотороевремя для его затвердевания. Образец,готовый к работе, подвергают затемшлифованию в обойме. У краев залитоготаким способом образца канавка отсутствует,Данные исследований возможностииспользования в качестве прокладкигруппы материалов сведены в таблицу.Из таблицы видно, что применяемыйв качестве прокладки тонколистовой материал должеН быть инертен по отношению к расплаву, не подвергатьсяплоскостному короблению при температуре расплава и иметь значительноменьшую теплопроводность, чем материал подложки. Явными преимуществамиперед другими материалами обладаеткартон,10 Формула изобретения 1. Способ подготовки металлического образца для микроскопиизаключающийся в установке образца на горизонтальной подложке в полой обоймеи последующей заливке ее полости расплавом легкоплавкого сплава с выдерккой для затвердевания, о т л и ч а -ю щ и й с я тем, что, с целью повы шения качества исследуемой поверхности путем устранения образования канавки в сплаве у кромок образца, заливку осуществляют после установкимежду образцом и подложкой прокладки 25из танколистового материала, инертного по отношению к расплаву с меньшей теплопроводностью, чем материалподложки, и неподвергающегося плоскостному короблению при температуреплавления спчава.2. Способ по п.1, о т л и ч а ющ и й с я тем, что в качестве прокладки используют картон.
СмотретьЗаявка
4006381, 07.01.1986
ПРЕДПРИЯТИЕ ПЯ А-1872
КОЗЯВИНА ГАЛИНА ДАНИЛОВНА
МПК / Метки
МПК: G01N 1/28
Метки: металлического, микроскопии, образца, подготовки
Опубликовано: 23.06.1987
Код ссылки
<a href="https://patents.su/2-1318840-sposob-podgotovki-metallicheskogo-obrazca-dlya-mikroskopii.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентов СССР">Способ подготовки металлического образца для микроскопии</a>
Способ эйзнера-кошелева определения качества обработки поверхности образца
Номер патента: 1213349
Опубликовано: 23.02.1986
МПК: G01B 21/30
Метки: качества, образца, поверхности, эйзнера-кошелева
...(этгя я кд(ге)ьнЦя я ах )с 1)(тецяБ кропзг ейте 3 который Бинтом -( (среи.ггсл к с.(о се 5( Ус гацог)лгцтной .:аштативе 6:СЯП)ХИ МаСЛа ПОСТ ДЕйС.тБИЕМ СИЛЬ т 5- ЖЕСТИ СКЯТЫБЯ 1 ОТС 51 р (ЭЯСТЕКЬ.ЯСЬ ПО ПО верхности образца. Подачу кгцель мас ла цэ ХИРрной хсяпельнгтц( 2 .-1 Я гговерхность образца проводят до тех ттор) ПОКЯ МВСЛО 9 Преодо)(ев СИЛЫ ПОЕ Р)х(.ос. с-. НОГО НаГ 5 тжетХЧЯ т "Р (ЯЧНРТ КДГ а(1 Ь Обрязця Б мерт)тХО метгэурхсуУго)1 наклона н(-.пьшуемых ОбразцовИ РЯССТОЯНИР, КОТОРОЕ Чт)О) ОДИТ тс.ХГЛя ОТ ТОЧКИ СОПРХХГСОЦог)ЕЦХ 1 Я С: ОБ ЕРХ"ностью до края образца, Б любам Опыте/для образттов одинаковой толщигц:т, Я. -Л 5 БОТСЯ ВЕЛИЧИНЯМИ ГтОСТОЯННЫМ(т.ПО 1)язнице Объетгов масла. ггогтя(го" г 0 на 06 Оаз ец из мегэцои капель...
Способ определения качества обработки поверхности образца
Номер патента: 1562834
Опубликовано: 07.05.1990
Авторы: Калиберда, Кучеренко, Спольник, Чегорян
МПК: G01B 21/30, G01N 27/82
Метки: качества, образца, поверхности
...кусочки диамагнитной липкой ленты (не показана), Таким образом отделяют порошок от образца. Кусочки с порошком помещают поочередно в спектрометр ЭПР й измеряют интенсивность линии ЗПР. Интенсивность линии однозрачно характеризует качество по,верхности образцов. 10П р и м е р. Испытания эффективности предлагаемого способа проводились на образцах из алюминия размером 1 О х 5 х 1 мм, Испытуемые образцы были разделены на три серии.Первая серия образцов (точка 5 нафиг.2) подвергалась обработке на шлифовальной бумаге с размером зерна20 мкм, вторая (точка 6, фиг.2) обрабатывалась на шлифовальной бумаге с 20размером зерна 7 мкм, третья (точка7 на фиг.2) электрополировалась,После обработки образцы укладывались на предметный столик,...
Способ определения качества обработки поверхности образца
Номер патента: 1725107
Опубликовано: 07.04.1992
Авторы: Волчок, Калиберда, Спольник, Чегорян
МПК: G01N 27/82
Метки: качества, образца, поверхности
...Изобретение относится к измерительной технике, может использоваться при анализе поверхностей, преимущественно формирующихся при механической обработке, и является усовершенствованием изобретения по авт.св. 1562834,Известен способ определения качества обработки поверхности образца, заключающийся в том, что наносят порошок из пара- магнитного материала на исследуемую поверхность образца, установленного под углом к горизонтали, извлекают оставшийся порошок с помощью диамагнитной липкой ленты и определяют количество оставшегося порошка путем измерения интенсивности линии электронного парамагнитного резонанса (ЭПР).Недостатком способа является невысокая точность определения качества поверхности образцов, шероховатость которых изменяется по...
Устройство для определения качества обработки поверхности образца по показателю “маслоемкость
Номер патента: 1357715
Опубликовано: 07.12.1987
МПК: G01B 21/30
Метки: качества, маслоемкость, образца, поверхности, показателю
...фототока 15 ат, и начального веса Р образцаЗапись начального веса Р, в блок6 происходит при взаимодействии подвижного, относительно стойки 9, пред-.метного столика 4 с помещенным нанего образцом с весоизмерительнымблоком 5. Сигнал, соответствующийначальному весу Р, с выхода блока5 поступает на вход блока 6, где определяется реальное цифровое значение Р,.На втором этапе измерения по команде с блока управления (не показан) открывается заслонка емкости 1и масло подается на измеряемую поверхность образца. Капли масла поддействием силы тяжести скатываются,растекаясь по поверхности образца,Подача капель масла из емкости 1 наповерхность образца проводится до З 5 тех пор, пока масло, преодолев силыповерхностного натяжения, не начинает...
Стенд для контроля качества плоских поверхностей материалов
Номер патента: 624154
Опубликовано: 15.09.1978
Автор: Тиунов
МПК: G01N 27/62
Метки: качества, плоских, поверхностей, стенд
...19тока.По существу двухполюсник 2, резистор 3, емкость 4, реле 5 и б и электромагнит 7 составляют блок программного управления.Для подготовки стенда к работе5йеобходимо перевести спаренный ключ20 в верхнее положение так, чтобы онзамыкал цепь питания реле 5 и 6 ицепь заряцки накопительного конденсатора 9. Необходимо также привести в Юсопрйкосновение нижнюю плоскость диэлектрической обоймы 15 и заряжанхцийэлектрод 17 с помощью подпружиненного рычага с контролируемой поверхностью 21. )5Напряжение источника 8 питания заряжает конденсатор 9, Положительныйпотенциал с обкладки конденсатора 9заряжает электрод 17 и при приведении его в соприкосновение с исследуемой поверхностью с помощью подпружиненного рычага передает заряд...
Предыдущий патент: Способ выявления нейронов при люминесцентной микроскопии
Следующий патент: Устройство для смены фотоматериала
Случайный патент: Способ подводной сварки лежачим электродом