Козявина

Номер патента: 1318840

Опубликовано: 23.06.1987

Автор: Козявина

МПК: G01N 1/28

Метки: металлического, микроскопии, образца, подготовки

...4 Изобретение относится к исследованию поверхностной структуры шлифовметаллических образцов с помощью микроскопа и может быть использовано вкачестве способа подготовки образцовдля микроскопии,Цель изобретения - повышение качества исследуемой поверхности путемустранения образования канавки всплаве у кромок образца.Способ осуществляют следующим образом.На металлическую подложку в видеплиты кладут теплоизоляционную прокладку из картона толщиной 1 мм илифильтровальной бумаги, сложенной в2-3 слоя, На прокладке размещают образец исследуемой поверхностью вниз,а затем - металлическую цилиндрическую обойму таким образом, чтобы образец располагался в ее полости. Полость обоймы заливают расплавленнымсплавом Вуда и выдерживают...