Приспособление для устранения коробления фильмов

Номер патента: 1747895

Опубликовано: 15.07.1992

Авторы: Богомолов, Борейко, Еськов, Захаренков, Линский, Образцов, Подоба, Серегин, Фирсов

МПК: G01B 21/00

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения

...зеркала10 и 11, возвратный отражатель 21, прямаяреперная,линия 22 в поле зрения интерферометра.На фиг.4 показаны пробные стекла иконтролируемые поверхности при значительных отклонениях радиусов кривизныпробных стекол от номинального значения,вид сверху: пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22. На фиг,5 показаны пробные стекла и контролируемые поверхности, размещенные на общей раме, при смещении интерферометра из центра кривизны поверхностей сравнения, вид сверху; пробные стекла б - 8, контролируемые зеркала 10 и 11, жесткая рама 9, возвратный отражатель 21, прямая реперная линия 22.На фиг.б приведен пример реализации способа с наклонной осью интерферометра при...

Номер патента: 1328172

Опубликовано: 07.08.1987

Авторы: Лего, Макрушин, Мирющенко, Порфильев

МПК: B24B 39/00

Метки: давления, детали, инструмента, кривизны, переменным, поверхность, радиусом, силы

...режима обработки. Детали задается вращение и платформой 2 подводится инструмент 6 к поверхности детали 10. Исполнительным механизмом 3 создается необходимое давление инструмента 6 на обрабатываемую поверхность детали. Включается автоматическая подача платформы 2 и начинается обработка детали, в процессе которой сигналы от датчиков 8 и 9 поступают на сумматор 11 и блок 12 вычитания. Из сумматора 11 суммированный сигнал поступает во второй сумматор 13, а из блока 12 вычитания разностный сигнал поступает на блок 16 модуля, с выхода которого на вход корректирующего блока 17 поступает сигнал, равнныи абсопютной "сличине сигнала, поступившего на вход блока 16 модуля.В корректирующем блоке 17 сигнал корректируется на определенную величину и...

Номер патента: 1449842

Опубликовано: 07.01.1989

Автор: Бакеркин

МПК: G01B 11/27

Метки: детали, кривизны, оптической, поверхности, радиуса, сферической

...образом. 20По ходу излучения за объективом 1устанавливают измеряемую деталь 2так, что излучение, выходящее из объектива 1, фокусируется в вершину 0измеряемой детали 2. При этом опреде 25лявт положение А детали 2. Затем деталь 2 смещают вдоль оптической осиобъектива 1 до тех пор, пока излучение, выходящее из объектива 1, послеотражения от поверхности измеряемои30детали 2 не сфокусируется в центркривизны С поверхности объектива 1,обращенной к измеряемой детали 2, иопределяют положение А детали 2.Точность фокусировки в обоих случаяхопределяется по резкому изображениюсетки микроскопа или соответствующейкартине в интерферометре, выходнымоптическим элементом которых является объектив 1. Определив разность заФиксированных отсчетов в...

Номер патента: 1670390

Опубликовано: 15.08.1991

Авторы: Бубис, Долик, Образцов, Подоба, Серегин, Федина

МПК: G01B 11/24, G01B 9/02

Метки: интерферометра, кривизны, оптических, поверхностей, помощью, радиусов, сравнения, сферических

...пластинку 5 рассеивается, образуя расходящийся рабочий пучок, который освещает образцовое зеркало 6 и контролируемые зеркала 7 и 8. Отразившись от всех зеркал, рабочий пучок возвращается к рассеивающей пластинке 5, проходит через нее и интерферирует с опорной сферической волной. Интерферометр 1 перемещают к центру кривизны образцового зеркала до появления на его поверхности прямых интерференционных полос, Подвижками контролируемых зеркал 7 и 8 выравнивают длины хода опорного пучка и частей рабочего пучка для каждой поверхности до появления на всех поверхностях в белом свете интерференционных полос максимально возможного контраста с одинаковой частотой и ориентацией. После этой операции контролируемые поверхности пересекают...

Номер патента: 510637

Опубликовано: 15.04.1976

Автор: Кузнецов

МПК: G01B 5/245, G01B 5/25

Метки: гнезд, двух, общей, оси, отверстий, относительно, поверхностей, погрешности, посадочных, расположения

...и цилиндрического отверстия. Такое исполнение не препятствует ни повороту оправки относительно20 узла базирования, ни смещению последней,Второй сферический шарнир выполнен в виденаправляющей втулки 6 и двух цилиндрических скалок 10 и 11, соединенных упругойперемычкой 12, ограниченной поверхностью25 вращения. Такое исполнение не препятствуетповороту оправки относительно узла базирования вокруг осей, перпендикулярных оси оправки 3, но препятствует осевому смещениюи относительному повороту вокруг оси оп 30 равки.рам 86 аказ 1115/1 г, о 128 ИИП одпвсно гаог Гафгга, гр. Сазоаа Узел измерения выполнен в виде измерителя 7 линейных перемещений, корпус которого закреплен в направляющей втулке б, и подвижного относительно направля ошей втулки...